POLI, STEFANO
 Distribuzione geografica
Continente #
EU - Europa 2
Totale 2
Nazione #
IT - Italia 2
Totale 2
Città #
Maser 2
Totale 2
Nome #
Hot-carrier Stress induced degradation in Multi-STIFinger LDMOS: an experimental and numerical insight, file e1dcb32c-0f83-7715-e053-1705fe0a6cc9 1
Hot-carrier stress induced degradation in Multi-STI-Finger LDMOS: An experimental and numerical insight, file e1dcb32c-2329-7715-e053-1705fe0a6cc9 1
Totale 2
Categoria #
all - tutte 2
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curatela - curatele 0
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patent - brevetti 0
selected - selezionate 0
volume - volumi 0
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2019/20202 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 2
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