Measurement of |V_cb| using the semileptonic decay anti-B0d -> D*+ l- anti-nu_l

Abdallah, J.; Abreu, P.; Adam, W.; Adzic, P.; Albrecht, T.; Alderweireld, T.; ALEMANY FERNANDEZ, R.; Allmendinger, T.; Allport, P. P.; Amaldi, U.; Amapane, N.; Amato, S.; Anashkin, E.; Andreazza, A.; Andringa, S.; Anjos, N.; Antilogus, P.; Apel, W. D.; Arnoud, Y.; Ask, S.; Asman, B.; Augustin, J. E.; Augustinus, A.; Baillon, P.; Ballestrero, A.; Bambade, P.; Barbier, R.; Bardin, D.; Barker, G. J.; Baroncelli, A.; Battaglia, M.; Baubillier, M.; Becks, K. H.; Begalli, M.; Behrmann, A.; BEN HAIM, E.; Benekos, N.; Benvenuti, A.; Berat, C.; Berggren, M.; Berntzon, L.; Bertrand, D.; Besancon, M.; Besson, N.; Bloch, D.; Blom, M.; Bluj, M.; Bonesini, M.; Boonekamp, M.; Booth, P. S. L.; Borisov, G.; Botner, O.; Bouquet, B.; Bowcock, T. J. V.; Boyko, I.; Bracko, M.; Brenner, R.; Brodet, E.; Bruckman, P.; Brunet, J. M.; Bugge, L.; Buschmann, P.; Calvi, M.; Camporesi, T.; Canale, V.; Carena, F.; Castro, N.; Cavallo, F.; Chapkin, M.; Charpentier, P. H.; Checchia, P.; Chierici, R.; Chliapnikov, P.; Chudoba, J.; Chung, S. U.; Cieslik, K.; Collins, P.; Contri, R.; Cosme, G.; Cossutti, F.; Costa, M. J.; Crennell, D.; Cuevas, J.; D'Hondt, J.; Dalmau, J.; DA SILVA, T.; DA SILVA, W.; DELLA RICCA, G.; DE ANGELIS, A.; DE BOER, W.; DE CLERCQ, C.; DE LOTTO, B.; DE MARIA, N.; DE MIN, A.; DE PAULA, L.; DI CIACCIO, L.; DI SIMONE, A.; Doroba, K.; Drees, J.; Dris, M.; Eigen, G.; Ekelof, T.; Ellert, M.; Elsing, M.; ESPIRITO SANTO, M. C.; Fanourakis, G.; Fassouliotis, D.; Feindt, M.; Fernandez, J.; Ferrer, A.; Ferro, F.; Flagmeyer, U.; Foeth, H.; Fokitis, E.; FULDA QUENZER, F.; Fuster, J.; Gandelman, M.; Garcia, C.; Gavillet, P. H.; Gazis, E.; Gokieli, R.; Golob, B.; GOMEZ CEBALLOS, G.; Goncalves, P.; Graziani, E.; Grosdidier, G.; Grzelak, K.; Guy, J.; Haag, C.; Hallgren, A.; Hamacher, K.; Hamilton, K.; Haug, S.; Hauler, F.; Hedberg, V.; Hennecke, M.; Herr, H.; Hoffman, J.; Holmgren, S. O.; Holt, P. J.; Houlden, M. A.; Hultqvist, K.; Jackson, J. N.; Jarlskog, G.; Jarry, P.; Jeans, D.; Johansson, E. K.; Johansson, P. D.; Jonsson, P.; Joram, C.; Jungermann, L.; Kapusta, Frederic; Katsanevas, S.; Katsoufis, E.; Kernel, G.; Kersevan, B. P.; Kerzel, U.; Kiiskinen, A.; King, B. T.; Kjaer, N. J.; Kluit, P.; Kokkinias, P.; Kourkoumelis, C.; Kouznetsov, O.; Krumstein, Z.; Kucharczyk, M.; Lamsa, J.; Leder, G.; Ledroit, F.; Leinonen, L.; Leitner, R.; Lemonne, J.; Lepeltier, V.; Lesiak, T.; Liebig, W.; Liko, D.; Lipniacka, A.; Lopes, J. H.; Lopez, J. M.; Loukas, D.; Lutz, P.; Lyons, L.; Macnaughton, J.; Malek, A.; Maltezos, S.; Mandl, F.; Marco, J.; Marco, R.; Marechal, B.; Margoni, M.; Marin, J. C.; Mariotti, C.; Markou, A.; MARTINEZ RIVERO, C.; Masik, J.; Mastroyiannopoulos, N.; Matorras, F.; Matteuzzi, C.; Mazzucato, F.; Mazzucato, M.; MC NULTY, R.; Meroni, C.; Migliore, E.; Mitaroff, W.; Mjoernmark, U.; Moa, T.; Moch, M.; Moenig, K.; Monge, R.; Montenegro, J.; Moraes, D.; Moreno, S.; Morettini, P.; Mueller, U.; Muenich, K.; Mulders, M.; Mundim, L.; Murray, W.; Muryn, B.; Myatt, G.; Myklebust, T.; Nassiakou, M.; Navarria, FRANCESCO LUIGI; Nawrocki, K.; Nicolaidou, R.; Nikolenko, M.; OBLAKOWSKA MUCHA, A.; Obraztsov, V.; Olshevski, A.; Onofre, A.; Orava, R.; Osterberg, K.; Ouraou, A.; Oyanguren, A.; Paganoni, M.; Paiano, Simone; Palacios, J. P.; Palka, H.; Papadopoulou, T. H. D.; Pape, L.; Parkes, C.; Parodi, F.; Parzefall, U.; Passeri, A.; Passon, O.; Peralta, L.; Perepelitsa, V.; Perrotta, Andrea; Petrolini, A.; Piedra, J.; Pieri, L.; Pierre, F.; Pimenta, M.; Piotto, E.; Podobnik, T.; Poireau, V.; Pol, M. E.; Polok, G.; Poropat, P.; Pozdniakov, V.; Pukhaeva, N.; Pullia, A.; Rames, J.; Ramler, L.; Read, ALEXANDER L.; Rebecchi, P.; Rehn, J.; Reid, D.; Reinhardt, R.; Renton, P.; Richard, F.; Ridky, J.; Rivero, M.; Rodriguez, D.; Romero, A.; Ronchese, P.; Roudeau, P.; Rovelli, Tiziano; RUHLMANN KLEIDER, V.; Ryabtchikov, D.; Sadovsky, A.; Salmi, L.; Salt, J.; SAVOY NAVARRO, A.; Schwickerath, U.; Segar, A.; Sekulin, R.; Siebel, M.; Sisakian, A.; Smadja, G.; Smirnova, O.; Sokolov, A.; Sopczak, A.; Sosnowski, R.; Spassov, T.; Stanitzki, M.; Stocchi, A.; Strauss, J.; Stugu, B.; Szczekowski, M.; Szeptycka, M.; Szumlak, T.; Tabarelli, T.; Taffard, A. C.; Tegenfeldt, F.; Timmermans, J.; Tkatchev, L.; Tobin, M.; Todorovova, S.; Tome, B.; Tonazzo, A.; Tortosa, P.; Travnicek, P.; Treille, D.; Tristram, G.; Trochimczuk, M.; Troncon, C.; Turluer, M. L.; Tyapkin, I. A.; Tyapkin, P.; Tzamarias, S.; Uvarov, V.; Valenti, G.; VAN DAM, P.; VAN ELDIK, J.; VAN LYSEBETTEN, A.; VAN REMORTEL, N.; VAN VULPEN, I.; Vegni, G.; Veloso, F.; Venus, W.; Verdier, P.; Verzi, V.; Vilanova, D.; Vitale, L.; Vrba, V.; Wahlen, H.; Washbrook, A. J.; Weiser, C.; Wicke, D.; Wickens, J.; Wilkinson, G.; Winter, M.; Witek, M.; Yushchenko, O.; Zalewska, A.; Zalewski, P.; Zavrtanik, D.; Zhuravlov, V.; Zimin, N. I.; Zintchenko, A.; Zupan, M.

doi:10.1140/epjc/s2004-01598-6

Data from Z decays in DELPHI have been searched for anti-B0d -> D*+ l- anti-nu_l with the D*+ decaying to D0 pi+ and D0 -> K- pi+, K- pi+ pi+ pi- or K- pi+ (pi0). These events are used to measure the CKM matrix element |V_cb| and the form factor slope, rho_{A_1}^2: F_D*(1)|Vcb| = 0.0392 +/- 0.0018 +/- 0.0023; rho_{A_1}^2 = 1.32 +/- 0.15 +/- 0.33 corresponding to a branching fraction: BR(anti-B0d -> D*+ l- anti-nu_l) = (5.90 +/- 0.22 +/- 0.50)%. Combining these and previous DELPHI measurements gives: F_D*(1)|Vcb| = 0.0377 +/- 0.0011 +/- 0.0019, rho_{A_1}^2 = 1.39 +/- 0.10 +/- 0.33 and BR(anti-B0d -> D*+ l- anti-nu_l) = (5.39 +/- 0.11 +/- 0.34)%. Using F_{D*}(1) = 0.91 +/- 0.04, yields: |Vcb| = 0.0414 +/- 0.0012(stat.) +/- 0.0021(syst.) +/- 0.0018(theory). The b-quark semileptonic branching fraction into a D*+ emitted from higher mass charmed excited states has also been measured to be: BR(b -> D*+ X l- anti-nu_l) = (0.67 +/- 0.08 +/- 0.10)%.

J. ABDALLAH, P. ABREU, W. ADAM, P. ADZIC, T. ALBRECHT, T. ALDERWEIRELD, et al. (2004). Measurement of |V_cb| using the semileptonic decay anti-B0d -> D*+ l- anti-nu_l. THE EUROPEAN PHYSICAL JOURNAL. C, PARTICLES AND FIELDS, 33, 213-232 [10.1140/epjc/s2004-01598-6].