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P. F. Fazzini, G. Pozzi, F. Ubaldi (2005). Influence of the dopant profile on the phase contrast images of reverse biased p-n junctions. LJUBLIJANA : Slovene Society for Microscopy.

Influence of the dopant profile on the phase contrast images of reverse biased p-n junctions

FAZZINI, PIER FRANCESCO;POZZI, GIULIO;UBALDI, FILIPPO
2005
2005
MCM 2005
283
284
P. F. Fazzini, G. Pozzi, F. Ubaldi (2005). Influence of the dopant profile on the phase contrast images of reverse biased p-n junctions. LJUBLIJANA : Slovene Society for Microscopy.
P. F. Fazzini; G. Pozzi; F. Ubaldi
4.02 Riassunto (Abstract)
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11585/20265
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