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S. Reggiani, E. Gnani, M. Rudan, G. Baccarani, S. Bychikhin, J. Kuzmik, et al. (2006). Experimental investigation on carrier dynamics at the thermal breakdown. VIENNA : s.n.

Experimental investigation on carrier dynamics at the thermal breakdown

REGGIANI, SUSANNA;GNANI, ELENA;RUDAN, MASSIMO;BACCARANI, GIORGIO;
2006
2006
International Conference on the Physics of Semiconductors (ICPS-28)
S. Reggiani, E. Gnani, M. Rudan, G. Baccarani, S. Bychikhin, J. Kuzmik, et al. (2006). Experimental investigation on carrier dynamics at the thermal breakdown. VIENNA : s.n.
S. Reggiani; E. Gnani; M. Rudan; G. Baccarani; S. Bychikhin; J. Kuzmik; D. Pogany; E. Gornik; M. Denison; N. Jensen; G. Groos and M. Stecher
4.02 Riassunto (Abstract)
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11585/33335
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