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EnglishROSSI, DANIELE
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| Titolo | Autore(i) | Anno | Periodico | Editore | Tipo | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | Won't On-Chip Clock Calibration Guarantee Performance Boost and Product Quality? | C. Metra; D. Rossi; TM Mak | 2007 | IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS | 1.01 Articolo in rivista | |
| 2 | Transient Fault and Soft Error On-Die Monitor | D. Rossi; M. Omaña; C. Metra | 2010 | G. Chapman, F. Salice, H. Ito, S. Tragoudas | 4.01 Contributo in Atti di convegno | |
| 3 | The Other Side of the Timing Equation: a Result of Clock Faults | M. Omaña; D. Rossi; J. M. Cazeaux; TM. Mak; C. Metra | 2005 | R. Aitken, H. Ito, C. Metra, N. Park | 4.01 Contributo in Atti di convegno | |
| 4 | Simultaneous Switching Noise Analysis: The Relation Between Bus Layout and Coding | D. Rossi; A. K. Nieuwland; C. Metra | 2008 | IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS | 1.01 Articolo in rivista | |
| 5 | Self-Checking Voter for High Speed TMR Systems | J. M. Cazeaux; D. Rossi; C. Metra | 2005 | JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING | 1.01 Articolo in rivista | |
| 6 | Self-Checking Monitor for NBTI Due Degradation | M. Omaña; D. Rossi; N. Bosio; C. Metra | 2010 | F. Azais, K. Chakrabarty | 4.01 Contributo in Atti di convegno | |
| 7 | Risks for Signal Integrity in System in Package and Possible Remedies | D. Rossi; P. Angelini; C. Metra; G. Campardo; G.P. Vanalli | 2008 | P. Girard, Z. Peng | 4.01 Contributo in Atti di convegno | |
| 8 | Resistive Crossbar Switching Networks to Implement Inherently Fault Tolerant Nano LUTs | X. Ma; J. Huang; F. Chiminazzo; D. Rossi; C. Metra; F. Lombardi | 2008 | C. Metra, A. DeHon | 4.01 Contributo in Atti di convegno | |
| 9 | Power droop reduction during Launch-On-Shift scan-based logic BIST | M. Omaña; D. Rossi; E. Beniamino; C. Metra; C. Tirumurti; R. Galivanche | 2014 | 4.01 Contributo in Atti di convegno | ||
| 10 | Power Consumption of Fault Tolerant Busses | Rossi D.; Nieuwland A.K.; van Dijk V.ES.; Kleihorst R.P.; Metra C. | 2008 | IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS | 1.01 Articolo in rivista | |
| 11 | Polynomial Based Key Distribution Scheme for WPAN | R. Vimalathithan; D. Rossi; M. Omaña; C. Metra; M.L.Valarmathi | 2013 | MALAYSIAN JOURNAL OF MATHEMATICAL SCIENCES | 1.01 Articolo in rivista | |
| 12 | Polynomial Based Key Distribution Scheme for WPAN | Vimalathithan R.; D. Rossi; M. Omaña; C. Metra; M. L. Valarmathi | 2012 | s.n | 4.01 Contributo in Atti di convegno | |
| 13 | Path (Min) delay Faults and Their Impact on Self-Checking Circuits' Operation | C. Metra; M. Omaña; D. Rossi; J.M. Cazeaux; TM Mak | 2006 | C. Metra, M. Nicolaidis, R. Aitken, R. Leveugle | 4.01 Contributo in Atti di convegno | |
| 14 | On-Transistor Level Gate Sizing for Increased Robustness to Transient Faults | J. M. Cazeaux; D. Rossi; M. Omaña; A. Chatterjee; C. Metra | 2005 | C. Metra, K. Roy, L. Anghel, M. Nicolaidis | 4.01 Contributo in Atti di convegno | |
| 15 | Novel Low-Cost Aging Sensor | M. Omaña; D. Rossi; N. Bosio; C. Metra | 2010 | N.M. Amato, H. Franke, P.H.J. Kelly | 4.01 Contributo in Atti di convegno | |
| 16 | Novel High Speed Robust Latch | M. Omaña; D. Rossi; C. Metra | 2009 | D. Gizopoulos, M. Tehranipoor, S. Tragoudas | 4.01 Contributo in Atti di convegno | |
| 17 | Novel Approach to Reduce Power Droop During Scan-Based Logic BIST | M. Omaña; D. Rossi; F. Fuzzi; C. Metra; C. Tirumurti; R. Galivanche | 2013 | IEEE Computer Society | 4.01 Contributo in Atti di convegno | |
| 18 | New High Speed CMOS Self-Checking Voter | J. M. Cazeaux; D. Rossi; C. Metra | 2004 | C. Metra, R. Leveugle, M. Nicolaidis, J. Teixeira | 4.01 Contributo in Atti di convegno | |
| 19 | New ECC for Crosstalk Effect Minimization | D. Rossi; A. K. Nieuwland; A. Katoch; C. Metra | 2005 | IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS | 1.01 Articolo in rivista | |
| 20 | Multiple Transient Faults in Logic: An Issue for Next Generation ICs? | D. Rossi; M. Omaña; F. Toma; C. Metra | 2005 | R. Aitken, H. Ito, C. Metra, N. Park | 4.01 Contributo in Atti di convegno |
Nome completo:
ROSSI, DANIELE
Copyright © 2019