POLI, STEFANO

POLI, STEFANO  

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Titolo Autore(i) Anno Periodico Editore Tipo File
Modeling and characterization of hot-carrier stress degradation in power MOSFETs Reggiani, Susanna; Gnani, Elena; Gnudi, Antonio; Baccarani, Giorgio; Poli, Stefano; Wise, R.; Chu...ang, M. Y.; Tian, W.; Denison, M. 2013-01-01 - IEEE Computer Society 4.01 Contributo in Atti di convegno -