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M. Omana, A. Manfredi, C. Metra, R. Locatelli, M. Chiavacci, S. Petrucci (2024). Silent Data Corruption and Reliability Risks due to Faults Affecting High Performance Microprocessors’ Caches. Piscataway, New Jersey : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) [10.1109/IOLTS60994.2024.10616059].

Silent Data Corruption and Reliability Risks due to Faults Affecting High Performance Microprocessors’ Caches

M. Omana
;C. Metra;
2024
2024
Proceedings of the 2024 IEEE 30th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS)
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M. Omana, A. Manfredi, C. Metra, R. Locatelli, M. Chiavacci, S. Petrucci (2024). Silent Data Corruption and Reliability Risks due to Faults Affecting High Performance Microprocessors’ Caches. Piscataway, New Jersey : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) [10.1109/IOLTS60994.2024.10616059].
M. Omana; A. Manfredi; C. Metra; R. Locatelli; M. Chiavacci; S. Petrucci
4.01 Contributo in Atti di convegno
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