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D. Rossi, M. Omaña, F. Toma, C. Metra (2005). Multiple Transient Faults in Logic: An Issue for Next Generation ICs?. LOS ALAMITOS : R. Aitken, H. Ito, C. Metra, N. Park.

Multiple Transient Faults in Logic: An Issue for Next Generation ICs?

ROSSI, DANIELE;OMANA, MARTIN EUGENIO;METRA, CECILIA
2005
2005
Proceedings of 20th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
352
360
D. Rossi, M. Omaña, F. Toma, C. Metra (2005). Multiple Transient Faults in Logic: An Issue for Next Generation ICs?. LOS ALAMITOS : R. Aitken, H. Ito, C. Metra, N. Park.
D. Rossi; M. Omaña; F. Toma; C. Metra
4.01 Contributo in Atti di convegno
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