CAPASSO, GIUSEPPE
CAPASSO, GIUSEPPE
DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA DELL'ENERGIA ELETTRICA E DELL'INFORMAZIONE "GUGLIELMO MARCONI"
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Titolo | Autore(i) | Anno | Periodico | Editore | Tipo | File |
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In-Circuit Assessment of the Long-Term Reliability of E-Mode GaN HEMTs | Capasso G.; Zanuccoli M.; Tallarico A.N.; Fiegna C. | 2023-01-01 | IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES | - | 1.01 Articolo in rivista | In-Circuit_Assessment_of_the_Long-Term_Reliability_of_E-Mode_GaN_HEMTs.pdf |
A novel approach to analyze the reliability of GaN power HEMTs operating in a DC-DC Buck converter | Capasso G.; Zanuccoli M.; Tallarico A.N.; Fiegna C. | 2022-01-01 | - | Editions Frontieres | 4.01 Contributo in Atti di convegno | - |