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Guest Editors' Introduction: Advances in VLSI Testing at MultiGbps Rates / A. Ivanov; F. Lombardi; C. Metra. - In: IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS. - ISSN 0740-7475. - STAMPA. - 21:(2004), pp. 274-276. [10.1109/MDT.2004.31]

Guest Editors' Introduction: Advances in VLSI Testing at MultiGbps Rates

METRA, CECILIA
2004
2004
Guest Editors' Introduction: Advances in VLSI Testing at MultiGbps Rates / A. Ivanov; F. Lombardi; C. Metra. - In: IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS. - ISSN 0740-7475. - STAMPA. - 21:(2004), pp. 274-276. [10.1109/MDT.2004.31]
A. Ivanov; F. Lombardi; C. Metra
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11585/5889
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