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ItalianoMETRA, CECILIA
Dettaglio
METRA, CECILIA
DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA DELL'ENERGIA ELETTRICA E DELL'INFORMAZIONE "GUGLIELMO MARCONI"
Docenti di ruolo di Ia fascia
Pubblicazioni
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| Titolo | Autore(i) | Anno | Periodico | Editore | Tipo | File | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 10th IEEE International On-Line Testing Symposium | M. Nicolaidis; J.P. Teixeira; R. Leveugle; C. Metra | 2004 | 7.12 Attività espositiva:Mostra o Esposizione | - | ||
| 2 | 11th IEEE International On-Line Testing Symposium | M. Nicolaidis; L. Anghel; C. Metra; K. Roy | 2005 | 7.12 Attività espositiva:Mostra o Esposizione | - | ||
| 3 | 12th IEEE International On-Line Testing Symposium | C. Metra; M. Nicolaidis; R. Leveugle; R. Aitken | 2006 | 7.12 Attività espositiva:Mostra o Esposizione | - | ||
| 4 | The 2019 IEEE Computer Society: Hit Target on Member Satisfaction and Technical Excellence | c. Metra | 2019 | COMPUTER | 1.04 Replica / breve intervento (e simili) | - | |
| 5 | The 2019 IEEE Computer Society: Hit Target on Member Satisfaction and Technical Excellence | Metra, c. | 2019 | COMPUTER | 1.01 Articolo in rivista | - | |
| 6 | 20th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems | R. Aitken; C. Metra; N. Park; H. Ito | 2005 | 7.12 Attività espositiva:Mostra o Esposizione | - | ||
| 7 | A Novel Dual-Walled CNT Bus Architecture with Reduced Cross-Coupling Features | J.M. Cazeaux; D. Rossi; C. Metra; F. Lombardi | 2006 | C. Lau, D. Janes, S. Bandyopadhyay, M. Cahay | 4.01 Contributo in Atti di convegno | - | |
| 8 | AC/DC FAULT TOLERANT CODE | R.P. KLEIHORST; A.K. NIEUWLAND; C. METRA; V.E.S. Van DIJK | 2004 | 6.01 Brevetto | - | ||
| 9 | Accurate Linear Model for SET Critical Charge Estimation | D. Rossi; J.M. Cazeaux; M. Omaña; C. Metra; A. Chatterjee | 2009 | IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS | 1.01 Articolo in rivista | - | |
| 10 | ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems | C. Metra | 2014 | ACM TRANSACTIONS ON DESIGN AUTOMATION OF ELECTRONIC SYSTEMS | 8.01 Ruolo editoriale in rivista | - | |
| 11 | Analysis of the Impact of Bus Implemented EDCs on On-Chip SSN | D. Rossi; C. Steiner; C. Metra | 2006 | D. Sciuto, G. Gielen | 4.01 Contributo in Atti di convegno | - | |
| 12 | Are Our Design For Testability Features Fault Secure ? | C. Metra; T. M. Mak; M. Omaña | 2004 | G. Gielen, J. Figueras | 4.01 Contributo in Atti di convegno | - | |
| 13 | Can Clock Faults Be Detected Through Functional Test ? | C. Metra; D. Rossi; M. Omaña; J.M. Cazeaux; TM Mak | 2006 | B. Straube, O. Novak | 4.01 Contributo in Atti di convegno | - | |
| 14 | Checker No-Harm Alarm Robustness | D. Rossi; M. Omaña; C. Metra; A. Pagni | 2006 | C. Metra, M. Nicolaidis, R. Aitken, R. Leveugle | 4.01 Contributo in Atti di convegno | - | |
| 15 | Checker No-Harm Alarms and Design Approaches to Tolerate Them | Daniele Rossi; Martin Omaña; Cecilia Metra | 2008 | JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING | 1.01 Articolo in rivista | - | |
| 16 | Clock Faults Induced Min and Max Delay Violations | D. Rossi; M. Omaña; J. M. Cazeaux; C. Metra; TM. Mak | 2014 | JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING | 1.01 Articolo in rivista | - | |
| 17 | Coding Techniques for Low Switching Noise in Fault Tolerant Busses | A. K. Nieuwland; A. Katoch; D. Rossi; C. Metra | 2005 | C. Metra, K. Roy, L. Anghel, M. Nicolaidis | 4.01 Contributo in Atti di convegno | - | |
| 18 | Concurrent Detection of Faults Affecting Energy Harvesting Circuits of Self-Powered Wearable Sensors | M. Omaña; M. Marzencki; R. Specchia; C. Metra; B. Kaminska | 2009 | D. Gizopoulos, M. Tehranipoor, S. Tragoudas | 4.01 Contributo in Atti di convegno | - | |
| 19 | Configurable Error Control Scheme for NoC Signal Integrity | D. Rossi; P. Angelini; C. Metra | 2007 | M. Nicolaidis, A. Paschalis | 4.01 Contributo in Atti di convegno | - | |
| 20 | Cryptanalysis of Simplified-AES Encrypted Communication | Vimalathithan, R.; Rossi, D.; Omana, M.; Metra, C.; Valarmathi, M. L. | 2015 | INTERNATIONAL JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND INFORMATION SECURITY | 1.01 Articolo in rivista | - |
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