M. GROSSI, M. LANZONI, RICCO' B. (2004). Erratic Cell Behavior in Channel Hot Electron Programming of NOR Flash Memories. IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 51, 1613-1620 [10.1109/TED.2004.834903].
Erratic Cell Behavior in Channel Hot Electron Programming of NOR Flash Memories
GROSSI, MARCO;LANZONI, MASSIMO;RICCO', BRUNO
2004
File in questo prodotto:
Eventuali allegati, non sono esposti
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.