Measurements of neutral B decay branching fractions to KS0π+π- final states and the charge asymmetry of B0→K*+π-

Aubert, B; Barate, R.; Boutigny, D.; Couderc, F.; Karyotakis, Y.; Lees, J. P.; Poireau, V.; Tisserand, V.; Zghiche, A.; Grauges, E.; Palano, A.; Pappagallo, M.; Pompili, A.; Chen, J. C.; N. D., Qi; Rong, G.; Wang, P.; Zhu, Y. S.; Eigen, G.; Ofte, I.; Stugu, B.; Abrams, G. S.; Battaglia, M.; Breon, A. B.; Brown, D. N.; Button Shafer, J.; Cahn, R. N.; Charles, E.; Day, C. T.; Gill, M. S.; Gritsan, A. V.; Groysman, Y.; Jacobsen, R. G.; Kadel, R. W.; Kadyk, J.; Kerth, L. T.; Kolomensky, Y. u. G.; Kukartsev, G.; Lynch, G.; Mir, L. M.; Oddone, P. J.; Orimoto, T. J.; Pripstein, M.; Roe, N. A.; Ronan, M. T.; Wenzel, W. A.; Barrett, M.; Ford, K. E.; Harrison, T. J.; Hart, A. J.; Hawkes, C. M.; Morgan, S. E.; Watson, A. T.; Fritsch, M.; Goetzen, K.; Held, T.; Koch, H.; Lewandowski, B.; Pelizaeus, M.; Peters, K.; Schroeder, T.; Steinke, M.; Boyd, J. T.; Burke, J. P.; Chevalier, N.; Cottingham, W. N.; Cuhadar Donszelmann, T.; Fulsom, B. G.; Hearty, C.; Knecht, N. S.; Mattison, T. S.; Mckenna, J. A.; Khan, A.; Kyberd, P.; Saleem, M.; Teodorescu, L.; Blinov, A. E.; Blinov, V. E.; Bukin, A. D.; Druzhinin, V. P.; Golubev, V. B.; Kravchenko, E. A.; Onuchin, A. P.; Serednyakov, S. I.; Skovpen, Y. u. I.; Solodov, E. P.; Yushkov, A. N.; Best, D.; Bondioli, M.; Bruinsma, M.; Chao, M.; Curry, S.; Eschrich, I.; Kirkby, D.; Lankford, A. J.; Lund, P.; Mandelkern, M.; Mommsen, R. K.; Roethel, W.; Stoker, D. P.; Buchanan, C.; Hartfiel, B. L.; Weinstein, A. J. R.; Foulkes, S. D.; Gary, J. W.; Long, O.; Shen, B. C.; Wang, K.; Zhang, L.; Del Re, D.; Hadavand, H. K.; Hill, E. J.; Macfarlane, D. B.; Paar, H. P.; Rahatlou, S.; Sharma, V.; Berryhill, J. W.; Campagnari, C.; Cunha, A.; Dahmes, B.; Hong, T. M.; Mazur, M. A.; Richman, J. D.; Verkerke, W.; Beck, T. W.; Eisner, A. M.; Flacco, C. J.; Heusch, C. A.; Kroseberg, J.; Lockman, W. S.; Nesom, G.; Schalk, T.; Schumm, B. A.; Seiden, A.; Spradlin, P.; Williams, D. C.; Wilson, M. G.; Albert, J.; Chen, E.; Dubois Felsmann, G. P.; Dvoretskii, A.; Hitlin, D. G.; Narsky, I.; Piatenko, T.; Porter, F. C.; Ryd, A.; Samuel, A.; Andreassen, R.; Jayatilleke, S.; Mancinelli, G.; Meadows, B. T.; Sokoloff, M. D.; Blanc, F.; Bloom, P.; Chen, S.; Ford, W. T.; Hirschauer, J. F.; Kreisel, A.; Nauenberg, U.; Olivas, A.; Rankin, P.; Ruddick, W. O.; Smith, J. G.; Ulmer, K. A.; Wagner, S. R.; Zhang, J.; Chen, A.; Eckhart, E. A.; Soffer, A.; Toki, W. H.; Wilson, R. J.; Zeng, Q.; Altenburg, D.; Feltresi, E.; Hauke, A.; Spaan, B.; Brandt, T.; Brose, J.; Dickopp, M.; Klose, V.; Lacker, H. M.; Nogowski, R.; Otto, S.; Petzold, A.; Schott, G.; Schubert, J.; Schubert, K. R.; Schwierz, R.; Sundermann, J. E.; Bernard, D.; Bonneaud, G. R.; Grenier, P.; Schrenk, S.; Thiebaux, C. h.; Vasileiadis, G.; Verderi, M.; Bard, D. J.; Clark, P. J.; Gradl, W.; Muheim, F.; Playfer, S.; Xie, Y.; Andreotti, M.; Azzolini, V.; Bettoni, D.; Bozzi, C.; Calabrese, R.; Cibinetto, G.; Luppi, E.; Negrini, M.; Piemontese, L.; Anulli, F.; Baldini Ferroli, R.; Calcaterra, A.; De Sangro, R.; Finocchiaro, G.; Patteri, P.; Peruzzi, I. M.; Piccolo, M.; Zallo, A.; Buzzo, A.; Capra, R.; Contri, R.; Vetere, M. Lo; Macri, M.; Monge, M. R.; Passaggio, S.; Patrignani, Claudia; Robutti, E.; Santroni, A.; Tosi, S.; Brandenburg, G.; Chaisanguanthum, K. S.; Morii, M.; Won, E.; Wu, J.; Dubitzky, R. S.; Langenegger, U.; Marks, J.; Schenk, S.; Uwer, U.; Bhimji, W.; Bowerman, D. A.; Dauncey, P. D.; Egede, U.; Flack, R. L.; Gaillard, J. R.; Morton, G. W.; Nash, J. A.; Nikolich, M. B.; Taylor, G. P.; Vazquez, W. P.; Charles, M. J.; Mader, W. F.; Mallik, U.; Mohapatra, A. K.; Cochran, J.; Crawley, H. B.; Eyges, V.; Meyer, W. T.; Prell, S.; Rosenberg, E. I.; Rubin, A. E.; Yi, J.; Arnaud, N.; Davier, M.; Giroux, X.; Grosdidier, G.; Höcker, A.; Diberder, F. Le; Lepeltier, V.; Lutz, A. M.; Oyanguren, A.; Petersen, T. C.; Pierini, M.; Plaszczynski, S.; Rodier, S.; Roudeau, P.; Schune, M. H.; Stocchi, A.; Wormser, G.; Cheng, C. H.; Lange, D. J.; Simani, M. C.; Wright, D. M.; Bevan, A. J.; Chavez, C. A.; Forster, I. J.; Fry, J. R.; Gabathuler, E.; Gamet, R.; George, K. A.; Hutchcroft, D. E.; Parry, R. J.; Payne, D. J.; Schofield, K. C.; Touramanis, C.; Cormack, C. M.; Lodovico, F. Di; Menges, W.; Sacco, R.; Brown, C. L.; Cowan, G.; Flaecher, H. U.; Green, M. G.; Hopkins, D. A.; Jackson, P. S.; Mcmahon, T. R.; Ricciardi, S.; Salvatore, F.; Brown, D.; Davis, C. L.; Allison, J.; Barlow, N. R.; Barlow, R. J.; Edgar, C. L.; Hodgkinson, M. C.; Kelly, M. P.; Lafferty, G. D.; Naisbit, M. T.; Williams, J. C.; Chen, C.; Hulsbergen, W. D.; Jawahery, A.; Kovalskyi, D.; Lae, C. K.; Roberts, D. A.; Simi, G.; Blaylock, G.; Dallapiccola, C.; Hertzbach, S. S.; Kofler, R.; Koptchev, V. B.; Li, X.; Moore, T. B.; Saremi, S.; Staengle, H.; Willocq, S.; Cowan, R.; Koeneke, K.; Sciolla, G.; Sekula, S. J.; Spitznagel, M.; Taylor, F.; Yamamoto, R. K.; Kim, H.; Patel, P. M.; Robertson, S. H.; Lazzaro, A.; Lombardo, V.; Palombo, F.; Bauer, J. M.; Cremaldi, L.; Eschenburg, V.; Godang, R.; Kroeger, R.; Reidy, J.; Sanders, D. A.; Summers, D. J.; Zhao, H. W.; Brunet, S.; Côté, D.; Taras, P.; Viaud, B.; Nicholson, H.; Cavallo, N.; Nardo, G. De; Fabozzi, F.; Gatto, C.; Lista, L.; Monorchio, D.; Paolucci, P.; Piccolo, D.; Sciacca, C.; Baak, M.; Bulten, H.; Raven, G.; Snoek, H. L.; Wilden, L.; Jessop, C. P.; Losecco, J. M.; Allmendinger, T.; Benelli, G.; Gan, K. K.; Honscheid, K.; Hufnagel, D.; Jackson, P. D.; Kagan, H.; Kass, R.; Pulliam, T.; Rahimi, A. M.; Ter Antonyan, R.; Wong, Q. K.; Brau, J.; Frey, R.; Igonkina, O.; Lu, M.; Potter, C. T.; Sinev, N. B.; Strom, D.; Strube, J.; Torrence, E.; Galeazzi, F.; Margoni, M.; Morandin, M.; Posocco, M.; Rotondo, M.; Simonetto, F.; Stroili, R.; Voci, C.; Benayoun, M.; Briand, H.; Chauveau, J.; David, P.; Buono, L. Del; De La Vaissière, C. h.; Hamon, O.; John, M. J. J.; Leruste, P. h.; Malclès, J.; Ocariz, J.; Roos, L.; Therin, G.; Behera, P. K.; Gladney, L.; Guo, Q. H.; Panetta, J.; Biasini, M.; Covarelli, R.; Pacetti, S.; Pioppi, M.; Angelini, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Bucci, F.; Calderini, G.; Carpinelli, M.; Cenci, R.; Forti, F.; Giorgi, M. A.; Lusiani, A.; Marchiori, G.; Morganti, M.; Neri, N.; Paoloni, E.; Rama, M.; Rizzo, G.; Walsh, J.; Haire, M.; Judd, D.; Wagoner, D. E.; Biesiada, J.; Danielson, N.; Elmer, P.; Lau, Y. P.; Lu, C.; Olsen, J.; Smith, A. J. S.; Telnov, A. V.; Bellini, F.; Cavoto, G.; D'Orazio, A.; Marco, E. Di; Faccini, R.; Ferrarotto, F.; Ferroni, F.; Gaspero, M.; Gioi, L. Li; Mazzoni, M. A.; Morganti, S.; Piredda, G.; Polci, F.; Tehrani, F. Safai; Voena, C.; Schröder, H.; Wagner, G.; Waldi, R.; Adye, T.; Groot, N. De; Franek, B.; Gopal, G. P.; Olaiya, E. O.; Wilson, F. F.; Aleksan, R.; Emery, S.; Gaidot, A.; Ganzhur, S. F.; Giraud, P. F.; Graziani, G.; De Monchenault, G. Hamel; Kozanecki, W.; Legendre, M.; London, G. W.; Mayer, B.; Vasseur, G.; Yèche, C. h.; Zito, M.; Purohit, M. V.; Weidemann, A. W.; Wilson, J. R.; Yumiceva, F. X.; Abe, T.; Allen, M. T.; Aston, D.; Van Bakel, N.; Bartoldus, R.; Berger, N.; Boyarski, A. M.; Buchmueller, O. L.; Claus, R.; Coleman, J. P.; Convery, M. R.; Cristinziani, M.; Dingfelder, J. C.; Dong, D.; Dorfan, J.; Dujmic, D.; Dunwoodie, W.; Fan, S.; Field, R. C.; Glanzman, T.; Gowdy, S. J.; Hadig, T.; Halyo, V.; Hast, C.; Hryn'Ova, T.; Innes, W. R.; Kelsey, M. H.; Kim, P.; Kocian, M. L.; Leith, D. W. G. S.; Libby, J.; Luitz, S.; Luth, V.; Lynch, H. L.; Marsiske, H.; Messner, R.; Muller, D. R.; O'Grady, C. P.; Ozcan, V. E.; Perazzo, A.; Perl, M.; Ratcliff, B. N.; Roodman, A.; Salnikov, A. A.; Schindler, R. H.; Schwiening, J.; Snyder, A.; Stelzer, J.; Su, D.; Sullivan, M. K.; Suzuki, K.; Swain, S.; Thompson, J. M.; Va'Vra, J.; Weaver, M.; Wisniewski, W. J.; Wittgen, M.; Wright, D. H.; Yarritu, A. K.; Yi, K.; Young, C. C.; Burchat, P. R.; Edwards, A. J.; Majewski, S. A.; Petersen, B. A.; Roat, C.; Ahmed, M.; Ahmed, S.; Alam, M. S.; Ernst, J. A.; Saeed, M. A.; Wappler, F. R.; Zain, S. B.; Bugg, W.; Krishnamurthy, M.; Spanier, S. M.; Eckmann, R.; Ritchie, J. L.; Satpathy, A.; Schwitters, R. F.; Izen, J. M.; Kitayama, I.; Lou, X. C.; Ye, S.; Bianchi, F.; Bona, M.; Gallo, F.; Gamba, D.; Bomben, M.; Bosisio, L.; Cartaro, C.; Cossutti, F.; Ricca, G. Della; Dittongo, S.; Grancagnolo, S.; Lanceri, L.; Vitale, L.; Martinez Vidal, F.; Panvini, R. S.; Banerjee, S. w.; Bhuyan, B.; Brown, C. M.; Fortin, D.; Hamano, K.; Kowalewski, R.; Roney, J. M.; Sobie, R. J.; Back, J. J.; Harrison, P. F.; Latham, T. E.; Mohanty, G. B.; Band, H. R.; Chen, X.; Cheng, B.; Dasu, S.; Datta, M.; Eichenbaum, A. M.; Flood, K. T.; Graham, M.; Hollar, J. J.; Johnson, J. R.; Kutter, P. E.; Li, H.; Liu, R.; Mellado, B.; Mihalyi, A.; Pan, Y.; Prepost, R.; Tan, P.; Von Wimmersperg Toeller, J. H.; S. L., Wu; Yu, Z.; Neal, H.

doi:10.1103/PhysRevD.73.031101

We analyze the decay B0→KS0π+π- using a sample of 232×106 Υ(4S)→BB̄ decays collected with the BABAR detector at the SLAC PEP-II asymmetric-energy B factory. A maximum likelihood fit finds the following branching fractions: B(B0→K0π+π-)=(43.0±2.3±2.3) ×10-6,B(B0→f0(→π+π-)K0)=(5.5±0.7±0. 5±0.3)×10-6 and B(B0→K*+π-)=(11.0±1. 5±0.5±0.5)×10-6. For these results, the first uncertainty is statistical, the second is systematic, and the third (if present) is due to the effect of interference from other resonances. We also measure the CP-violating charge asymmetry in the decay B0→K*+π-, AK*π=-0. 11±0.14±0.05. © 2006 The American Physical Society.

Aubert, B., Barate, R., Boutigny, D., Couderc, F., Karyotakis, Y., Lees, J., et al. (2006). Measurements of neutral B decay branching fractions to KS0π+π- final states and the charge asymmetry of B0→K*+π-. PHYSICAL REVIEW D, PARTICLES, FIELDS, GRAVITATION, AND COSMOLOGY, 73(3), 1-9 [10.1103/PhysRevD.73.031101].

Measurements of neutral B decay branching fractions to KS0π+π- final states and the charge asymmetry of B0→K*+π-

Aubert, B;Barate, R.;Boutigny, D.;Couderc, F.;Karyotakis, Y.;Lees, J. P.;Poireau, V.;Tisserand, V.;Zghiche, A.;Grauges, E.;Palano, A.;Pappagallo, M.;Pompili, A.;Chen, J. C.;Qi, N. D.;Rong, G.;Wang, P.;Zhu, Y. S.;Eigen, G.;Ofte, I.;Stugu, B.;Abrams, G. S.;Battaglia, M.;Breon, A. B.;Brown, D. N.;Button Shafer, J.;Cahn, R. N.;Charles, E.;Day, C. T.;Gill, M. S.;Gritsan, A. V.;Groysman, Y.;Jacobsen, R. G.;Kadel, R. W.;Kadyk, J.;Kerth, L. T.;Kolomensky, Y.u. G.;Kukartsev, G.;Lynch, G.;Mir, L. M.;Oddone, P. J.;Orimoto, T. J.;Pripstein, M.;Roe, N. A.;Ronan, M. T.;Wenzel, W. A.;Barrett, M.;Ford, K. E.;Harrison, T. J.;Hart, A. J.;Hawkes, C. M.;Morgan, S. E.;Watson, A. T.;Fritsch, M.;Goetzen, K.;Held, T.;Koch, H.;Lewandowski, B.;Pelizaeus, M.;Peters, K.;Schroeder, T.;Steinke, M.;Boyd, J. T.;Burke, J. P.;Chevalier, N.;Cottingham, W. N.;Cuhadar Donszelmann, T.;Fulsom, B. G.;Hearty, C.;Knecht, N. S.;Mattison, T. S.;Mckenna, J. A.;Khan, A.;Kyberd, P.;Saleem, M.;Teodorescu, L.;Blinov, A. E.;Blinov, V. E.;Bukin, A. D.;Druzhinin, V. P.;Golubev, V. B.;Kravchenko, E. A.;Onuchin, A. P.;Serednyakov, S. I.;Skovpen, Y.u. I.;Solodov, E. P.;Yushkov, A. N.;Best, D.;Bondioli, M.;Bruinsma, M.;Chao, M.;Curry, S.;Eschrich, I.;Kirkby, D.;Lankford, A. J.;Lund, P.;Mandelkern, M.;Mommsen, R. K.;Roethel, W.;Stoker, D. P.;Buchanan, C.;Hartfiel, B. L.;Weinstein, A. J. R.;Foulkes, S. D.;Gary, J. W.;Long, O.;Shen, B. C.;Wang, K.;Zhang, L.;Del Re, D.;Hadavand, H. K.;Hill, E. J.;Macfarlane, D. B.;Paar, H. P.;Rahatlou, S.;Sharma, V.;Berryhill, J. W.;Campagnari, C.;Cunha, A.;Dahmes, B.;Hong, T. M.;Mazur, M. A.;Richman, J. D.;Verkerke, W.;Beck, T. W.;Eisner, A. M.;Flacco, C. J.;Heusch, C. A.;Kroseberg, J.;Lockman, W. S.;Nesom, G.;Schalk, T.;Schumm, B. A.;Seiden, A.;Spradlin, P.;Williams, D. C.;Wilson, M. G.;Albert, J.;Chen, E.;Dubois Felsmann, G. P.;Dvoretskii, A.;Hitlin, D. G.;Narsky, I.;Piatenko, T.;Porter, F. C.;Ryd, A.;Samuel, A.;Andreassen, R.;Jayatilleke, S.;Mancinelli, G.;Meadows, B. T.;Sokoloff, M. D.;Blanc, F.;Bloom, P.;Chen, S.;Ford, W. T.;Hirschauer, J. F.;Kreisel, A.;Nauenberg, U.;Olivas, A.;Rankin, P.;Ruddick, W. O.;Smith, J. G.;Ulmer, K. A.;Wagner, S. R.;Zhang, J.;Chen, A.;Eckhart, E. A.;Soffer, A.;Toki, W. H.;Wilson, R. J.;Zeng, Q.;Altenburg, D.;Feltresi, E.;Hauke, A.;Spaan, B.;Brandt, T.;Brose, J.;Dickopp, M.;Klose, V.;Lacker, H. M.;Nogowski, R.;Otto, S.;Petzold, A.;Schott, G.;Schubert, J.;Schubert, K. R.;Schwierz, R.;Sundermann, J. E.;Bernard, D.;Bonneaud, G. R.;Grenier, P.;Schrenk, S.;Thiebaux, C.h.;Vasileiadis, G.;Verderi, M.;Bard, D. J.;Clark, P. J.;Gradl, W.;Muheim, F.;Playfer, S.;Xie, Y.;Andreotti, M.;Azzolini, V.;Bettoni, D.;Bozzi, C.;Calabrese, R.;Cibinetto, G.;Luppi, E.;Negrini, M.;Piemontese, L.;Anulli, F.;Baldini Ferroli, R.;Calcaterra, A.;De Sangro, R.;Finocchiaro, G.;Patteri, P.;Peruzzi, I. M.;Piccolo, M.;Zallo, A.;Buzzo, A.;Capra, R.;Contri, R.;Vetere, M. Lo;Macri, M.;Monge, M. R.;Passaggio, S.;PATRIGNANI, CLAUDIA;Robutti, E.;Santroni, A.;Tosi, S.;Brandenburg, G.;Chaisanguanthum, K. S.;Morii, M.;Won, E.;Wu, J.;Dubitzky, R. S.;Langenegger, U.;Marks, J.;Schenk, S.;Uwer, U.;Bhimji, W.;Bowerman, D. A.;Dauncey, P. D.;Egede, U.;Flack, R. L.;Gaillard, J. R.;Morton, G. W.;Nash, J. A.;Nikolich, M. B.;Taylor, G. P.;Vazquez, W. P.;Charles, M. J.;Mader, W. F.;Mallik, U.;Mohapatra, A. K.;Cochran, J.;Crawley, H. B.;Eyges, V.;Meyer, W. T.;Prell, S.;Rosenberg, E. I.;Rubin, A. E.;Yi, J.;Arnaud, N.;Davier, M.;Giroux, X.;Grosdidier, G.;Höcker, A.;Diberder, F. Le;Lepeltier, V.;Lutz, A. M.;Oyanguren, A.;Petersen, T. C.;Pierini, M.;Plaszczynski, S.;Rodier, S.;Roudeau, P.;Schune, M. H.;Stocchi, A.;Wormser, G.;Cheng, C. H.;Lange, D. J.;Simani, M. C.;Wright, D. M.;Bevan, A. J.;Chavez, C. A.;Forster, I. J.;Fry, J. R.;Gabathuler, E.;Gamet, R.;George, K. A.;Hutchcroft, D. E.;Parry, R. J.;Payne, D. J.;Schofield, K. C.;Touramanis, C.;Cormack, C. M.;Lodovico, F. Di;Menges, W.;Sacco, R.;Brown, C. L.;Cowan, G.;Flaecher, H. U.;Green, M. G.;Hopkins, D. A.;Jackson, P. S.;Mcmahon, T. R.;Ricciardi, S.;Salvatore, F.;Brown, D.;Davis, C. L.;Allison, J.;Barlow, N. R.;Barlow, R. J.;Edgar, C. L.;Hodgkinson, M. C.;Kelly, M. P.;Lafferty, G. D.;Naisbit, M. T.;Williams, J. C.;Chen, C.;Hulsbergen, W. D.;Jawahery, A.;Kovalskyi, D.;Lae, C. K.;Roberts, D. A.;Simi, G.;Blaylock, G.;Dallapiccola, C.;Hertzbach, S. S.;Kofler, R.;Koptchev, V. B.;Li, X.;Moore, T. B.;Saremi, S.;Staengle, H.;Willocq, S.;Cowan, R.;Koeneke, K.;Sciolla, G.;Sekula, S. J.;Spitznagel, M.;Taylor, F.;Yamamoto, R. K.;Kim, H.;Patel, P. M.;Robertson, S. H.;Lazzaro, A.;Lombardo, V.;Palombo, F.;Bauer, J. M.;Cremaldi, L.;Eschenburg, V.;Godang, R.;Kroeger, R.;Reidy, J.;Sanders, D. A.;Summers, D. J.;Zhao, H. W.;Brunet, S.;Côté, D.;Taras, P.;Viaud, B.;Nicholson, H.;Cavallo, N.;Nardo, G. De;Fabozzi, F.;Gatto, C.;Lista, L.;Monorchio, D.;Paolucci, P.;Piccolo, D.;Sciacca, C.;Baak, M.;Bulten, H.;Raven, G.;Snoek, H. L.;Wilden, L.;Jessop, C. P.;Losecco, J. M.;Allmendinger, T.;Benelli, G.;Gan, K. K.;Honscheid, K.;Hufnagel, D.;Jackson, P. D.;Kagan, H.;Kass, R.;Pulliam, T.;Rahimi, A. M.;Ter Antonyan, R.;Wong, Q. K.;Brau, J.;Frey, R.;Igonkina, O.;Lu, M.;Potter, C. T.;Sinev, N. B.;Strom, D.;Strube, J.;Torrence, E.;Galeazzi, F.;Margoni, M.;Morandin, M.;Posocco, M.;Rotondo, M.;Simonetto, F.;Stroili, R.;Voci, C.;Benayoun, M.;Briand, H.;Chauveau, J.;David, P.;Buono, L. Del;De La Vaissière, C.h.;Hamon, O.;John, M. J. J.;Leruste, P.h.;Malclès, J.;Ocariz, J.;Roos, L.;Therin, G.;Behera, P. K.;Gladney, L.;Guo, Q. H.;Panetta, J.;Biasini, M.;Covarelli, R.;Pacetti, S.;Pioppi, M.;Angelini, C.;Batignani, G.;Bettarini, S.;Bucci, F.;Calderini, G.;Carpinelli, M.;Cenci, R.;Forti, F.;Giorgi, M. A.;Lusiani, A.;Marchiori, G.;Morganti, M.;Neri, N.;Paoloni, E.;Rama, M.;Rizzo, G.;Walsh, J.;Haire, M.;Judd, D.;Wagoner, D. E.;Biesiada, J.;Danielson, N.;Elmer, P.;Lau, Y. P.;Lu, C.;Olsen, J.;Smith, A. J. S.;Telnov, A. V.;Bellini, F.;Cavoto, G.;D'Orazio, A.;Marco, E. Di;Faccini, R.;Ferrarotto, F.;Ferroni, F.;Gaspero, M.;Gioi, L. Li;Mazzoni, M. A.;Morganti, S.;Piredda, G.;Polci, F.;Tehrani, F. Safai;Voena, C.;Schröder, H.;Wagner, G.;Waldi, R.;Adye, T.;Groot, N. De;Franek, B.;Gopal, G. P.;Olaiya, E. O.;Wilson, F. F.;Aleksan, R.;Emery, S.;Gaidot, A.;Ganzhur, S. F.;Giraud, P. F.;Graziani, G.;De Monchenault, G. Hamel;Kozanecki, W.;Legendre, M.;London, G. W.;Mayer, B.;Vasseur, G.;Yèche, C.h.;Zito, M.;Purohit, M. V.;Weidemann, A. W.;Wilson, J. R.;Yumiceva, F. X.;Abe, T.;Allen, M. T.;Aston, D.;Van Bakel, N.;Bartoldus, R.;Berger, N.;Boyarski, A. M.;Buchmueller, O. L.;Claus, R.;Coleman, J. P.;Convery, M. R.;Cristinziani, M.;Dingfelder, J. C.;Dong, D.;Dorfan, J.;Dujmic, D.;Dunwoodie, W.;Fan, S.;Field, R. C.;Glanzman, T.;Gowdy, S. J.;Hadig, T.;Halyo, V.;Hast, C.;Hryn'Ova, T.;Innes, W. R.;Kelsey, M. H.;Kim, P.;Kocian, M. L.;Leith, D. W. G. S.;Libby, J.;Luitz, S.;Luth, V.;Lynch, H. L.;Marsiske, H.;Messner, R.;Muller, D. R.;O'Grady, C. P.;Ozcan, V. E.;Perazzo, A.;Perl, M.;Ratcliff, B. N.;Roodman, A.;Salnikov, A. A.;Schindler, R. H.;Schwiening, J.;Snyder, A.;Stelzer, J.;Su, D.;Sullivan, M. K.;Suzuki, K.;Swain, S.;Thompson, J. M.;Va'Vra, J.;Weaver, M.;Wisniewski, W. J.;Wittgen, M.;Wright, D. H.;Yarritu, A. K.;Yi, K.;Young, C. C.;Burchat, P. R.;Edwards, A. J.;Majewski, S. A.;Petersen, B. A.;Roat, C.;Ahmed, M.;Ahmed, S.;Alam, M. S.;Ernst, J. A.;Saeed, M. A.;Wappler, F. R.;Zain, S. B.;Bugg, W.;Krishnamurthy, M.;Spanier, S. M.;Eckmann, R.;Ritchie, J. L.;Satpathy, A.;Schwitters, R. F.;Izen, J. M.;Kitayama, I.;Lou, X. C.;Ye, S.;Bianchi, F.;Bona, M.;Gallo, F.;Gamba, D.;Bomben, M.;Bosisio, L.;Cartaro, C.;Cossutti, F.;Ricca, G. Della;Dittongo, S.;Grancagnolo, S.;Lanceri, L.;Vitale, L.;Martinez Vidal, F.;Panvini, R. S.;Banerjee, S.w.;Bhuyan, B.;Brown, C. M.;Fortin, D.;Hamano, K.;Kowalewski, R.;Roney, J. M.;Sobie, R. J.;Back, J. J.;Harrison, P. F.;Latham, T. E.;Mohanty, G. B.;Band, H. R.;Chen, X.;Cheng, B.;Dasu, S.;Datta, M.;Eichenbaum, A. M.;Flood, K. T.;Graham, M.;Hollar, J. J.;Johnson, J. R.;Kutter, P. E.;Li, H.;Liu, R.;Mellado, B.;Mihalyi, A.;Pan, Y.;Prepost, R.;Tan, P.;Von Wimmersperg Toeller, J. H.;Wu, S. L.;Yu, Z.;Neal, H.

2006

Abstract

We analyze the decay B0→KS0π+π- using a sample of 232×106 Υ(4S)→BB̄ decays collected with the BABAR detector at the SLAC PEP-II asymmetric-energy B factory. A maximum likelihood fit finds the following branching fractions: B(B0→K0π+π-)=(43.0±2.3±2.3) ×10-6,B(B0→f0(→π+π-)K0)=(5.5±0.7±0. 5±0.3)×10-6 and B(B0→K*+π-)=(11.0±1. 5±0.5±0.5)×10-6. For these results, the first uncertainty is statistical, the second is systematic, and the third (if present) is due to the effect of interference from other resonances. We also measure the CP-violating charge asymmetry in the decay B0→K*+π-, AK*π=-0. 11±0.14±0.05. © 2006 The American Physical Society.

Scheda breve

Scheda completa

Scheda completa (DC)

	Anno
	
				2006
			
	Rivista
	
				PHYSICAL REVIEW D, PARTICLES, FIELDS, GRAVITATION, AND COSMOLOGY
			
	Codice DOI
	
				https://dx.doi.org/10.1103/PhysRevD.73.031101
			
	Citazione
	
				Aubert, B., Barate, R., Boutigny, D., Couderc, F., Karyotakis, Y., Lees, J., et al. (2006). Measurements of neutral B decay branching fractions to KS0π+π- final states and the charge asymmetry of B0→K*+π-. PHYSICAL REVIEW D, PARTICLES, FIELDS, GRAVITATION, AND COSMOLOGY, 73(3), 1-9 [10.1103/PhysRevD.73.031101].
			
	Tutti gli autori
	
						Aubert, B; Barate, R.; Boutigny, D.; Couderc, F.; Karyotakis, Y.; Lees, J.P.; Poireau, V.; Tisserand, V.; Zghiche, A.; Grauges, E.; Palano, A.; Pappag...espandi
						
	Appare nelle tipologie:
	
				1.01 Articolo in rivista

File in questo prodotto:

Eventuali allegati, non sono esposti

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11585/551598

Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo

Citazioni

ND

31

27

CRIS Current Research Information System