Un esperimento di alto valore didattico e concettuale è l'interferenza di singolo elettrone. A 30 anni dai primi esperimenti in questo campo oggi ci sono le condizioni per ripetere l'esperienza di interferenza (alla Young) da singolo elettrone, utilizzando un microscopio elettronico a trasmissione attrezzato con due fenditure nanometriche e con una matrice di sensori in tecnologia CMOS MAPS. La matrice è parte del chip APSEL4D progettato per la Collaborazione INFN Slim5. Il chip è costituito da 4k pixel, con risoluzione spaziale di 15 µ m e risoluzione temporale di 1 µ s, sensibili alla singola particella al minimo di ionizzazione.
Balbi G., Berti R., Costa A., Frabboni S., Gabrielli A., Gazzadi G.C., et al. (2010). Esperienza di interferenza di singolo elettrone con doppia fenditura e sensore ad alta risoluzione temporale.. BOLOGNA : Compositore Industrie Grafiche.
Esperienza di interferenza di singolo elettrone con doppia fenditura e sensore ad alta risoluzione temporale.
BALBI, GABRIELE;BERTI, RAFFAELE;COSTA, ALBERTO;GABRIELLI, ALESSANDRO;GIORGI, FILIPPO MARIA;MATTEUCCI, GIORGIO;PATUELLI, STEFANO;POZZI, GIULIO;SEMPRINI CESARI, NICOLA;VILLA, MAURO;ZOCCOLI, ANTONIO
2010
Abstract
Un esperimento di alto valore didattico e concettuale è l'interferenza di singolo elettrone. A 30 anni dai primi esperimenti in questo campo oggi ci sono le condizioni per ripetere l'esperienza di interferenza (alla Young) da singolo elettrone, utilizzando un microscopio elettronico a trasmissione attrezzato con due fenditure nanometriche e con una matrice di sensori in tecnologia CMOS MAPS. La matrice è parte del chip APSEL4D progettato per la Collaborazione INFN Slim5. Il chip è costituito da 4k pixel, con risoluzione spaziale di 15 µ m e risoluzione temporale di 1 µ s, sensibili alla singola particella al minimo di ionizzazione.I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
