Erratic Cell Behavior in Channel Hot Electron Programming of NOR Flash Memories / M. GROSSI; M. LANZONI; RICCO' B.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - STAMPA. - 51:(2004), pp. 1613-1620. [10.1109/TED.2004.834903]
Erratic Cell Behavior in Channel Hot Electron Programming of NOR Flash Memories
GROSSI, MARCO;LANZONI, MASSIMO;RICCO', BRUNO
2004
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