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Comparative analysis of the RF and noise performance of bulk and single-gate ultra-thin SOI MOSFETs by numerical simulation / EMINENTE S.; ALESSANDRINI M.; FIEGNA C.. - In: SOLID-STATE ELECTRONICS. - ISSN 0038-1101. - STAMPA. - 48:(2004), pp. 543-549. [10.1016/j.sse.2003.09.022]

Comparative analysis of the RF and noise performance of bulk and single-gate ultra-thin SOI MOSFETs by numerical simulation

EMINENTE, SIMONE;FIEGNA, CLAUDIO
2004
2004
Comparative analysis of the RF and noise performance of bulk and single-gate ultra-thin SOI MOSFETs by numerical simulation / EMINENTE S.; ALESSANDRINI M.; FIEGNA C.. - In: SOLID-STATE ELECTRONICS. - ISSN 0038-1101. - STAMPA. - 48:(2004), pp. 543-549. [10.1016/j.sse.2003.09.022]
EMINENTE S.; ALESSANDRINI M.; FIEGNA C.
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