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Simulation of Self-Heating Effects in Different SOI MOS Architectures / M. Braccioli; G. Curatola; Y. Yang; E. Sangiorgi; C. Fiegna. - In: SOLID-STATE ELECTRONICS. - ISSN 0038-1101. - STAMPA. - 53:(2009), pp. 445-451. [10.1016/j.sse.2008.09.020]

Simulation of Self-Heating Effects in Different SOI MOS Architectures

BRACCIOLI, MARCO;SANGIORGI, ENRICO;FIEGNA, CLAUDIO
2009
2009
Simulation of Self-Heating Effects in Different SOI MOS Architectures / M. Braccioli; G. Curatola; Y. Yang; E. Sangiorgi; C. Fiegna. - In: SOLID-STATE ELECTRONICS. - ISSN 0038-1101. - STAMPA. - 53:(2009), pp. 445-451. [10.1016/j.sse.2008.09.020]
M. Braccioli; G. Curatola; Y. Yang; E. Sangiorgi; C. Fiegna
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