Impact of ECCs on Simultaneously Switching Output Noise for On-Chip Busses of High Reliability Systems / D. Rossi; A. Muccio; A. K. Nieuwand; A. Katoch; C. Metra. - STAMPA. - (2004), pp. 135-140. ((Intervento presentato al convegno 10th IEEE International On-Line Testing Symposium tenutosi a Madeira, Portugal nel 12-14 luglio 2004.
Titolo: | Impact of ECCs on Simultaneously Switching Output Noise for On-Chip Busses of High Reliability Systems |
Autore/i: | ROSSI, DANIELE; A. Muccio; A. K. Nieuwand; A. Katoch; METRA, CECILIA |
Autore/i Unibo: | |
Anno: | 2004 |
Titolo del libro: | Proceedings 10th IEEE International On-Line Testing Symposium |
Pagina iniziale: | 135 |
Pagina finale: | 140 |
Data prodotto definitivo in UGOV: | 14-ott-2005 |
Appare nelle tipologie: | 4.01 Contributo in Atti di convegno |
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