We present updated results on time-dependent CP asymmetries in fully reconstructed B0→D(*)±π and B0→D±ρ decays in approximately 232×106 Υ(4S)→BB̄ events collected with the BABAR detector at the PEP-II asymmetric-energy B factory at SLAC. From a time-dependent maximum-likelihood fit we obtain for the parameters related to the CP violation angle 2β+γ: aDπ=-0.010±0.023±0.007, clepDπ=-0.033±0.042±0.012, aD*π=-0.040±0. 023±0.010, clepD*π=0.049±0.042±0.015,aDρ=-0. 024±0.031±0.009, clepDρ=-0.098±0.055±0.018, where the first error is statistical and the second is systematic. Using other measurements and theoretical assumptions, we interpret the results in terms of the angles of the Cabibbo-Kobayashi-Maskawa unitarity triangle and find |sin (2β+γ)|>0.64(0.40) at 68% (90%) confidence level. © 2006 The American Physical Society.

Measurement of time-dependent CP asymmetries in B0→D(*) ±π and B0→D±ρ decays

PATRIGNANI, CLAUDIA;
2006

Abstract

We present updated results on time-dependent CP asymmetries in fully reconstructed B0→D(*)±π and B0→D±ρ decays in approximately 232×106 Υ(4S)→BB̄ events collected with the BABAR detector at the PEP-II asymmetric-energy B factory at SLAC. From a time-dependent maximum-likelihood fit we obtain for the parameters related to the CP violation angle 2β+γ: aDπ=-0.010±0.023±0.007, clepDπ=-0.033±0.042±0.012, aD*π=-0.040±0. 023±0.010, clepD*π=0.049±0.042±0.015,aDρ=-0. 024±0.031±0.009, clepDρ=-0.098±0.055±0.018, where the first error is statistical and the second is systematic. Using other measurements and theoretical assumptions, we interpret the results in terms of the angles of the Cabibbo-Kobayashi-Maskawa unitarity triangle and find |sin (2β+γ)|>0.64(0.40) at 68% (90%) confidence level. © 2006 The American Physical Society.
Aubert, B; Barate, R.; Boutigny, D.; Couderc, F.; Karyotakis, Y.; Lees, J.P.; Poireau, V.; Tisserand, V.; Zghiche, A.; Grauges, E.; Palano, A.; Pappagallo, M.; Chen, J.C.; Qi, N.D.; Rong, G.; Wang, P.; Zhu, Y.S.; Eigen, G.; Ofte, I.; Stugu, B.; Abrams, G.S.; Battaglia, M.; Best, D.S.; Brown, D.N.; Button-Shafer, J.; Cahn, R.N.; Charles, E.; Day, C.T.; Gill, M.S.; Gritsan, A.V.; Groysman, Y.; Jacobsen, R.G.; Kadyk, J.A.; Kerth, L.T.; Kolomensky, Yu.G.; Kukartsev, G.; Lynch, G.; Mir, L.M.; Oddone, P.J.; Orimoto, T.J.; Pripstein, M.; Roe, N.A.; Ronan, M.T.; Wenzel, W.A.; Barrett, M.; Ford, K.E.; Harrison, T.J.; Hart, A.J.; Hawkes, C.M.; Morgan, S.E.; Watson, A.T.; Fritsch, M.; Goetzen, K.; Held, T.; Koch, H.; Lewandowski, B.; Pelizaeus, M.; Peters, K.; Schroeder, T.; Steinke, M.; Boyd, J.T.; Burke, J.P.; Cottingham, W.N.; Walker, D.; Cuhadar-Donszelmann, T.; Fulsom, B.G.; Hearty, C.; Knecht, N.S.; Mattison, T.S.; Mckenna, J.A.; Khan, A.; Kyberd, P.; Saleem, M.; Teodorescu, L.; Blinov, V.E.; Bukin, A.D.; Buzykaev, A.; Druzhinin, V.P.; Golubev, V.B.; Onuchin, A.P.; Serednyakov, S.I.; Skovpen, Yu.I.; Solodov, E.P.; Todyshev, K.Yu.; Bondioli, M.; Bruinsma, M.; Chao, M.; Curry, S.; Eschrich, I.; Kirkby, D.; Lankford, A.J.; Lund, P.; Mandelkern, M.; Mommsen, R.K.; Roethel, W.; Stoker, D.P.; Abachi, S.; Buchanan, C.; Foulkes, S.D.; Gary, J.W.; Long, O.; Shen, B.C.; Wang, K.; Zhang, L.; Del Re, D.; Hadavand, H.K.; Hill, E.J.; Paar, H.P.; Rahatlou, S.; Sharma, V.; Berryhill, J.W.; Campagnari, C.; Cunha, A.; Dahmes, B.; Hong, T.M.; Richman, J.D.; Beck, T.W.; Eisner, A.M.; Flacco, C.J.; Heusch, C.A.; Kroseberg, J.; Lockman, W.S.; Nesom, G.; Schalk, T.; Schumm, B.A.; Seiden, A.; Spradlin, P.; Williams, D.C.; Wilson, M.G.; Albert, J.; Chen, E.; Dubois-Felsmann, G.P.; Dvoretskii, A.; Hitlin, D.G.; Narsky, I.; Piatenko, T.; Porter, F.C.; Ryd, A.; Samuel, A.; Andreassen, R.; Mancinelli, G.; Meadows, B.T.; Sokoloff, M.D.; Blanc, F.; Bloom, P.C.; Chen, S.; Ford, W.T.; Hirschauer, J.F.; Kreisel, A.; Nauenberg, U.; Olivas, A.; Ruddick, W.O.; Smith, J.G.; Ulmer, K.A.; Wagner, S.R.; Zhang, J.; Chen, A.; Eckhart, E.A.; Soffer, A.; Toki, W.H.; Wilson, R.J.; Winklmeier, F.; Zeng, Q.; Altenburg, D.D.; Feltresi, E.; Hauke, A.; Jasper, H.; Spaan, B.; Brandt, T.; Klose, V.; Lacker, H.M.; Nogowski, R.; Petzold, A.; Schubert, J.; Schubert, K.R.; Schwierz, R.; Sundermann, J.E.; Volk, A.; Bernard, D.; Bonneaud, G.R.; Grenier, P.; Latour, E.; Thiebaux, Ch.; Verderi, M.; Bard, D.J.; Clark, P.J.; Gradl, W.; Muheim, F.; Playfer, S.; Xie, Y.; Andreotti, M.; Bettoni, D.; Bozzi, C.; Calabrese, R.; Cibinetto, G.; Luppi, E.; Negrini, M.; Piemontese, L.; Anulli, F.; Baldini-Ferroli, R.; Calcaterra, A.; De Sangro, R.; Finocchiaro, G.; Pacetti, S.; Patteri, P.; Peruzzi, I.M.; Piccolo, M.; Zallo, A.; Buzzo, A.; Capra, R.; Contri, R.; Vetere, M. Lo; Macri, M.M.; Monge, M.R.; Passaggio, S.; Patrignani, C.; Robutti, E.; Santroni, A.; Tosi, S.; Brandenburg, G.; Chaisanguanthum, K.S.; Morii, M.; Wu, J.; Dubitzky, R.S.; Marks, J.; Schenk, S.; Uwer, U.; Bhimji, W.; Bowerman, D.A.; Dauncey, P.D.; Egede, U.; Flack, R.L.; Gaillard, J.R.; Nash, J.A.; Nikolich, M.B.; Vazquez, W. Panduro; Chai, X.; Charles, M.J.; Mader, W.F.; Mallik, U.; Ziegler, V.; Cochran, J.; Crawley, H.B.; Dong, L.; Eyges, V.; Meyer, W.T.; Prell, S.; Rosenberg, E.I.; Rubin, A.E.; Schott, G.; Arnaud, N.; Davier, M.; Grosdidier, G.; Höcker, A.; Diberder, F. Le; Lepeltier, V.; Lutz, A.M.; Oyanguren, A.; Petersen, T.C.; Pruvot, S.; Rodier, S.; Roudeau, P.; Schune, M.H.; Stocchi, A.; Wang, W.F.; Wormser, G.; Cheng, C.H.; Lange, D.J.; Wright, D.M.; Chavez, C.A.; Forster, I.J.; Fry, J.R.; Gabathuler, E.; Gamet, R.; George, K.A.; Hutchcroft, D.E.; Payne, D.J.; Schofield, K.C.; Touramanis, C.; Bevan, A.J.; Lodovico, F. Di; Menges, W.; Sacco, R.; Brown, C.L.; Cowan, G.; Flaecher, H.U.; Hopkins, D.A.; Jackson, P.S.; Mcmahon, T.R.; Ricciardi, S.; Salvatore, F.; Brown, D.N.; Davis, C.L.; Allison, J.; Barlow, N.R.; Barlow, R.J.; Chia, Y.M.; Edgar, C.L.; Kelly, M.P.; Lafferty, G.D.; Naisbit, M.T.; Williams, J.C.; Yi, J.I.; Chen, C.; Hulsbergen, W.D.; Jawahery, A.; Kovalskyi, D.; Lae, C.K.; Roberts, D.A.; Simi, G.; Blaylock, G.; Dallapiccola, C.; Hertzbach, S.S.; Li, X.; Moore, T.B.; Saremi, S.; Staengle, H.; Willocq, S.Y.; Cowan, R.; Koeneke, K.; Sciolla, G.; Sekula, S.J.; Spitznagel, M.; Taylor, F.; Yamamoto, R.K.; Kim, H.; Patel, P.M.; Potter, C.T.; Robertson, S.H.; Lazzaro, A.; Lombardo, V.; Palombo, F.; Bauer, J.M.; Cremaldi, L.; Eschenburg, V.; Godang, R.; Kroeger, R.; Reidy, J.; Sanders, D.A.; Summers, D.J.; Zhao, H.W.; Brunet, S.; Côté, D.; Simard, M.; Taras, P.; Viaud, F.B.; Nicholson, H.; Cavallo, N.; Nardo, G. De; Fabozzi, F.; Gatto, C.; Lista, L.; Monorchio, D.; Piccolo, D.; Sciacca, C.; Baak, M.; Bulten, H.; Raven, G.; Snoek, H.L.; Jessop, C.P.; Losecco, J.M.; Allmendinger, T.; Benelli, G.; Gan, K.K.; Honscheid, K.; Hufnagel, D.; Jackson, P.D.; Kagan, H.; Kass, R.; Pulliam, T.; Rahimi, A.M.; Ter-Antonyan, R.; Wong, Q.K.; Blount, N.L.; Brau, J.; Frey, R.; Igonkina, O.; Lu, M.; Rahmat, R.; Sinev, N.B.; Strom, D.; Strube, J.; Torrence, E.; Galeazzi, F.; Gaz, A.; Margoni, M.; Morandin, M.; Pompili, A.; Posocco, M.; Rotondo, M.; Simonetto, F.; Stroili, R.; Voci, C.; Benayoun, M.; Chauveau, J.; David, P.; Buono, L. Del; De La Vaissière, Ch.; Hamon, O.; Hartfiel, B.L.; John, M.J.J.; Leruste, Ph.; Malclès, J.; Ocariz, J.; Roos, L.; Therin, G.; Behera, P.K.; Gladney, L.; Panetta, J.; Biasini, M.; Covarelli, R.; Pioppi, M.; Angelini, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Bucci, F.; Calderini, G.; Carpinelli, M.; Cenci, R.; Forti, F.; Giorgi, M.A.; Lusiani, A.; Marchiori, G.; Mazur, M.A.; Morganti, M.; Neri, N.; Paoloni, E.; Rama, M.; Rizzo, G.; Walsh, J.; Haire, M.; Judd, D.; Wagoner, D.E.; Biesiada, J.; Danielson, N.; Elmer, P.; Lau, Y.P.; Lu, C.; Olsen, J.; Smith, A.J.S.; Telnov, A.V.; Bellini, F.; Cavoto, G.; D'Orazio, A.; Marco, E. Di; Faccini, R.; Ferrarotto, F.; Ferroni, F.; Gaspero, M.; Gioi, L. Li; Mazzoni, M.A.; Morganti, S.; Piredda, G.; Polci, F.; Tehrani, F. Safai; Voena, C.; Schröder, H.; Waldi, R.; Adye, T.; Groot, N. De; Franek, B.; Olaiya, E.O.; Wilson, F.F.; Emery, S.; Gaidot, A.; Ganzhur, S.F.; De Monchenault, G. Hamel; Kozanecki, W.; Legendre, M.; Mayer, B.; Vasseur, G.; Yèche, Ch.; Zito, M.; Park, W.; Purohit, M.V.; Weidemann, A.W.; Wilson, J.R.; Allen, M.T.; Aston, D.; Bartoldus, R.; Bechtle, P.; Berger, N.; Boyarski, A.M.; Claus, R.; Coleman, J.P.; Convery, M.R.; Cristinziani, M.; Dingfelder, J.C.; Dong, D.; Dorfan, J.; Dujmic, D.; Dunwoodie, W.; Field, R.C.; Glanzman, T.; Gowdy, S.J.; Halyo, V.; Hast, C.; Hryn'Ova, T.; Innes, W.R.; Kelsey, M.H.; Kim, P.; Kocian, M.L.; Leith, D.W.G.S.; Libby, J.; Luitz, S.; Luth, V.; Lynch, H.L.; Macfarlane, D.B.; Marsiske, H.; Messner, R.; Muller, D.R.; O'Grady, C.P.; Ozcan, V.E.; Perazzo, A.; Perl, M.; Ratcliff, B.N.; Roodman, A.; Salnikov, A.A.; Schindler, R.H.; Schwiening, J.; Snyder, A.; Stelzer, J.; Su, D.; Sullivan, M.K.; Suzuki, K.; Swain, S.K.; Thompson, J.M.; Va'Vra, J.; Van Bakel, N.; Weaver, M.; Weinstein, A.J.R.; Wisniewski, W.J.; Wittgen, M.; Wright, D.H.; Yarritu, A.K.; Yi, K.; Young, C.C.; Burchat, P.R.; Edwards, A.J.; Majewski, S.A.; Petersen, B.A.; Roat, C.; Wilden, L.; Ahmed, S.; Alam, M.S.; Bula, R.; Ernst, J.A.; Jain, V.; Pan, B.; Saeed, M.A.; Wappler, F.R.; Zain, S.B.; Bugg, W.; Krishnamurthy, M.; Spanier, S.M.; Eckmann, R.; Ritchie, J.L.; Satpathy, A.; Schwitters, R.F.; Izen, J.M.; Kitayama, I.; Lou, X.C.; Ye, S.; Bianchi, F.; Bona, M.; Gallo, F.; Gamba, D.; Bomben, M.; Bosisio, L.; Cartaro, C.; Cossutti, F.; Ricca, G. Della; Dittongo, S.; Grancagnolo, S.; Lanceri, L.; Vitale, L.; Azzolini, V.; Martinez-Vidal, F.; Panvini, R.S.; Banerjee, Sw.; Bhuyan, B.; Brown, C.M.; Fortin, D.; Hamano, K.; Kowalewski, R.; Nugent, I.M.; Roney, J.M.; Sobie, R.J.; Back, J.J.; Harrison, P.F.; Latham, T.E.; Mohanty, G.B.; Band, H.R.; Chen, X.; Cheng, B.; Dasu, S.; Datta, M.; Eichenbaum, A.M.; Flood, K.T.; Graham, M.T.; Hollar, J.J.; Johnson, J.R.; Kutter, P.E.; Li, H.; Liu, R.; Mellado, B.; Mihalyi, A.; Mohapatra, A.K.; Pan, Y.; Pierini, M.; Prepost, R.; Tan, P.; Wu, S.L.; Yu, Z.; Neal, H.
File in questo prodotto:
Eventuali allegati, non sono esposti

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: http://hdl.handle.net/11585/551602
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo

Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 29
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 99
social impact