CRIS Current Research Information System

A.Castaldini, A.Cavallini, M.Rossi, M.Cocuzza, C.Ricciardi (2005). Charcaterization of electrical contacts on polycrystalline 3C-SiC thin films.

Charcaterization of electrical contacts on polycrystalline 3C-SiC thin films

CASTALDINI, ANTONIO;CAVALLINI, ANNA;ROSSI, MARCO;
2005
2005
MATERIALS SCIENCE FORUM
745
748
A.Castaldini, A.Cavallini, M.Rossi, M.Cocuzza, C.Ricciardi (2005). Charcaterization of electrical contacts on polycrystalline 3C-SiC thin films.
A.Castaldini; A.Cavallini; M.Rossi; M.Cocuzza; C.Ricciardi
4.01 Contributo in Atti di convegno
File in questo prodotto:
Eventuali allegati, non sono esposti

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11585/18811
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo

Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 0
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 0
social impact