CRIS Current Research Information System

Di Mauro, A., Conti, F., Schiavone, P.D., Rossi, D., Benini, L. (2019). Pushing On-chip Memories Beyond Reliability Boundaries in Micropower Machine Learning Applications [10.1109/IEDM19573.2019.8993434].

Pushing On-chip Memories Beyond Reliability Boundaries in Micropower Machine Learning Applications

Conti, Francesco;Rossi, Davide;Benini, Luca
2019
2019
65th Annual IEEE International Electron Devices Meeting, IEDM 2019
30.4.1
30.4.4
Di Mauro, A., Conti, F., Schiavone, P.D., Rossi, D., Benini, L. (2019). Pushing On-chip Memories Beyond Reliability Boundaries in Micropower Machine Learning Applications [10.1109/IEDM19573.2019.8993434].
Di Mauro, Alfio; Conti, Francesco; Schiavone, Pasquale Davide; Rossi, Davide; Benini, Luca
4.01 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11585/728445
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