CRIS Current Research Information System

M. Faqira, G. Verzellesi, F. Fantini, F. Danesin, F. Rampazzo, G. Meneghesso, et al. (2007). Characterization and analysis of trap-related effects in AlGaN–GaN HEMTs. MICROELECTRONICS RELIABILITY, 47, 1639-1642 [10.1016/j.microrel.2007.07.005].

Characterization and analysis of trap-related effects in AlGaN–GaN HEMTs

CAVALLINI, ANNA;CASTALDINI, ANTONIO;
2007
2007
M. Faqira, G. Verzellesi, F. Fantini, F. Danesin, F. Rampazzo, G. Meneghesso, et al. (2007). Characterization and analysis of trap-related effects in AlGaN–GaN HEMTs. MICROELECTRONICS RELIABILITY, 47, 1639-1642 [10.1016/j.microrel.2007.07.005].
M. Faqira; G. Verzellesi; F. Fantini; F. Danesin; F. Rampazzo; G. Meneghesso;E. Zanoni; A. Cavallini; A. Castaldini; N. Labat ; A. Touboul; C. Dua...espandi
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11585/57235
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