Charcaterization of electrical contacts on polycrystalline 3C-SiC thin films / A.Castaldini; A.Cavallini; M.Rossi; M.Cocuzza; C.Ricciardi. - STAMPA. - 483-485:(2005), pp. 745-748. (Intervento presentato al convegno 5th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials tenutosi a Bologna, Italy nel 08/31/2004-09/04/2004).
Charcaterization of electrical contacts on polycrystalline 3C-SiC thin films
CASTALDINI, ANTONIO;CAVALLINI, ANNA;ROSSI, MARCO;
2005
File in questo prodotto:
Eventuali allegati, non sono esposti
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
