Should We Make Our Design for Testability Schemes Fault Secure ? / C. Metra; T. M. Mak; M. Omaña. - STAMPA. - (2004), pp. 67-72. ((Intervento presentato al convegno IEEE European Test Symposium tenutosi a Aiaccio, France nel May 23-26, 2004.
Titolo: | Should We Make Our Design for Testability Schemes Fault Secure ? |
Autore/i: | METRA, CECILIA; T. M. Mak; OMANA, MARTIN EUGENIO |
Autore/i Unibo: | |
Anno: | 2004 |
Titolo del libro: | Proceedings IEEE European Test Symposium |
Pagina iniziale: | 67 |
Pagina finale: | 72 |
Data prodotto definitivo in UGOV: | 16-ott-2005 |
Appare nelle tipologie: | 4.01 Contributo in Atti di convegno |
File in questo prodotto:
Eventuali allegati, non sono esposti
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.