Measurement of sin 2β with hadronic and previously unused muonic J/ψ decays

Aubert, B.; Barate, R.; Boutigny, D.; Gaillard, J. M.; Hicheur, A.; Karyotakis, Y.; Lees, J. P.; Robbe, P.; Tisserand, V.; Zghiche, A.; Palano, A.; Pompili, A.; Chen, J. C.; N. D., Qi; Rong, G.; Wang, P.; Zhu, Y. S.; Eigen, G.; Ofte, I.; Stugu, B.; Abrams, G. S.; Borgland, A. W.; Breon, A. B.; Brown, D. N.; Button Shafer, J.; Cahn, R. N.; Charles, E.; Day, C. T.; Gill, M. S.; Gritsan, A. V.; Groysman, Y.; Jacobsen, R. G.; Kadel, R. W.; Kadyk, J.; Kerth, L. T.; Kolomensky, Y. u. G.; Kral, J. F.; Kukartsev, G.; Leclerc, C.; Levi, M. E.; Lynch, G.; Mir, L. M.; Oddone, P. J.; Orimoto, T. J.; Pripstein, M.; Roe, N. A.; Romosan, A.; Ronan, M. T.; Shelkov, V. G.; Telnov, A. V.; Wenzel, W. A.; Ford, K.; Harrison, T. J.; Hawkes, C. M.; Knowles, D. J.; Morgan, S. E.; Penny, R. C.; Watson, A. T.; Watson, N. K.; Goetzen, K.; Held, T.; Koch, H.; Lewandowski, B.; Pelizaeus, M.; Peters, K.; Schmuecker, H.; Steinke, M.; Boyd, J. T.; Chevalier, N.; Cottingham, W. N.; Kelly, M. P.; Latham, T. E.; Mackay, C.; Wilson, F. F.; Abe, K.; Cuhadar Donszelmann, T.; Hearty, C.; Mattison, T. S.; Mckenna, J. A.; Thiessen, D.; Kyberd, P.; Mckemey, A. K.; Blinov, V. E.; Bukin, A. D.; Golubev, V. B.; Ivanchenko, V. N.; Kravchenko, E. A.; Onuchin, A. P.; Serednyakov, S. I.; Skovpen, Y. u. I.; Solodov, E. P.; Yushkov, A. N.; Best, D.; Bruinsma, M.; Chao, M.; Kirkby, D.; Lankford, A. J.; Mandelkern, M.; Mommsen, R. K.; Roethel, W.; Stoker, D. P.; Buchanan, C.; Hartfiel, B. L.; Shen, B. C.; del Re, D.; Hadavand, H. K.; Hill, E. J.; Macfarlane, D. B.; Paar, H. P.; Rahatlou, S. h.; Schwanke, U.; Sharma, V.; Berryhill, J. W.; Campagnari, C.; Dahmes, B.; Kuznetsova, N.; Levy, S. L.; Long, O.; Lu, A.; Mazur, M. A.; Richman, J. D.; Verkerke, W.; Beck, T. W.; Beringer, J.; Eisner, A. M.; Heusch, C. A.; Lockman, W. S.; Schalk, T.; Schmitz, R. E.; Schumm, B. A.; Seiden, A.; Turri, M.; Walkowiak, W.; Williams, D. C.; Wilson, M. G.; Albert, J.; Chen, E.; Dubois Felsmann, G. P.; Dvoretskii, A.; Hitlin, D. G.; Narsky, I.; Porter, F. C.; Ryd, A.; Samuel, A.; Yang, S.; Jayatilleke, S.; Mancinelli, G.; Meadows, B. T.; Sokoloff, M. D.; Abe, T.; Blanc, F.; Bloom, P.; Chen, S.; Clark, P. J.; Ford, W. T.; Nauenberg, U.; Olivas, A.; Rankin, P.; Roy, J.; Smith, J. G.; van Hoek, W. C.; Zhang, L.; Harton, J. L.; Hu, T.; Soffer, A.; Toki, W. H.; Wilson, R. J.; Zhang, J.; Aleksan, R.; Emery, S.; Gaidot, A.; Ganzhur, S. F.; Giraud, P. F.; Hamel de Monchenault, G.; Kozanecki, W.; Langer, M.; Legendre, M.; London, G. W.; Mayer, B.; Schott, G.; Vasseur, G.; Yeche, C. h.; Zito, M.; Altenburg, D.; Brandt, T.; Brose, J.; Colberg, T.; Dickopp, M.; Dubitzky, R. S.; Hauke, A.; Lacker, H. M.; Maly, E.; M\uller Pfefferkorn, R.; Nogowski, R.; Otto, S.; Schubert, J.; Schubert, K. R.; Schwierz, R.; Spaan, B.; Wilden, L.; Bernard, D.; Bonneaud, G. R.; Brochard, F.; Cohen Tanugi, J.; Grenier, P.; Thiebaux, C. h.; Vasileiadis, G.; Verderi, M.; Khan, A.; Lavin, D.; Muheim, F.; Playfer, S.; Swain, J. E.; Andreotti, M.; Azzolini, V.; Bettoni, D.; Bozzi, C.; Calabrese, R.; Cibinetto, G.; Luppi, E.; Negrini, M.; Piemontese, L.; Sarti, A.; Treadwell, E.; Anulli, F.; Baldini Ferroli, R.; Calcaterra, A.; de Sangro, R.; Falciai, D.; Finocchiaro, G.; Patteri, P.; Peruzzi, I. M.; Piccolo, M.; Zallo, A.; Buzzo, A.; Capra, R.; Contri, R.; Crosetti, G.; Lo Vetere, M.; Macri, M.; Monge, M. R.; Passaggio, S.; Patrignani, Claudia; Robutti, E.; Santroni, A.; Tosi, S.; Bailey, S.; Morii, M.; Won, E.; Bhimji, W.; Bowerman, D. A.; Dauncey, P. D.; Egede, U.; Eschrich, I.; Gaillard, J. R.; Morton, G. W.; Nash, J. A.; Sanders, P.; Taylor, G. P.; Grenier, G. J.; Lee, S. J.; Mallik, U.; Cochran, J.; Crawley, H. B.; Lamsa, J.; Meyer, W. T.; Prell, S.; Rosenberg, E. I.; Yi, J.; Biasini, M.; Pioppi, M.; Davier, M.; Grosdidier, G.; H\ocker, A.; Laplace, S.; Le Diberder, F.; Lepeltier, V.; Lutz, A. M.; Petersen, T. C.; Plaszczynski, S.; Schune, M. H.; Tantot, L.; Wormser, G.; Brigljevi\ifmmode \acute{c}\else \'{c}\fi{}, V.; Cheng, C. H.; Lange, D. J.; Wright, D. M.; Bevan, A. J.; Coleman, J. P.; Fry, J. R.; Gabathuler, E.; Gamet, R.; Kay, M.; Parry, R. J.; Payne, D. J.; Sloane, R. J.; Touramanis, C.; Back, J. J.; Harrison, P. F.; Shorthouse, H. W.; Strother, P.; Vidal, P. B.; Brown, C. L.; Cowan, G.; Flack, R. L.; Flaecher, H. U.; George, S.; Green, M. G.; Kurup, A.; Marker, C. E.; Mcmahon, T. R.; Ricciardi, S.; Salvatore, F.; Vaitsas, G.; Winter, M. A.; Brown, D.; Davis, C. L.; Allison, J.; Barlow, N. R.; Barlow, R. J.; Hart, P. A.; Jackson, F.; Lafferty, G. D.; Lyon, A. J.; Weatherall, J. H.; Williams, J. C.; Farbin, A.; Jawahery, A.; Kovalskyi, D.; Lae, C. K.; Lillard, V.; Roberts, D. A.; Blaylock, G.; Dallapiccola, C.; Flood, K. T.; Hertzbach, S. S.; Kofler, R.; Koptchev, V. B.; Moore, T. B.; Saremi, S.; Staengle, H.; Willocq, S.; Cowan, R.; Sciolla, G.; Taylor, F.; Yamamoto, R. K.; Mangeol, D. J. J.; Milek, M.; Patel, P. M.; Robertson, S. H.; Lazzaro, A.; Palombo, F.; Bauer, J. M.; Cremaldi, L.; Eschenburg, V.; Godang, R.; Kroeger, R.; Reidy, J.; Sanders, D. A.; Summers, D. J.; Zhao, H. W.; Brunet, S.; Cote Ahern, D.; Taras, P.; Nicholson, H.; Raven, G.; Cartaro, C.; Cavallo, N.; De Nardo, G.; Fabozzi, F.; Gatto, C.; Lista, L.; Paolucci, P.; Piccolo, D.; Sciacca, C.; Losecco, J. M.; Gabriel, T. A.; Brau, B.; Gan, K. K.; Honscheid, K.; Hufnagel, D.; Kagan, H.; Kass, R.; Pulliam, T.; Wong, Q. K.; Brau, J.; Frey, R.; Potter, C. T.; Sinev, N. B.; Strom, D.; Torrence, E.; Colecchia, F.; Dorigo, A.; Galeazzi, F.; Margoni, M.; Morandin, M.; Posocco, M.; Rotondo, M.; Simonetto, F.; Stroili, R.; Tiozzo, G.; Voci, C.; Benayoun, M.; Briand, H.; Chauveau, J.; David, P.; de la Vaissi\`ere, C. h.; Del Buono, L.; Hamon, O.; John, M. J. J.; Leruste, P. h.; Ocariz, J.; Pivk, M.; Roos, L.; Stark, J.; T'Jampens, S.; Therin, G.; Manfredi, P. F.; Re, V.; Behera, P. K.; Gladney, L.; Guo, Q. H.; Panetta, J.; Angelini, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Bondioli, M.; Bucci, F.; Calderini, G.; Carpinelli, M.; Del Gamba, V.; Forti, F.; Giorgi, M. A.; Lusiani, A.; Marchiori, G.; Martinez Vidal, F.; Morganti, M.; Neri, N.; Paoloni, E.; Rama, M.; Rizzo, G.; Sandrelli, F.; Walsh, J.; Haire, M.; Judd, D.; Paick, K.; Wagoner, D. E.; Cavoto, G.; Danielson, N.; Elmer, P.; Lu, C.; Miftakov, V.; Olsen, J.; Smith, A. J. S.; Tanaka, H. A.; Varnes, E. W.; Bellini, F.; Faccini, R.; Ferrarotto, F.; Ferroni, F.; Gaspero, M.; Mazzoni, M. A.; Morganti, S.; Pierini, M.; Piredda, G.; Safai Tehrani, F.; Voena, C.; Christ, S.; Wagner, G.; Waldi, R.; Adye, T.; De Groot, N.; Franek, B.; Geddes, N. I.; Gopal, G. P.; Olaiya, E. O.; Xella, S. M.; Purohit, M. V.; Weidemann, A. W.; Yumiceva, F. X.; Aston, D.; Bartoldus, R.; Berger, N.; Boyarski, A. M.; Buchmueller, O. L.; Convery, M. R.; Coupal, D. P.; Dong, D.; Dorfan, J.; Dujmic, D.; Dunwoodie, W.; Field, R. C.; Glanzman, T.; Gowdy, S. J.; Grauges Pous, E.; Hadig, T.; Halyo, V.; Hryn'Ova, T.; Innes, W. R.; Jessop, C. P.; Kelsey, M. H.; Kim, P.; Kocian, M. L.; Langenegger, U.; Leith, D. W. G. S.; Luitz, S.; Luth, V.; Lynch, H. L.; Marsiske, H.; Messner, R.; Muller, D. R.; O'Grady, C. P.; Ozcan, V. E.; Perazzo, A.; Perl, M.; Petrak, S.; Ratcliff, B. N.; Roodman, A.; Salnikov, A. A.; Schindler, R. H.; Schwiening, J.; Simi, G.; Snyder, A.; Soha, A.; Stelzer, J.; Su, D.; Sullivan, M. K.; Va'Vra, J.; Wagner, S. R.; Weaver, M.; Weinstein, A. J. R.; Wisniewski, W. J.; Wright, D. H.; Young, C. C.; Burchat, P. R.; Edwards, A. J.; Meyer, T. I.; Petersen, B. A.; Roat, C.; Ahmed, S.; Alam, M. S.; Ernst, J. A.; Saleem, M.; Wappler, F. R.; Bugg, W.; Krishnamurthy, M.; Spanier, S. M.; Eckmann, R.; Kim, H.; Ritchie, J. L.; Schwitters, R. F.; Izen, J. M.; Kitayama, I.; Lou, X. C.; Ye, S.; Bianchi, F.; Bona, M.; Gallo, F.; Gamba, D.; Borean, C.; Bosisio, L.; Della Ricca, G.; Dittongo, S.; Grancagnolo, S.; Lanceri, L.; Poropat, P.; Vitale, L.; Vuagnin, G.; Panvini, R. S.; Banerjee, S. w.; Brown, C. M.; Fortin, D.; Jackson, P. D.; Kowalewski, R.; Roney, J. M.; Band, H. R.; Dasu, S.; Datta, M.; Eichenbaum, A. M.; Johnson, J. R.; Kutter, P. E.; Li, H.; Liu, R.; Di Lodovico, F.; Mihalyi, A.; Mohapatra, A. K.; Pan, Y.; Prepost, R.; Sekula, S. J.; von Wimmersperg Toeller, J. H.; Wu, J.; S. L., Wu; Yu, Z.; Neal, H.

doi:10.1103/PhysRevD.69.052001

We report a measurement of the CP-violation parameter sin 2β with B0J/ψKS0 decays in which the J/ψ decays to hadrons or to muons that do not satisfy our standard identification criteria. With a sample of 88 million BB̄ events collected by the BABAR detector at the PEP-II asymmetric-energy B factory at SLAC, we reconstruct 100±17 such events, with J/ψ→π-π -π0 being the most prevalent, and measure sin2β=1.56± 0.42(stat)±0.21(syst). © 2004 The American Physical Society.

Aubert, B., Barate, R., Boutigny, D., Gaillard, J., Hicheur, A., Karyotakis, Y., et al. (2004). Measurement of sin 2β with hadronic and previously unused muonic J/ψ decays. PHYSICAL REVIEW D, 69(5), 1-8 [10.1103/PhysRevD.69.052001].

Measurement of sin 2β with hadronic and previously unused muonic J/ψ decays

Aubert, B.;Barate, R.;Boutigny, D.;Gaillard, J. M.;Hicheur, A.;Karyotakis, Y.;Lees, J. P.;Robbe, P.;Tisserand, V.;Zghiche, A.;Palano, A.;Pompili, A.;Chen, J. C.;Qi, N. D.;Rong, G.;Wang, P.;Zhu, Y. S.;Eigen, G.;Ofte, I.;Stugu, B.;Abrams, G. S.;Borgland, A. W.;Breon, A. B.;Brown, D. N.;Button Shafer, J.;Cahn, R. N.;Charles, E.;Day, C. T.;Gill, M. S.;Gritsan, A. V.;Groysman, Y.;Jacobsen, R. G.;Kadel, R. W.;Kadyk, J.;Kerth, L. T.;Kolomensky, Y.u. G.;Kral, J. F.;Kukartsev, G.;LeClerc, C.;Levi, M. E.;Lynch, G.;Mir, L. M.;Oddone, P. J.;Orimoto, T. J.;Pripstein, M.;Roe, N. A.;Romosan, A.;Ronan, M. T.;Shelkov, V. G.;Telnov, A. V.;Wenzel, W. A.;Ford, K.;Harrison, T. J.;Hawkes, C. M.;Knowles, D. J.;Morgan, S. E.;Penny, R. C.;Watson, A. T.;Watson, N. K.;Goetzen, K.;Held, T.;Koch, H.;Lewandowski, B.;Pelizaeus, M.;Peters, K.;Schmuecker, H.;Steinke, M.;Boyd, J. T.;Chevalier, N.;Cottingham, W. N.;Kelly, M. P.;Latham, T. E.;Mackay, C.;Wilson, F. F.;Abe, K.;Cuhadar Donszelmann, T.;Hearty, C.;Mattison, T. S.;McKenna, J. A.;Thiessen, D.;Kyberd, P.;McKemey, A. K.;Blinov, V. E.;Bukin, A. D.;Golubev, V. B.;Ivanchenko, V. N.;Kravchenko, E. A.;Onuchin, A. P.;Serednyakov, S. I.;Skovpen, Y.u. I.;Solodov, E. P.;Yushkov, A. N.;Best, D.;Bruinsma, M.;Chao, M.;Kirkby, D.;Lankford, A. J.;Mandelkern, M.;Mommsen, R. K.;Roethel, W.;Stoker, D. P.;Buchanan, C.;Hartfiel, B. L.;Shen, B. C.;del Re, D.;Hadavand, H. K.;Hill, E. J.;MacFarlane, D. B.;Paar, H. P.;Rahatlou, S.h.;Schwanke, U.;Sharma, V.;Berryhill, J. W.;Campagnari, C.;Dahmes, B.;Kuznetsova, N.;Levy, S. L.;Long, O.;Lu, A.;Mazur, M. A.;Richman, J. D.;Verkerke, W.;Beck, T. W.;Beringer, J.;Eisner, A. M.;Heusch, C. A.;Lockman, W. S.;Schalk, T.;Schmitz, R. E.;Schumm, B. A.;Seiden, A.;Turri, M.;Walkowiak, W.;Williams, D. C.;Wilson, M. G.;Albert, J.;Chen, E.;Dubois Felsmann, G. P.;Dvoretskii, A.;Hitlin, D. G.;Narsky, I.;Porter, F. C.;Ryd, A.;Samuel, A.;Yang, S.;Jayatilleke, S.;Mancinelli, G.;Meadows, B. T.;Sokoloff, M. D.;Abe, T.;Blanc, F.;Bloom, P.;Chen, S.;Clark, P. J.;Ford, W. T.;Nauenberg, U.;Olivas, A.;Rankin, P.;Roy, J.;Smith, J. G.;van Hoek, W. C.;Zhang, L.;Harton, J. L.;Hu, T.;Soffer, A.;Toki, W. H.;Wilson, R. J.;Zhang, J.;Aleksan, R.;Emery, S.;Gaidot, A.;Ganzhur, S. F.;Giraud, P. F.;Hamel de Monchenault, G.;Kozanecki, W.;Langer, M.;Legendre, M.;London, G. W.;Mayer, B.;Schott, G.;Vasseur, G.;Yeche, C.h.;Zito, M.;Altenburg, D.;Brandt, T.;Brose, J.;Colberg, T.;Dickopp, M.;Dubitzky, R. S.;Hauke, A.;Lacker, H. M.;Maly, E.;M\uller Pfefferkorn, R.;Nogowski, R.;Otto, S.;Schubert, J.;Schubert, K. R.;Schwierz, R.;Spaan, B.;Wilden, L.;Bernard, D.;Bonneaud, G. R.;Brochard, F.;Cohen Tanugi, J.;Grenier, P.;Thiebaux, C.h.;Vasileiadis, G.;Verderi, M.;Khan, A.;Lavin, D.;Muheim, F.;Playfer, S.;Swain, J. E.;Andreotti, M.;Azzolini, V.;Bettoni, D.;Bozzi, C.;Calabrese, R.;Cibinetto, G.;Luppi, E.;Negrini, M.;Piemontese, L.;Sarti, A.;Treadwell, E.;Anulli, F.;Baldini Ferroli, R.;Calcaterra, A.;de Sangro, R.;Falciai, D.;Finocchiaro, G.;Patteri, P.;Peruzzi, I. M.;Piccolo, M.;Zallo, A.;Buzzo, A.;Capra, R.;Contri, R.;Crosetti, G.;Lo Vetere, M.;Macri, M.;Monge, M. R.;Passaggio, S.;PATRIGNANI, CLAUDIA;Robutti, E.;Santroni, A.;Tosi, S.;Bailey, S.;Morii, M.;Won, E.;Bhimji, W.;Bowerman, D. A.;Dauncey, P. D.;Egede, U.;Eschrich, I.;Gaillard, J. R.;Morton, G. W.;Nash, J. A.;Sanders, P.;Taylor, G. P.;Grenier, G. J.;Lee, S. J.;Mallik, U.;Cochran, J.;Crawley, H. B.;Lamsa, J.;Meyer, W. T.;Prell, S.;Rosenberg, E. I.;Yi, J.;Biasini, M.;Pioppi, M.;Davier, M.;Grosdidier, G.;H\ocker, A.;Laplace, S.;Le Diberder, F.;Lepeltier, V.;Lutz, A. M.;Petersen, T. C.;Plaszczynski, S.;Schune, M. H.;Tantot, L.;Wormser, G.;Cheng, C. H.;Lange, D. J.;Wright, D. M.;Bevan, A. J.;Coleman, J. P.;Fry, J. R.;Gabathuler, E.;Gamet, R.;Kay, M.;Parry, R. J.;Payne, D. J.;Sloane, R. J.;Touramanis, C.;Back, J. J.;Harrison, P. F.;Shorthouse, H. W.;Strother, P.;Vidal, P. B.;Brown, C. L.;Cowan, G.;Flack, R. L.;Flaecher, H. U.;George, S.;Green, M. G.;Kurup, A.;Marker, C. E.;McMahon, T. R.;Ricciardi, S.;Salvatore, F.;Vaitsas, G.;Winter, M. A.;Brown, D.;Davis, C. L.;Allison, J.;Barlow, N. R.;Barlow, R. J.;Hart, P. A.;Jackson, F.;Lafferty, G. D.;Lyon, A. J.;Weatherall, J. H.;Williams, J. C.;Farbin, A.;Jawahery, A.;Kovalskyi, D.;Lae, C. K.;Lillard, V.;Roberts, D. A.;Blaylock, G.;Dallapiccola, C.;Flood, K. T.;Hertzbach, S. S.;Kofler, R.;Koptchev, V. B.;Moore, T. B.;Saremi, S.;Staengle, H.;Willocq, S.;Cowan, R.;Sciolla, G.;Taylor, F.;Yamamoto, R. K.;Mangeol, D. J. J.;Milek, M.;Patel, P. M.;Robertson, S. H.;Lazzaro, A.;Palombo, F.;Bauer, J. M.;Cremaldi, L.;Eschenburg, V.;Godang, R.;Kroeger, R.;Reidy, J.;Sanders, D. A.;Summers, D. J.;Zhao, H. W.;Brunet, S.;Cote Ahern, D.;Taras, P.;Nicholson, H.;Raven, G.;Cartaro, C.;Cavallo, N.;De Nardo, G.;Fabozzi, F.;Gatto, C.;Lista, L.;Paolucci, P.;Piccolo, D.;Sciacca, C.;LoSecco, J. M.;Gabriel, T. A.;Brau, B.;Gan, K. K.;Honscheid, K.;Hufnagel, D.;Kagan, H.;Kass, R.;Pulliam, T.;Wong, Q. K.;Brau, J.;Frey, R.;Potter, C. T.;Sinev, N. B.;Strom, D.;Torrence, E.;Colecchia, F.;Dorigo, A.;Galeazzi, F.;Margoni, M.;Morandin, M.;Posocco, M.;Rotondo, M.;Simonetto, F.;Stroili, R.;Tiozzo, G.;Voci, C.;Benayoun, M.;Briand, H.;Chauveau, J.;David, P.;de la Vaissi\`ere, C.h.;Del Buono, L.;Hamon, O.;John, M. J. J.;Leruste, P.h.;Ocariz, J.;Pivk, M.;Roos, L.;Stark, J.;T'Jampens, S.;Therin, G.;Manfredi, P. F.;Re, V.;Behera, P. K.;Gladney, L.;Guo, Q. H.;Panetta, J.;Angelini, C.;Batignani, G.;Bettarini, S.;Bondioli, M.;Bucci, F.;Calderini, G.;Carpinelli, M.;Del Gamba, V.;Forti, F.;Giorgi, M. A.;Lusiani, A.;Marchiori, G.;Martinez Vidal, F.;Morganti, M.;Neri, N.;Paoloni, E.;Rama, M.;Rizzo, G.;Sandrelli, F.;Walsh, J.;Haire, M.;Judd, D.;Paick, K.;Wagoner, D. E.;Cavoto, G.;Danielson, N.;Elmer, P.;Lu, C.;Miftakov, V.;Olsen, J.;Smith, A. J. S.;Tanaka, H. A.;Varnes, E. W.;Bellini, F.;Faccini, R.;Ferrarotto, F.;Ferroni, F.;Gaspero, M.;Mazzoni, M. A.;Morganti, S.;Pierini, M.;Piredda, G.;Safai Tehrani, F.;Voena, C.;Christ, S.;Wagner, G.;Waldi, R.;Adye, T.;De Groot, N.;Franek, B.;Geddes, N. I.;Gopal, G. P.;Olaiya, E. O.;Xella, S. M.;Purohit, M. V.;Weidemann, A. W.;Yumiceva, F. X.;Aston, D.;Bartoldus, R.;Berger, N.;Boyarski, A. M.;Buchmueller, O. L.;Convery, M. R.;Coupal, D. P.;Dong, D.;Dorfan, J.;Dujmic, D.;Dunwoodie, W.;Field, R. C.;Glanzman, T.;Gowdy, S. J.;Grauges Pous, E.;Hadig, T.;Halyo, V.;Hryn'ova, T.;Innes, W. R.;Jessop, C. P.;Kelsey, M. H.;Kim, P.;Kocian, M. L.;Langenegger, U.;Leith, D. W. G. S.;Luitz, S.;Luth, V.;Lynch, H. L.;Marsiske, H.;Messner, R.;Muller, D. R.;O'Grady, C. P.;Ozcan, V. E.;Perazzo, A.;Perl, M.;Petrak, S.;Ratcliff, B. N.;Roodman, A.;Salnikov, A. A.;Schindler, R. H.;Schwiening, J.;Simi, G.;Snyder, A.;Soha, A.;Stelzer, J.;Su, D.;Sullivan, M. K.;Va'vra, J.;Wagner, S. R.;Weaver, M.;Weinstein, A. J. R.;Wisniewski, W. J.;Wright, D. H.;Young, C. C.;Burchat, P. R.;Edwards, A. J.;Meyer, T. I.;Petersen, B. A.;Roat, C.;Ahmed, S.;Alam, M. S.;Ernst, J. A.;Saleem, M.;Wappler, F. R.;Bugg, W.;Krishnamurthy, M.;Spanier, S. M.;Eckmann, R.;Kim, H.;Ritchie, J. L.;Schwitters, R. F.;Izen, J. M.;Kitayama, I.;Lou, X. C.;Ye, S.;Bianchi, F.;Bona, M.;Gallo, F.;Gamba, D.;Borean, C.;Bosisio, L.;Della Ricca, G.;Dittongo, S.;Grancagnolo, S.;Lanceri, L.;Poropat, P.;Vitale, L.;Vuagnin, G.;Panvini, R. S.;Banerjee, S.w.;Brown, C. M.;Fortin, D.;Jackson, P. D.;Kowalewski, R.;Roney, J. M.;Band, H. R.;Dasu, S.;Datta, M.;Eichenbaum, A. M.;Johnson, J. R.;Kutter, P. E.;Li, H.;Liu, R.;Di Lodovico, F.;Mihalyi, A.;Mohapatra, A. K.;Pan, Y.;Prepost, R.;Sekula, S. J.;von Wimmersperg Toeller, J. H.;Wu, J.;Wu, S. L.;Yu, Z.;Neal, H.

2004

Abstract

We report a measurement of the CP-violation parameter sin 2β with B0J/ψKS0 decays in which the J/ψ decays to hadrons or to muons that do not satisfy our standard identification criteria. With a sample of 88 million BB̄ events collected by the BABAR detector at the PEP-II asymmetric-energy B factory at SLAC, we reconstruct 100±17 such events, with J/ψ→π-π -π0 being the most prevalent, and measure sin2β=1.56± 0.42(stat)±0.21(syst). © 2004 The American Physical Society.

Scheda breve

Scheda completa

Scheda completa (DC)

	Anno
	
				2004
			
	Rivista
	
				PHYSICAL REVIEW D
			
	Codice DOI
	
				https://dx.doi.org/10.1103/PhysRevD.69.052001
			
	Citazione
	
				Aubert, B., Barate, R., Boutigny, D., Gaillard, J., Hicheur, A., Karyotakis, Y., et al. (2004). Measurement of sin 2β with hadronic and previously unused muonic J/ψ decays. PHYSICAL REVIEW D, 69(5), 1-8 [10.1103/PhysRevD.69.052001].
			
	Tutti gli autori
	
						Aubert, B.; Barate, R.; Boutigny, D.; Gaillard, J.-M.; Hicheur, A.; Karyotakis, Y.; Lees, J. P.; Robbe, P.; Tisserand, V.; Zghiche, A.; Palano, A.; Po...espandi
						
	Appare nelle tipologie:
	
				1.01 Articolo in rivista

File in questo prodotto:

Eventuali allegati, non sono esposti

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11585/552434

Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo

Citazioni

ND

6

4

CRIS Current Research Information System