Impact of ECCs on Simultaneously Switching Output Noise for On-Chip Busses of High Reliability Systems

ROSSI, DANIELE;METRA, CECILIA
2004

Proceedings 10th IEEE International On-Line Testing Symposium
135
140
D. Rossi; A. Muccio; A. K. Nieuwand; A. Katoch; C. Metra
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