CRIS Current Research Information System

Omana, M., Manfredi, A., Metra, C., Locatelli, R., Chiavacci, M., Petrucci, S. (2024). Silent Data Corruption and Reliability Risks due to Faults Affecting High Performance Microprocessors’ Caches. Piscataway, New Jersey : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) [10.1109/IOLTS60994.2024.10616059].

Silent Data Corruption and Reliability Risks due to Faults Affecting High Performance Microprocessors’ Caches

M. Omana
;C. Metra;
2024
2024
Proceedings of the 2024 IEEE 30th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS)
1
6
Omana, M., Manfredi, A., Metra, C., Locatelli, R., Chiavacci, M., Petrucci, S. (2024). Silent Data Corruption and Reliability Risks due to Faults Affecting High Performance Microprocessors’ Caches. Piscataway, New Jersey : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) [10.1109/IOLTS60994.2024.10616059].
Omana, M.; Manfredi, A.; Metra, C.; Locatelli, R.; Chiavacci, M.; Petrucci, S.
4.01 Contributo in Atti di convegno
File in questo prodotto:
File Dimensione Formato  
Silent Data Corruption and Reliability Risks.pdf

Open Access dal 05/08/2025

Tipo: Postprint / Author's Accepted Manuscript (AAM) - versione accettata per la pubblicazione dopo la peer-review
Licenza: Creative commons
Dimensione 934.4 kB
Formato Adobe PDF
Visualizza/Apri
934.4 kB Adobe PDF Visualizza/Apri

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11585/984794
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 2
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 0
social impact