Charcaterization of electrical contacts on polycrystalline 3C-SiC thin films / A.Castaldini; A.Cavallini; M.Rossi; M.Cocuzza; C.Ricciardi. - STAMPA. - 483-485(2005), pp. 745-748. ((Intervento presentato al convegno 5th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials tenutosi a Bologna, Italy nel 08/31/2004-09/04/2004.
Titolo: | Charcaterization of electrical contacts on polycrystalline 3C-SiC thin films |
Autore/i: | CASTALDINI, ANTONIO; CAVALLINI, ANNA; ROSSI, MARCO; M. Cocuzza; C. Ricciardi |
Autore/i Unibo: | |
Anno: | 2005 |
Rivista: | |
Titolo del libro: | MATERIALS SCIENCE FORUM |
Pagina iniziale: | 745 |
Pagina finale: | 748 |
Data prodotto definitivo in UGOV: | 17-ott-2005 |
Data stato definitivo: | 27-lug-2016 |
Appare nelle tipologie: | 4.01 Contributo in Atti di convegno |
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