CRIS Current Research Information System

A. Tazzoli, V. Peretti, R. Gaddi, A. Gnudi, E. Zanoni, G. Meneghesso (2006). Reliability issues in RF-MEMS switches submitted to cycling and ESD test. s.l : s.n.

Reliability issues in RF-MEMS switches submitted to cycling and ESD test

GADDI, ROBERTO;GNUDI, ANTONIO;
2006
2006
Proc. IEEE-IRPS 2006
410
415
A. Tazzoli, V. Peretti, R. Gaddi, A. Gnudi, E. Zanoni, G. Meneghesso (2006). Reliability issues in RF-MEMS switches submitted to cycling and ESD test. s.l : s.n.
A. Tazzoli; V. Peretti; R. Gaddi; A. Gnudi; E. Zanoni; G. Meneghesso
4.01 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11585/40789
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