Electron Shadow edge microscopy of reverse-biased p-n junctions / P.F. Fazzini; M. Beleggia; G. Pozzi. - STAMPA. - II:(2004), pp. 385-386. (Intervento presentato al convegno 13th European Microscopy Congress tenutosi a Antwerp nel August 22-27).
Electron Shadow edge microscopy of reverse-biased p-n junctions
FAZZINI, PIER FRANCESCO;POZZI, GIULIO
2004
File in questo prodotto:
Eventuali allegati, non sono esposti
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.