Pushing On-chip Memories Beyond Reliability Boundaries in Micropower Machine Learning Applications

Conti, Francesco;Rossi, Davide;Benini, Luca
2019

65th Annual IEEE International Electron Devices Meeting, IEDM 2019
30.4.1
30.4.4
Di Mauro, Alfio; Conti, Francesco; Schiavone, Pasquale Davide; Rossi, Davide; Benini, Luca
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