Enhanced ballisticity in nano-MOSFETs along the ITRS roadmap: A Monte Carlo study

EMINENTE, SIMONE;FIEGNA, CLAUDIO;SANGIORGI, ENRICO
2004

IEDM Technical Digest. IEEE International Electron Devices Meeting, 2004
609
612
S. Eminente; D. Esseni; P. Palestri; C. Fiegna; L. Selmi; E. Sangiorgi
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