Risks Associated with Faults within Test Pattern Compactors and Their Implications on Testing

METRA, CECILIA;OMANA, MARTIN EUGENIO
2004

2004
International Test Conference 2004 Proceedings
1223
1231
C. Metra; T. M. Mak; M. Omaña
File in questo prodotto:
Eventuali allegati, non sono esposti

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11585/12941
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo

Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 0
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 0
social impact