A precision measurement by AMS of the antiproton flux and the antiproton-to-proton flux ratio in primary cosmic rays in the absolute rigidity range from 1 to 450 GV is presented based on 3.49×105 antiproton events and 2.42×109 proton events. The fluxes and flux ratios of charged elementary particles in cosmic rays are also presented. In the absolute rigidity range ∼60 to ∼500 GV, the antiproton p, proton p, and positron e+ fluxes are found to have nearly identical rigidity dependence and the electron e- flux exhibits a different rigidity dependence. Below 60 GV, the (p/p), (p/e+), and (p/e+) flux ratios each reaches a maximum. From ∼60 to ∼500 GV, the (p/p), (p/e+), and (p/e+) flux ratios show no rigidity dependence. These are new observations of the properties of elementary particles in the cosmos.

Antiproton Flux, Antiproton-to-Proton Flux Ratio, and Properties of Elementary Particle Fluxes in Primary Cosmic Rays Measured with the Alpha Magnetic Spectrometer on the International Space Station

CONTIN, ANDREA;MASI, NICOLO';PALMONARI, FEDERICO;QUADRANI, LUCIO;ZICHICHI, ANTONINO;
2016

Abstract

A precision measurement by AMS of the antiproton flux and the antiproton-to-proton flux ratio in primary cosmic rays in the absolute rigidity range from 1 to 450 GV is presented based on 3.49×105 antiproton events and 2.42×109 proton events. The fluxes and flux ratios of charged elementary particles in cosmic rays are also presented. In the absolute rigidity range ∼60 to ∼500 GV, the antiproton p, proton p, and positron e+ fluxes are found to have nearly identical rigidity dependence and the electron e- flux exhibits a different rigidity dependence. Below 60 GV, the (p/p), (p/e+), and (p/e+) flux ratios each reaches a maximum. From ∼60 to ∼500 GV, the (p/p), (p/e+), and (p/e+) flux ratios show no rigidity dependence. These are new observations of the properties of elementary particles in the cosmos.
Aguilar, M.; Ali Cavasonza, L.; Alpat, B.; Ambrosi, G.; Arruda, L.; Attig, N.; Aupetit, S.; Azzarello, P.; Bachlechner, A.; Barao, F.; Barrau, A.; Barrin, L.; Bartoloni, A.; Basara, L.; Başecmez-Du Pree, S.; Battarbee, M.; Battiston, R.; Bazo, J.; Becker, U.; Behlmann, M.; Beischer, B.; Berdugo, J.; Bertucci, B.; Bindi, V.; Boella, G.; De Boer, W.; Bollweg, K.; Bonnivard, V.; Borgia, B.; Boschini, M.J.; Bourquin, M.; Bueno, E.F.; Burger, J.; Cadoux, F.; Cai, X.D.; Capell, M.; Caroff, S.; Casaus, J.; Castellini, G.; Cernuda, I.; Cervelli, F.; Chae, M.J.; Chang, Y.H.; Chen, A.I.; Chen, G.M.; Chen, H.S.; Cheng, L.; Chou, H.Y.; Choumilov, E.; Choutko, V.; Chung, C.H.; Clark, C.; Clavero, R.; Coignet, G.; Consolandi, C.; Contin, A.; Corti, C.; Coste, B.; Creus, W.; Crispoltoni, M.; Cui, Z.; Dai, Y.M.; Delgado, C.; Della Torre, S.; Demirköz, M.B.; Derome, L.; Di Falco, S.; Dimiccoli, F.; Díaz, C.; Von Doetinchem, P.; Dong, F.; Donnini, F.; Duranti, M.; D'Urso, D.; Egorov, A.; Eline, A.; Eronen, T.; Feng, J.; Fiandrini, E.; Finch, E.; Fisher, P.; Formato, V.; Galaktionov, Y.; Gallucci, G.; García, B.; García-López, R.J.; Gargiulo, C.; Gast, H.; Gebauer, I.; Gervasi, M.; Ghelfi, A.; Giovacchini, F.; Goglov, P.; Gómez-Coral, D.M.; Gong, J.; Goy, C.; Grabski, V.; Grandi, D.; Graziani, M.; Guerri, I.; Guo, K.H.; Habiby, M.; Haino, S.; Han, K.C.; He, Z.H.; Heil, M.; Hoffman, J.; Hsieh, T.H.; Huang, H.; Huang, Z.C.; Huh, C.; Incagli, M.; Ionica, M.; Jang, W.Y.; Jinchi, H.; Kang, S.C.; Kanishev, K.; Kim, G.N.; Kim, K.S.; Kirn, Th.; Konak, C.; Kounina, O.; Kounine, A.; Koutsenko, V.; Krafczyk, M.S.; La Vacca, G.; Laudi, E.; Laurenti, G.; Lazzizzera, I.; Lebedev, A.; Lee, H.T.; Lee, S.C.; Leluc, C.; Li, H.S.; Li, J.Q.; Li, J.Q.; Li, Q.; Li, T.X.; Li, W.; Li, Z.H.; Li, Z.Y.; Lim, S.; Lin, C.H.; Lipari, P.; Lippert, T.; Liu, D.; Liu, Hu; Lu, S.Q.; Lu, Y.S.; Luebelsmeyer, K.; Luo, F.; Luo, J.Z.; Lv, S.S.; Majka, R.; Mañá, C.; Marín, J.; Martin, T.; Martínez, G.; Masi, N.; Maurin, D.; Menchaca-Rocha, A.; Meng, Q.; Mo, D.C.; Morescalchi, L.; Mott, P.; Nelson, T.; Ni, J.Q.; Nikonov, N.; Nozzoli, F.; Nunes, P.; Oliva, A.; Orcinha, M.; Palmonari, F.; Palomares, C.; Paniccia, M.; Pauluzzi, M.; Pensotti, S.; Pereira, R.; Picot-Clemente, N.; Pilo, F.; Pizzolotto, C.; Plyaskin, V.; Pohl, M.; Poireau, V.; Putze, A.; Quadrani, L.; Qi, X.M.; Qin, X.; Qu, Z.Y.; Räihä, T.; Rancoita, P.G.; Rapin, D.; Ricol, J.S.; Rodríguez, I.; Rosier-Lees, S.; Rozhkov, A.; Rozza, D.; Sagdeev, R.; Sandweiss, J.; Saouter, P.; Schael, S.; Schmidt, S.M.; Schulz Von Dratzig, A.; Schwering, G.; Seo, E.S.; Shan, B.S.; Shi, J.Y.; Siedenburg, T.; Son, D.; Song, J.W.; Sun, W.H.; Tacconi, M.; Tang, X.W.; Tang, Z.C.; Tao, L.; Tescaro, D.; Ting, Samuel C. C.; Ting, S.M.; Tomassetti, N.; Torsti, J.; Türkoǧlu, C.; Urban, T.; Vagelli, V.; Valente, E.; Vannini, C.; Valtonen, E.; Vázquez Acosta, M.; Vecchi, M.; Velasco, M.; Vialle, J.P.; Vitale, V.; Vitillo, S.; Wang, L.Q.; Wang, N.H.; Wang, Q.L.; Wang, X.; Wang, X.Q.; Wang, Z.X.; Wei, C.C.; Weng, Z.L.; Whitman, K.; Wienkenhöver, J.; Willenbrock, M.; Wu, H.; Wu, X.; Xia, X.; Xiong, R.Q.; Xu, W.; Yan, Q.; Yang, J.; Yang, M.; Yang, Y.; Yi, H.; Yu, Y.J.; Yu, Z.Q.; Zeissler, S.; Zhang, C.; Zhang, J.; Zhang, J.H.; Zhang, S.D.; Zhang, S.W.; Zhang, Z.; Zheng, Z.M.; Zhu, Z.Q.; Zhuang, H.L.; Zhukov, V.; Zichichi, A.; Zimmermann, N.; Zuccon, P.
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