Un esperimento di alto valore didattico e concettuale è l'interferenza di singolo elettrone. A 30 anni dai primi esperimenti in questo campo oggi ci sono le condizioni per ripetere l'esperienza di interferenza (alla Young) da singolo elettrone, utilizzando un microscopio elettronico a trasmissione attrezzato con due fenditure nanometriche e con una matrice di sensori in tecnologia CMOS MAPS. La matrice è parte del chip APSEL4D progettato per la Collaborazione INFN Slim5. Il chip è costituito da 4k pixel, con risoluzione spaziale di 15 µ m e risoluzione temporale di 1 µ s, sensibili alla singola particella al minimo di ionizzazione.

Esperienza di interferenza di singolo elettrone con doppia fenditura e sensore ad alta risoluzione temporale.

BALBI, GABRIELE;BERTI, RAFFAELE;COSTA, ALBERTO;GABRIELLI, ALESSANDRO;GIORGI, FILIPPO MARIA;MATTEUCCI, GIORGIO;PATUELLI, STEFANO;POZZI, GIULIO;SEMPRINI CESARI, NICOLA;VILLA, MAURO;ZOCCOLI, ANTONIO
2010

Abstract

Un esperimento di alto valore didattico e concettuale è l'interferenza di singolo elettrone. A 30 anni dai primi esperimenti in questo campo oggi ci sono le condizioni per ripetere l'esperienza di interferenza (alla Young) da singolo elettrone, utilizzando un microscopio elettronico a trasmissione attrezzato con due fenditure nanometriche e con una matrice di sensori in tecnologia CMOS MAPS. La matrice è parte del chip APSEL4D progettato per la Collaborazione INFN Slim5. Il chip è costituito da 4k pixel, con risoluzione spaziale di 15 µ m e risoluzione temporale di 1 µ s, sensibili alla singola particella al minimo di ionizzazione.
XCVI Congresso Nazionale
31
32
Balbi G.; Berti R.; Costa A.; Frabboni S.; Gabrielli A.; Gazzadi G.C.; Giorgi F.; Matteucci G.; Patuelli S.; Pozzi G.; Semprini N.; Villa M.; Zoccoli A.
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