CRIS Current Research Information System

C. Metra, T. M. Mak, M. Omaña (2004). Fault secureness need for next generation high performance microprocessor design for testability structures. NEW YORK : ACM press.

Fault secureness need for next generation high performance microprocessor design for testability structures

METRA, CECILIA;OMANA, MARTIN EUGENIO
2004
2004
Proceedings of the 1st conference on Computing frontiers
444
450
C. Metra, T. M. Mak, M. Omaña (2004). Fault secureness need for next generation high performance microprocessor design for testability structures. NEW YORK : ACM press.
C. Metra; T. M. Mak; M. Omaña
4.01 Contributo in Atti di convegno
File in questo prodotto:
Eventuali allegati, non sono esposti

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11585/18365
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo

Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 2
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact