Interference electron microscopy of reverse-biased p-n junctions / P. F. Fazzini; P. G. Merli; G. Pozzi; F. Ubaldi. - STAMPA. - (2005), pp. 217-220. (Intervento presentato al convegno Microscopy of Semiconducting Materials XIV tenutosi a Oxford nel 11-14 Aprile 2005).
Interference electron microscopy of reverse-biased p-n junctions
FAZZINI, PIER FRANCESCO;POZZI, GIULIO;UBALDI, FILIPPO
2005
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