Measurement of the tt-bar Production Cross Section in p anti-p Collisions at s**(1/2) =1.96 TeV using Soft Electron b-Tagging

T. AALTONEN; B. ALVAREZ GONZALEZV; S. AMERIO; D. AMIDEI; A. ANASTASSOV; A. ANNOVI; J. ANTOS; G. APOLLINARI; J. A. APPEL; A. APRESYAN; T. ARISAWA; A. ARTIKOV; J. ASAADI; W. ASHMANSKAS; B. AUERBACH; A. AURISANO; F. AZFAR; W. BADGETT; A. BARBARO GALTIERI; V. E. BARNES; B. A. BARNETT; P. BARRIAEE; P. BARTOS; M. BAUCECC; G. BAUER; F. BEDESCHI; D. BEECHER; S. BEHARI; G. BELLETTINI; J. BELLINGER; D. BENJAMIN; A. BERETVAS; A. BHATTI; M. BINKLEY; D. BISELLO; I. BIZJAK; K. R. BLAND; C. BLOCKER; B. BLUMENFELD; A. BOCCI; A. BODEK; D. BORTOLETTO; J. BOUDREAU; A. BOVEIA; B. BRAUA; L. BRIGLIADORI; A. BRISUDA; C. BROMBERG; E. BRUCKEN; M. BUCCIANTONIO; J. BUDAGOV; H. S. BUDD; S. BUDD; K. BURKETT; G. BUSETTO; P. BUSSEY; A. BUZATU; S. CABRERA; C. CALANCHA; S. CAMARDA; M. CAMPANELLI; M. CAMPBELL; F. CANELLI; A. CANEPA; B. CARLS; D. CARLSMITH; R. CAROSI; S. CARRILLO; S. CARRON; B. CASAL; M. CASARSA; CASTRO, ANDREA; P. CATASTINI; D. CAUZ; V. CAVALIERE; M. CAVALLI SFORZA; A. CERRI; L. CERRITO; Y. C. CHEN; M. CHERTOK; G. CHIARELLI; G. CHLACHIDZE; F. CHLEBANA; K. CHO; D. CHOKHELI; J. P. CHOU; W. H. CHUNG; Y. S. CHUNG; C. I. CIOBANU; M. A. CIOCCI; A. CLARK; D. CLARK; G. COMPOSTELLA; M. E. CONVERY; J. CONWAY; M. CORBO; M. CORDELLI; C. A. COX; D. J. COX; F. CRESCIOLI; C. CUENCA ALMENAR; J. CUEVASV; R. CULBERTSON; D. DAGENHART; N. D'ASCENZOT; M. DATTA; P. DE BARBARO; S. DE CECCO; G. DE LORENZO; M. DELL'ORSO; C. DELUCA; L. DEMORTIER; J. DENGC; DENINNO, MARIA MADDALENA; F. DEVOTO; M. D'ERRICO; A. DI CANTO; B. DI RUZZA; J. R. DITTMANN; M. D'ONOFRIO; S. DONATI; P. DONG; T. DORIGO; K. EBINA; A. ELAGIN; A. EPPIG; R. ERBACHER; D. ERREDE; S. ERREDE; N. ERSHAIDAT; R. EUSEBI; H. C. FANG; S. FARRINGTON; M. FEINDT; J. P. FERNANDEZ; C. FERRAZZA; R. FIELD; G. FLANAGAN; R. FORREST; M. J. FRANK; M. FRANKLIN; J. C. FREEMAN; I. FURIC; M. GALLINARO; J. GALYARDT; J. E. GARCIA; A. F. GARFINKEL; P. GAROSI; H. GERBERICH; E. GERCHTEIN; S. GIAGU; V. GIAKOUMOPOULOU; P. GIANNETTI; K. GIBSON; C. M. GINSBURG; N. GIOKARIS; P. GIROMINI; M. GIUNTA; G. GIURGIU; V. GLAGOLEV; D. GLENZINSKI; M. GOLD; D. GOLDIN; N. GOLDSCHMIDT; A. GOLOSSANOV; G. GOMEZ; G. GOMEZ CEBALLOS; M. GONCHAROV; O. GONZALEZ; I. GORELOV; A. T. GOSHAW; K. GOULIANOS; A. GRESELE; S. GRINSTEIN; C. GROSSO PILCHER; R. C. GROUP; J. GUIMARAES DA COSTA; Z. GUNAY UNALAN; C. HABER; S. R. HAHN; E. HALKIADAKIS; A. HAMAGUCHI; J. Y. HAN; F. HAPPACHER; K. HARA; D. HARE; M. HARE; R. F. HARR; K. HATAKEYAMA; C. HAYS; M. HECK; J. HEINRICH; M. HERNDON; S. HEWAMANAGE; D. HIDAS; A. HOCKER; W. HOPKINSG; D. HORN; S. HOU; R. E. HUGHES; M. HURWITZ; U. HUSEMANN; N. HUSSAIN; M. HUSSEIN; J. HUSTON; G. INTROZZI; M. IORI; A. IVANOVO; E. JAMES; D. JANG; B. JAYATILAKA; E. J. JEON; M. K. JHA; S. JINDARIANI; W. JOHNSON; M. JONES; K. K. JOO; S. Y. JUN; T. R. JUNK; T. KAMON; P. E. KARCHIN; Y. KATON; W. KETCHUM; J. KEUNG; V. KHOTILOVICH; B. KILMINSTER; D. H. KIM; H. S. KIM; H. W. KIM; J. E. KIM; M. J. KIM; S. B. KIM; S. H. KIM; Y. K. KIM; N. KIMURA; S. KLIMENKO; K. KONDO; D. J. KONG; J. KONIGSBERG; A. KORYTOV; A. V. KOTWAL; M. KREPS; J. KROLL; D. KROP; N. KRUMNACKL; M. KRUSE; V. KRUTELYOVD; T. KUHR; M. KURATA; S. KWANG; A. T. LAASANEN; S. LAMI; S. LAMMEL; M. LANCASTER; R. L. LANDER; K. LANNONU; A. LATH; G. LATINO; I. LAZZIZZERA; T. LECOMPTE; E. LEE; H. S. LEE; J. S. LEE; S. W. LEEW; S. LEODD; S. LEONE; J. D. LEWIS; C. J. LIN; J. LINACRE; M. LINDGREN; E. LIPELES; A. LISTER; D. O. LITVINTSEV; C. LIU; Q. LIU; T. LIU; S. LOCKWITZ; N. S. LOCKYER; A. LOGINOV; D. LUCCHESI; J. LUECK; P. LUJAN; P. LUKENS; G. LUNGU; J. LYS; R. LYSAK; R. MADRAK; K. MAESHIMA; K. MAKHOUL; P. MAKSIMOVIC; S. MALIK; G. MANCAB; A. MANOUSAKIS KATSIKAKIS; MARGAROLI, FABRIZIO; C. MARINO; M. MARTINEZ; R. MARTINEZ BALLARIN; P. MASTRANDREA; M. MATHIS; M. E. MATTSON; MAZZANTI, PAOLO; K. S. MCFARLAND; P. MCINTYRE; R. MCNULTYI; A. MEHTA; P. MEHTALA; A. MENZIONE; C. MESROPIAN; T. MIAO; D. MIETLICKI; A. MITRA; H. MIYAKE; S. MOED; MOGGI, NICCOLO'; M. N. MONDRAGONK; C. S. MOON; R. MOORE; M. J. MORELLO; J. MORLOCK; P. MOVILLA FERNANDEZ; A. MUKHERJEE; T.H. MULLER; P. MURAT; MUSSINI, MANUEL; J. NACHTMANM; Y. NAGAI; J. NAGANOMA; I. NAKANO; A. NAPIER; J. NETT; C. NEUZ; M. S. NEUBAUER; J. NIELSENE; L. NODULMAN; O. NORNIELLA; E. NURSE; L. OAKES; S. H. OH; Y. D. OH; I. OKSUZIAN; T. OKUSAWA; R. ORAVA; L. ORTOLAN; S. PAGAN GRISO; C. PAGLIARONE; E. PALENCIAF; V. PAPADIMITRIOU; A. A. PARAMONOV; J. PATRICK; G. PAULETTA; M. PAULINI; C. PAUS; D. E. PELLETT; A. PENZO; T. J. PHILLIPS; G. PIACENTINO; E. PIANORI; J. PILOT; K. PITTS; C. PLAGER; L. PONDROM; K. POTAMIANOS; O. POUKHOV; F. PROKOSHINY; A. PRONKO; F. PTOHOSH; E. PUESCHEL; G. PUNZI; J. PURSLEY; A. RAHAMAN; V. RAMAKRISHNAN; N. RANJAN; I. REDONDO; P. RENTON; M. RESCIGNO; RIMONDI, FRANCO; L. RISTORI; A. ROBSON; T. RODRIGO; T. RODRIGUEZ; E. ROGERS; S. ROLLI; R. ROSER; M. ROSSI; F. RUNI; A. RUIZ; J. RUSS; V. RUSU; A. SAFONOV; W. K. SAKUMOTO; L. SANTI; L. SARTORI; K. SATO; V. SAVELIEVT; A. SAVOY NAVARRO; P. SCHLABACH; A. SCHMIDT; E. E. SCHMIDT; M. P. SCHMIDT; M. SCHMITT; T. SCHWARZ; L. SCODELLARO; A. SCRIBANO; F. SCURI; A. SEDOV; S. SEIDEL; Y. SEIYA; A. SEMENOV; F. SFORZA; A. SFYRLA; S. Z. SHALHOUT; T. SHEARS; R. SHEKHAR; P. F. SHEPARD; M. SHIMOJIMAS; S. SHIRAISHI; M. SHOCHET; I. SHREYBER; A. SIMONENKO; P. SINERVO; A. SISSAKIAN; K. SLIWA; J. R. SMITH; F. D. SNIDER; A. SOHA; S. SOMALWAR; V. SORIN; P. SQUILLACIOTI; M. STANITZKI; R. S.T. DENIS; B. STELZER; O. STELZER CHILTON; D. STENTZ; J. STROLOGAS; G. L. STRYCKER; Y. SUDO; A. SUKHANOV; I. SUSLOV; K. TAKEMASA; Y. TAKEUCHI; J. TANG; M. TECCHIO; P. K. TENG; J. THOMG; J. THOME; G. A. THOMPSON; E. THOMSON; P. TTITO GUZMAN; S. TKACZYK; D. TOBACK; S. TOKAR; K. TOLLEFSON; T. TOMURA; D. TONELLI; S. TORRE; D. TORRETTA; P. TOTARO; M. TROVATO; Y. TU; N. TURINI; F. UKEGAWA; S. UOZUMI; A. VARGANOV; E. VATAGA; F. VAZQUEZK; G. VELEV; C. VELLIDIS; M. VIDAL; I. VILA; R. VILAR; M. VOGEL; G. VOLPI; P. WAGNER; R. L. WAGNER; T. WAKISAKA; R. WALLNY; S. M. WANG; A. WARBURTON; D. WATERS; M. WEINBERGER; W. C. WESTER III; B. WHITEHOUSE; D. WHITESONC; A. B. WICKLUND; E. WICKLUND; S. WILBUR; F. WICK; H. H. WILLIAMS; J. S. WILSON; P. WILSON; B. L. WINER; P. WITTICHG; S. WOLBERS; H. WOLFE; T. WRIGHT; X. WU; Z. WU; K. YAMAMOTO; J. YAMAOKA; T. YANG; U. K. YANGP; Y. C. YANG; W. M. YAO; G. P. YEH; K. YIM; J. YOH; K. YORITA; T. YOSHIDAJ; G. B. YU; I. YU; S. S. YU; J. C. YUN; A. ZANETTI; Y. ZENG; ZUCCHELLI, STEFANO

doi:10.1103/PhysRevD.81.092002

We present a measurement of the top quark pair production cross section in p anti-p collisions at s**(1/2) = 1.96 TeV using a data sample corresponding to 1.7 fb-1 of integrated luminosity collected with the Collider Detector at Fermilab. We reconstruct tt-bar events in the lepton-jets channel, consisting of e nu + jets and mu nu + jets final states. The dominant background is the production of W bosons in association with multiple jets. To suppress this background, we identify electrons from the events, we obtain 120 tagged events with a background expectation of 51 +/- 3 events, corresponding to a cross section of sigma_tt = 7.8 +/- 2.4 (stat) +/- 1.6 (syst) +/- 0.5 (lumi) pb. We assume a top-quark mass of 175 GeV/c2. This is the first measurement of the tt-bar cross section with soft electron tags in Run II of the Tevatron.

T. AALTONEN, B.ALVAREZ GONZALEZV, S. AMERIO, D. AMIDEI, A. ANASTASSOV, A. ANNOVI, et al. (2010). Measurement of the tt-bar Production Cross Section in p anti-p Collisions at s**(1/2) =1.96 TeV using Soft Electron b-Tagging. PHYSICAL REVIEW D, PARTICLES, FIELDS, GRAVITATION, AND COSMOLOGY, 81, 092002-1-092002-18 [10.1103/PhysRevD.81.092002].