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Ubaldi F., Pozzi G., Kasama T., McCartney M.R., Newcomb S.B., Dunin-Borkowski R.E. (2010). Interpretation of electron beam induced charging of oxide layers in a transistor studied using electron holography. BRISTOL : IOP Publishing.

Interpretation of electron beam induced charging of oxide layers in a transistor studied using electron holography

UBALDI, FILIPPO;POZZI, GIULIO;
2010
2010
16th. International Conference on Microscopy of Semiconducting Materials
012064
012064-4
Ubaldi F., Pozzi G., Kasama T., McCartney M.R., Newcomb S.B., Dunin-Borkowski R.E. (2010). Interpretation of electron beam induced charging of oxide layers in a transistor studied using electron holography. BRISTOL : IOP Publishing.
Ubaldi F.; Pozzi G.; Kasama T.; McCartney M.R.; Newcomb S.B.; Dunin-Borkowski R.E.
4.01 Contributo in Atti di convegno
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