Experimental validation of a new analytical model for the position-dependent Hall voltage in semiconductor devices

RUDAN, MASSIMO;REGGIANI, SUSANNA;GNANI, ELENA;BACCARANI, GIORGIO;
2005

Proceedings of ESSDERC 2005
M. Rudan; S. Reggiani; E. Gnani; G. Baccarani; C. Corvasce; D. Barlini; M. Ciappa; W. Fichtner; M. Denison; N. Jensen; G. Groos; M. Stecher
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