Analysis of the Impact of Bus Implemented EDCs on On-Chip SSN / D. Rossi; C. Steiner; C. Metra. - ELETTRONICO. - 1:(2006), pp. 59-64. (Intervento presentato al convegno Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition (DATE 2006) tenutosi a Messe Munich, Germany nel 6-10 March, 2006).
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