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Parasitic Effect Reduction for Wafer-Level Packaging of RF-MEMS / J. Iannacci; J. Tian; S.M. Sinaga; R. Gaddi; A. Gnudi; M. Bartek. - STAMPA. - (2006), pp. 25-30. (Intervento presentato al convegno 2006 Symposium on Design, Test, Integration and Packaging of MEMS/MOEMS tenutosi a Stresa, Italy nel April 26-28, 2006).

Parasitic Effect Reduction for Wafer-Level Packaging of RF-MEMS

IANNACCI, JACOPO;GADDI, ROBERTO;GNUDI, ANTONIO;
2006
2006
Proc. DTIP 2006
25
30
Parasitic Effect Reduction for Wafer-Level Packaging of RF-MEMS / J. Iannacci; J. Tian; S.M. Sinaga; R. Gaddi; A. Gnudi; M. Bartek. - STAMPA. - (2006), pp. 25-30. (Intervento presentato al convegno 2006 Symposium on Design, Test, Integration and Packaging of MEMS/MOEMS tenutosi a Stresa, Italy nel April 26-28, 2006).
J. Iannacci; J. Tian; S.M. Sinaga; R. Gaddi; A. Gnudi; M. Bartek
4.01 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11585/40805
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