DING, LILI
 Distribuzione geografica
Continente #
NA - Nord America 458
EU - Europa 168
AS - Asia 158
AF - Africa 20
SA - Sud America 20
Totale 824
Nazione #
US - Stati Uniti d'America 457
GB - Regno Unito 60
SG - Singapore 55
CN - Cina 46
DE - Germania 22
SE - Svezia 22
VN - Vietnam 22
HK - Hong Kong 18
IT - Italia 18
RU - Federazione Russa 15
BR - Brasile 13
IE - Irlanda 10
IN - India 8
SC - Seychelles 7
CI - Costa d'Avorio 6
FR - Francia 6
EE - Estonia 5
JO - Giordania 5
ZA - Sudafrica 5
AR - Argentina 4
FI - Finlandia 3
UA - Ucraina 2
AT - Austria 1
BG - Bulgaria 1
CH - Svizzera 1
EC - Ecuador 1
GR - Grecia 1
ID - Indonesia 1
IQ - Iraq 1
JP - Giappone 1
MA - Marocco 1
MX - Messico 1
MY - Malesia 1
NG - Nigeria 1
PY - Paraguay 1
SI - Slovenia 1
UY - Uruguay 1
Totale 824
Città #
Ann Arbor 174
Southend 53
Fairfield 36
Ashburn 33
Singapore 28
Wilmington 28
Cambridge 27
Santa Clara 26
Seattle 21
Hong Kong 18
Chandler 16
Woodbridge 15
Dublin 10
Princeton 10
Ho Chi Minh City 9
Houston 9
Saint Petersburg 7
San Diego 7
Abidjan 6
Beijing 6
Amman 5
Boardman 5
Hanoi 5
Milan 5
Padova 5
Turin 5
Westminster 5
Berlin 4
Changsha 4
Hebei 4
Jiaxing 4
Nanjing 4
Shenyang 4
Helsinki 3
Jinan 3
London 3
Redondo Beach 3
Taiyuan 3
Buffalo 2
Dearborn 2
Medford 2
Ninh Bình 2
Abeokuta 1
Bexley 1
Biên Hòa 1
Bologna 1
Bremen 1
Buenos Aires 1
Bắc Giang 1
Capão da Canoa 1
Carapicuíba 1
Casablanca 1
Ciudad del Este 1
Curitiba 1
Dallas 1
Denver 1
Düsseldorf 1
Ecatepec 1
Ezeiza 1
Frankfurt Am Main 1
Fuzhou 1
Gaomi 1
Guangzhou 1
Guayaquil 1
Haikou 1
Haiphong 1
Hillah 1
Hortolândia 1
Itapevi 1
Jakarta 1
Januária 1
Kemerovo 1
Lanzhou 1
Maldonado 1
Manchester 1
Manduria 1
Manga 1
Merlo 1
Morón 1
New York 1
Norwalk 1
Nova Friburgo 1
Nuremberg 1
Ouvidor 1
Palhoça 1
Poços de Caldas 1
Quarryville 1
Quận Bình Thạnh 1
Quận Mười 1
Quận Tân Phú 1
Seri Kembangan 1
Serra Talhada 1
Sofia 1
Sterling 1
Stockholm 1
São José dos Campos 1
Taizhou 1
Tampa 1
Tokyo 1
Vienna 1
Totale 679
Nome #
Effects of electrical stress and ionizing radiation on Si-based TFETs 185
Impact of bias conditions on electrical stress and ionizing radiation effects in Si-based TFETs 179
Investigation of hot carrier stress and constant voltage stress in high-κ Si-based TFETs 163
Effects of bias on the radiation responses of Si-based TFETs 161
Total ionizing dose effects in si-based tunnel FETs 149
Totale 837
Categoria #
all - tutte 2.174
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book - libri 0
conference - conferenze 0
curatela - curatele 0
other - altro 0
patent - brevetti 0
selected - selezionate 0
volume - volumi 0
Totale 2.174


Totale Lug Ago Sett Ott Nov Dic Gen Feb Mar Apr Mag Giu
2020/202119 0 0 0 0 0 0 0 1 10 1 1 6
2021/2022251 9 2 28 31 37 27 28 32 28 7 9 13
2022/202385 7 11 6 6 9 11 2 0 16 4 9 4
2023/202419 1 8 1 0 0 1 4 0 0 2 0 2
2024/2025110 7 29 5 5 31 2 4 1 0 2 0 24
2025/2026111 9 22 27 20 24 9 0 0 0 0 0 0
Totale 837