M. Omaña, D. Rossi, C. Metra (2004). Model for Transient Fault Susceptibility of Combinational Circuits. JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, 20, 501-509 [10.1023/B:JETT.0000042514.37566.6d].

Model for Transient Fault Susceptibility of Combinational Circuits

OMANA, MARTIN EUGENIO;ROSSI, DANIELE;METRA, CECILIA
2004

2004
M. Omaña, D. Rossi, C. Metra (2004). Model for Transient Fault Susceptibility of Combinational Circuits. JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, 20, 501-509 [10.1023/B:JETT.0000042514.37566.6d].
M. Omaña; D. Rossi; C. Metra
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