Revised stability analysis of the nonlinear Poisson scheme in self-consistent Monte Carlo device simulations / Palestri P.; Barin N.; Esseni D.; Fiegna C.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - STAMPA. - 53:(2006), pp. 1443-1451. [10.1109/TED.2006.874757]
Revised stability analysis of the nonlinear Poisson scheme in self-consistent Monte Carlo device simulations
FIEGNA, CLAUDIO
2006
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