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P.F. Fazzini, M. Beleggia, G. Pozzi (2004). Electron Shadow edge microscopy of reverse-biased p-n junctions. ANTWERP : s.n.

Electron Shadow edge microscopy of reverse-biased p-n junctions

FAZZINI, PIER FRANCESCO;POZZI, GIULIO
2004
2004
Proceedings of the13th European Microscopy Congress
385
386
P.F. Fazzini, M. Beleggia, G. Pozzi (2004). Electron Shadow edge microscopy of reverse-biased p-n junctions. ANTWERP : s.n.
P.F. Fazzini; M. Beleggia; G. Pozzi
4.02 Riassunto (Abstract)
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