Reliability issues in RF-MEMS switches submitted to cycling and ESD test / A. Tazzoli; V. Peretti; R. Gaddi; A. Gnudi; E. Zanoni; G. Meneghesso. - STAMPA. - (2006), pp. 410-415. (Intervento presentato al convegno International Reliability Physics Symposium tenutosi a San Josè, CA, USA nel March 26-30, 2006).
Reliability issues in RF-MEMS switches submitted to cycling and ESD test
GADDI, ROBERTO;GNUDI, ANTONIO;
2006
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