High temperature Fe implantation of GaInP/GaAs: a PIXE and RBS channeling investigation / T. Cesca; A. Gasparotto; G. Mattei; A. Verna; B. Fraboni; F. Priolo ;M. Longo and L. Tarricone. - ELETTRONICO. - (2005). (Intervento presentato al convegno 17th International Conference on Ion Beam Analysis tenutosi a Sevilla, Spain nel Giugno 2005).
High temperature Fe implantation of GaInP/GaAs: a PIXE and RBS channeling investigation.
FRABONI, BEATRICE;
2005
File in questo prodotto:
Eventuali allegati, non sono esposti
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.