CRIS Current Research Information System

D. Rossi, A. Muccio, A. K. Nieuwand, A. Katoch, C. Metra (2004). Impact of ECCs on Simultaneously Switching Output Noise for On-Chip Busses of High Reliability Systems. LOS ALAMITOS : C. Metra, R. Leveugle, M. Nicolaidis, J. Texeira.

Impact of ECCs on Simultaneously Switching Output Noise for On-Chip Busses of High Reliability Systems

ROSSI, DANIELE;METRA, CECILIA
2004
2004
Proceedings 10th IEEE International On-Line Testing Symposium
135
140
D. Rossi, A. Muccio, A. K. Nieuwand, A. Katoch, C. Metra (2004). Impact of ECCs on Simultaneously Switching Output Noise for On-Chip Busses of High Reliability Systems. LOS ALAMITOS : C. Metra, R. Leveugle, M. Nicolaidis, J. Texeira.
D. Rossi; A. Muccio; A. K. Nieuwand; A. Katoch; C. Metra
4.01 Contributo in Atti di convegno
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