Path (Min) delay Faults and Their Impact on Self-Checking Circuits' Operation / C. Metra; M. Omaña; D. Rossi; J.M. Cazeaux; TM Mak. - STAMPA. - 1:(2006), pp. 17-22. (Intervento presentato al convegno 12th IEEE International On-Line Testing Symposium tenutosi a Como, Italy nel 10-12 July, 2006).
Path (Min) delay Faults and Their Impact on Self-Checking Circuits' Operation
METRA, CECILIA;OMANA, MARTIN EUGENIO;ROSSI, DANIELE;
2006
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