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Enrico Sangiorgi, Asen Asenov, Herbert S. Bennett, Robert W. Dutton, David Esseni, Martin D. Giles, et al. (2011). Foreword: Special Issue on Characterization of Nano CMOS Variability by Simulation and Measurements. IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 58(8), 2190-2196 [10.1109/TED.2011.2160884].

Foreword: Special Issue on Characterization of Nano CMOS Variability by Simulation and Measurements

SANGIORGI, ENRICO;
2011
2011
Enrico Sangiorgi, Asen Asenov, Herbert S. Bennett, Robert W. Dutton, David Esseni, Martin D. Giles, et al. (2011). Foreword: Special Issue on Characterization of Nano CMOS Variability by Simulation and Measurements. IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 58(8), 2190-2196 [10.1109/TED.2011.2160884].
Enrico Sangiorgi;Asen Asenov;Herbert S. Bennett;Robert W. Dutton;David Esseni;Martin D. Giles;Masami Hane;Kenji Nishi;Jeewika Ranaweera;Siegfried Selb...espandi
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11585/398839
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