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ItalianoREGGIANI, SUSANNA
Dettaglio
REGGIANI, SUSANNA
DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA DELL'ENERGIA ELETTRICA E DELL'INFORMAZIONE "GUGLIELMO MARCONI"
Docenti di ruolo di Ia fascia
S. Reggian; S. Reggiani; Susanna Reggiani; REGGIANI S.
Pubblicazioni
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| Titolo | Autore(i) | Anno | Periodico | Editore | Tipo | File | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 3D simulation of quantum-wire confining potential for a GaAs/AlGaAs 2DEG heterostructure | A. Marchi; A. Bertoni; S. Reggiani; M. Rudan | 2004 | SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY | 1.01 Articolo in rivista | - | |
| 2 | 3D TCAD modeling of NO2CNT FET sensors | Stefania Carapezzi; Sebastian Eberle; Susanna Reggiani; Elena Gnani; Cosmin Roman; Christofer Hie...rold; Antonio Gnudi | 2018 | Institute of Electrical and Electronics Engineers ( IEEE ) ; Curran Associates | 4.01 Contributo in Atti di convegno | ||
| 3 | A Coherent Extension of the Transport Equations in Semiconductors Incorporating the Quantum Correction: Part I – Single Particle Dynamics | M. RUDAN; E. GNANI; S. REGGIANI; G. BACCARANI | 2005 | IEEE TRANSACTIONS ON NANOTECHNOLOGY | 1.01 Articolo in rivista | - | |
| 4 | A Coherent Extension of the Transport Equations in Semiconductors Incorporating the Quantum Correction: Part II – Collective Transport | M. RUDAN; E. GNANI; S. REGGIANI; BACCARANI G. | 2005 | IEEE TRANSACTIONS ON NANOTECHNOLOGY | 1.01 Articolo in rivista | - | |
| 5 | A comparison of advanced transport models for the computation of the drain current in nanoscale nMOSFETs | P. Palestri; C. Alexander; A. Asenov; V. Aubry-Fortuna; G. Baccarani; A. Bournel; M. Braccioli; B.... Cheng; P. Dollfus; A. Esposito; D. Esseni; C. Fenouillet-Beranger; C. Fiegna; G. Fiori; A. Ghetti; G. Iannaccone; A. Martinez; B. Majkusiak; S. Monfray; V. Peikert; S. Reggiani; C. Riddet; J. Saint-Martin; E. Sangiorgi; A. Schenk; L. Selmi; L. Silvestri; P. Toniutti; J. Walczak | 2009 | SOLID-STATE ELECTRONICS | 1.01 Articolo in rivista | - | |
| 6 | A deterministic solution of the Boltzmann transport equation for a one-dimensional electron gas in silicon nanowires | M. Lenzi; E. Gnani; S. Reggiani; A. Gnudi; M. Rudan; G. Baccarani | 2007 | s.n | 4.01 Contributo in Atti di convegno | - | |
| 7 | A Low-Field Mobility Model for Bulk and Ultrathin-Body SOI p-MOSFETs With Different Surface and Channel Orientations | L. Silvestri; S. Reggiani; E. Gnani; A. Gnudi; G. Baccarani. | 2010 | IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES | 1.01 Articolo in rivista | - | |
| 8 | A Low-Field Mobility Model for Bulk, Ultrathin Body SOI and Double-Gate n-MOSFETs With Different Surface and Channel Orientations—Part I: Fundamental Principles | L. Silvestri; S. Reggiani; E. Gnani; A. Gnudi; G. Baccarani | 2010 | IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES | 1.01 Articolo in rivista | - | |
| 9 | A Low-Field Mobility Model for Bulk, Ultrathin Body SOI and Double-Gate n-MOSFETs With Different Surface and Channel Orientations—Part II: Ultrathin Silicon Films | L. Silvestri; S. Reggiani; E. Gnani; A. Gnudi; G. Baccarani | 2010 | IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES | 1.01 Articolo in rivista | - | |
| 10 | A new approach to the self-consistent solution of the Schroedinger-Poisson Equations in nanowire MOSFETs | E. Gnani; S. Reggiani; M. Rudan; G. Baccarani | 2004 | s.n | 4.01 Contributo in Atti di convegno | - | |
| 11 | A new numerical and experimental analysis tool for ESD devices by means of the transient interferometric technique | S. Reggiani; E. Gnani; M. Rudan; G. Baccarani; S. Bychikhin; J. Kuzmik; D. Pogany; E. Gornik; M. ...Denison; N. Jensen; G. Groos; M. Stecher | 2005 | IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS | 1.01 Articolo in rivista | - | |
| 12 | A new solution method of the 1D open-boundary Schrödinger equation for transport in NW-FETs including band effects | E. Gnani; A. Gnudi; S. Reggiani; M. Rudan; G. Baccarani | 2007 | s.n | 4.01 Contributo in Atti di convegno | - | |
| 13 | A quantum mechanical analysis of the electrostatics in multiple-gate FETs | E. Gnani; S. Reggiani; M. Rudan; G. Baccarani | 2005 | IEEE EDS Japan Chapter | 4.01 Contributo in Atti di convegno | - | |
| 14 | A Quasi-Analytical Model of the Junctionless Nanowire Field-Eect Transistor | E. Gnani; S. Reggiani; A. Gnudi; G. Baccarani | 2011 | s.n | 4.02 Riassunto (Abstract) | - | |
| 15 | A Schroedinger-Poisson Solution of CNT-FET Arrays | A. Marchi; S. Reggiani; M. Rudan | 2005 | IEEE EDS Japan Chapter | 4.01 Contributo in Atti di convegno | - | |
| 16 | An investigation of performance limits of conventional and tunneling graphene-based transist | R. Grassi; A. Gnudi; E. Gnani; S. Reggiani; G. Baccarani | 2009 | JOURNAL OF COMPUTATIONAL ELECTRONICS | 1.01 Articolo in rivista | - | |
| 17 | An Investigation on Effective Mobility in Nano-wire FETs under Quasi Ballistic Conditions | E. Gnani; A. Gnudi; S. Reggiani; G. Baccarani | 2009 | s.n | 4.01 Contributo in Atti di convegno | - | |
| 18 | An investigation on steep-slope and low-power nanowire FETs | E. Gnani; P. Maiorano; S. Reggiani; A. Gnudi; G. Baccarani | 2011 | IEEE Publishing Services | 4.01 Contributo in Atti di convegno | - | |
| 19 | Analysis of HCS in STI-based LDMOS transistors | S. Reggiani; S. Poli; E. Gnani; A. Gnudi; G. Baccarani; M. Denison; S. Pendharkar; R. Wise; S. Se...etharaman | 2010 | IEEE | 4.01 Contributo in Atti di convegno | - | |
| 20 | Analysis of threshold voltage variability due to random dopant fluctuations in junctionless FETs | A. Gnudi; S. Reggiani; E. Gnani; G. Baccarani | 2012 | IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS | 1.01 Articolo in rivista | - |
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