Daniel Wolf, Axel Lubk, Andreas Lenk, Hannes Lichte, Giulio Pozzi, Paola Prete, et al. (2009). Quantitative 3D characterization of semiconductor nanostructures using electron-holographic tomography. GRAZ : Verlag der TU Graz.
Quantitative 3D characterization of semiconductor nanostructures using electron-holographic tomography
POZZI, GIULIO;
2009
File in questo prodotto:
Eventuali allegati, non sono esposti
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.