POLI, STEFANO
 Distribuzione geografica
Continente #
NA - Nord America 89
EU - Europa 24
AS - Asia 11
AF - Africa 1
Totale 125
Nazione #
US - Stati Uniti d'America 89
GB - Regno Unito 10
CN - Cina 6
DE - Germania 4
IT - Italia 4
SG - Singapore 3
IN - India 2
CH - Svizzera 1
EE - Estonia 1
FR - Francia 1
GR - Grecia 1
IE - Irlanda 1
RU - Federazione Russa 1
ZA - Sudafrica 1
Totale 125
Città #
Ann Arbor 33
Wilmington 13
Fairfield 11
Southend 10
Ashburn 4
Chandler 4
Houston 3
Seattle 3
Singapore 3
Woodbridge 3
Bologna 2
Nanjing 2
Princeton 2
Berlin 1
Boardman 1
Dublin 1
Frankfurt Am Main 1
Jinan 1
Medford 1
Milan 1
Ningbo 1
Norwalk 1
Padova 1
San Diego 1
Santa Clara 1
Taizhou 1
Westminster 1
Totale 107
Nome #
Modeling and characterization of hot-carrier stress degradation in power MOSFETs 126
Totale 126
Categoria #
all - tutte 318
article - articoli 0
book - libri 0
conference - conferenze 0
curatela - curatele 0
other - altro 0
patent - brevetti 0
selected - selezionate 0
volume - volumi 0
Totale 318


Totale Lug Ago Sett Ott Nov Dic Gen Feb Mar Apr Mag Giu
2019/202029 0 0 0 0 6 4 4 4 4 5 2 0
2020/202112 4 0 0 4 0 0 0 0 3 0 0 1
2021/202250 1 0 7 5 7 4 7 6 5 3 1 4
2022/202313 1 2 0 2 3 1 0 1 3 0 0 0
2023/20242 0 2 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0
2024/20257 0 3 1 2 1 0 0 0 0 0 0 0
Totale 126