CRIS Current Research Information System

Overview of the main electron device empirical modeling approaches and characterization techniques.

A. Raffo, A. Santarelli, P.A. Traverso, G. Vannini, F.Filicori (2007). Nonlinear characterization and modelling of microwave power FETs affected by low-frequency dispersive effects. LONDON : Horizon House.

Nonlinear characterization and modelling of microwave power FETs affected by low-frequency dispersive effects

SANTARELLI, ALBERTO;TRAVERSO, PIER ANDREA;FILICORI, FABIO
2007

Abstract

Overview of the main electron device empirical modeling approaches and characterization techniques.
2007
Workshop Notes of European Microwave Week 2007, WSW6: “Advanced Nonlinear and Power Characterization of Microwave Devices and Systems (TARGET)”
-
-
A. Raffo, A. Santarelli, P.A. Traverso, G. Vannini, F.Filicori (2007). Nonlinear characterization and modelling of microwave power FETs affected by low-frequency dispersive effects. LONDON : Horizon House.
A. Raffo; A. Santarelli; P.A. Traverso; G. Vannini; F.Filicori
4.01 Contributo in Atti di convegno
File in questo prodotto:
Eventuali allegati, non sono esposti

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11585/56987
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo

Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact