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Experimental investigation on carrier dynamics at the thermal breakdown / S. Reggiani; E. Gnani; M. Rudan; G. Baccarani; S. Bychikhin; J. Kuzmik; D. Pogany; E. Gornik; M. Denison; N. Jensen; G. Groos and M. Stecher. - STAMPA. - 28:(2006). (Intervento presentato al convegno 28th International Conference on the Physics of Semiconductors (ICPS-28) tenutosi a Vienna nel 24-28 July).

Experimental investigation on carrier dynamics at the thermal breakdown

REGGIANI, SUSANNA;GNANI, ELENA;RUDAN, MASSIMO;BACCARANI, GIORGIO;
2006
2006
International Conference on the Physics of Semiconductors (ICPS-28)
Experimental investigation on carrier dynamics at the thermal breakdown / S. Reggiani; E. Gnani; M. Rudan; G. Baccarani; S. Bychikhin; J. Kuzmik; D. Pogany; E. Gornik; M. Denison; N. Jensen; G. Groos and M. Stecher. - STAMPA. - 28:(2006). (Intervento presentato al convegno 28th International Conference on the Physics of Semiconductors (ICPS-28) tenutosi a Vienna nel 24-28 July).
S. Reggiani; E. Gnani; M. Rudan; G. Baccarani; S. Bychikhin; J. Kuzmik; D. Pogany; E. Gornik; M. Denison; N. Jensen; G. Groos and M. Stecher
4.02 Riassunto (Abstract)
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11585/33335
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