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EnglishMETRA, CECILIA
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| Titolo | Autore(i) | Anno | Periodico | Editore | Tipo | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | Won't On-Chip Clock Calibration Guarantee Performance Boost and Product Quality? | C. Metra; D. Rossi; TM Mak | 2007 | IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS | 1.01 Articolo in rivista | |
| 2 | Welcome Message from the Chairs | G. Baccarani; F. Lombardi; A. DeHon; C. Metra | 2008 | G. Baccarani, F. Lombardi, A. DeHon, C. Metra | 2.04 Breve introduzione | |
| 3 | Welcome Message | C. Metra; R. Leveugle; M. Nicolaidis; J. Teixeira | 2004 | C. Metra, R. Leveugle, M. Nicolaidis, J. Teixeira | 2.04 Breve introduzione | |
| 4 | Welcome | M. Nicolaidis; C. Metra; L. Anghel; K. Roy | 2005 | C. metra, K. Roy, L. Anghel and M. Nicolaidis | 2.04 Breve introduzione | |
| 5 | Welcome | C. Metra; M. Nicolaidis; R. Leveugle; R. Aitken | 2006 | C. Metra, M. Nicolaidis, R. Leveugle, R. Aitken | 2.04 Breve introduzione | |
| 6 | Transient Fault and Soft Error On-Die Monitor | D. Rossi; M. Omaña; C. Metra | 2010 | G. Chapman, F. Salice, H. Ito, S. Tragoudas | 4.01 Contributo in Atti di convegno | |
| 7 | Transactions on Computers | J. C. Lo; C. Metra; F. Lombardi | 2006 | IEEE | 3.02 Curatela | |
| 8 | TMR voting in the presence of crosstalk faults at the voter inputs | M. Favalli; C. Metra | 2004 | IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY | 1.01 Articolo in rivista | |
| 9 | The Other Side of the Timing Equation: a Result of Clock Faults | M. Omaña; D. Rossi; J. M. Cazeaux; TM. Mak; C. Metra | 2005 | R. Aitken, H. Ito, C. Metra, N. Park | 4.01 Contributo in Atti di convegno | |
| 10 | Testing Reversible One-Dimensional QCA Arrays for Multiple Faults | X. Ma; J. Huang; C. Metra; F. Lombardi | 2007 | C. Bolchini, Y-B Kim, A. Salsano, N. Touba | 4.01 Contributo in Atti di convegno | |
| 11 | Testing Reversible 1D Arrays of Molecular QCA | X. Ma; J. Huang; C. Metra; F. Lombardi | 2006 | N. Park, H. Ito, A. Salsano, N. Touba | 4.01 Contributo in Atti di convegno | |
| 12 | Testing Resistive Opens and Bridging Faults Through Pulse Propagation | M. Favalli; C. Metra | 2009 | IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS | 1.01 Articolo in rivista | |
| 13 | Special Section on Concurrent On-Line Testing and Error/Fault Resilience of Digital Systems | C. Metra; R. Galivanche | 2010 | IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS | 8.01 Ruolo editoriale in rivista | |
| 14 | Simultaneous Switching Noise Analysis: The Relation Between Bus Layout and Coding | D. Rossi; A. K. Nieuwland; C. Metra | 2008 | IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS | 1.01 Articolo in rivista | |
| 15 | Should We Make Our Design for Testability Schemes Fault Secure ? | C. Metra; T. M. Mak; M. Omaña | 2004 | IEEE | 4.01 Contributo in Atti di convegno | |
| 16 | Self-Checking Voter for High Speed TMR Systems | J. M. Cazeaux; D. Rossi; C. Metra | 2005 | JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING | 1.01 Articolo in rivista | |
| 17 | Self-Checking Monitor for NBTI Due Degradation | M. Omaña; D. Rossi; N. Bosio; C. Metra | 2010 | F. Azais, K. Chakrabarty | 4.01 Contributo in Atti di convegno | |
| 18 | Scalable Approach for Power Droop Reduction During Scan-Based Logic BIST | Omaña, Martin; Rossi, Daniele; Fuzzi, Filippo; Metra, Cecilia; Tirumurti, Chandrasekharan Chandra; Galivanche, Rajesh | 2017 | IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS | 1.01 Articolo in rivista | |
| 19 | Risks for Signal Integrity in System in Package and Possible Remedies | D. Rossi; P. Angelini; C. Metra; G. Campardo; G.P. Vanalli | 2008 | P. Girard, Z. Peng | 4.01 Contributo in Atti di convegno | |
| 20 | Risks Associated with Faults within Test Pattern Compactors and Their Implications on Testing | C. Metra; T. M. Mak; M. Omaña | 2004 | s.n | 4.01 Contributo in Atti di convegno |
Nome completo:
METRA, CECILIA
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