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P. F. Fazzini, P. G. Merli, G. Pozzi, F. Ubaldi (2005). Interference electron microscopy of reverse-biased p-n junctions. BERLIN : Springer.

Interference electron microscopy of reverse-biased p-n junctions

FAZZINI, PIER FRANCESCO;POZZI, GIULIO;UBALDI, FILIPPO
2005
2005
Microscopy of Semiconducting Materials XIV
217
220
P. F. Fazzini, P. G. Merli, G. Pozzi, F. Ubaldi (2005). Interference electron microscopy of reverse-biased p-n junctions. BERLIN : Springer.
P. F. Fazzini; P. G. Merli; G. Pozzi; F. Ubaldi
4.02 Riassunto (Abstract)
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