Measurement of the B±→ρ±π0 branching fraction and direct CP asymmetry

Aubert, B; Bona, M.; Boutigny, D.; Couderc, F.; Karyotakis, Y.; Lees, J. P.; Poireau, V.; Tisserand, V.; Zghiche, A.; Grauges, E.; Palano, A.; Chen, J. C.; N. D., Qi; Rong, G.; Wang, P.; Zhu, Y. S.; Eigen, G.; Ofte, I.; Stugu, B.; Abrams, G. S.; Battaglia, M.; Brown, D. N.; Button Shafer, J.; Cahn, R. N.; Charles, E.; Gill, M. S.; Groysman, Y.; Jacobsen, R. G.; Kadyk, J. A.; Kerth, L. T.; Kolomensky, Y. u. G.; Kukartsev, G.; Lynch, G.; Mir, L. M.; Orimoto, T. J.; Pripstein, M.; Roe, N. A.; Ronan, M. T.; Wenzel, W. A.; Del Amo Sanchez, P.; Barrett, M.; Ford, K. E.; Harrison, T. J.; Hart, A. J.; Hawkes, C. M.; Watson, A. T.; Held, T.; Koch, H.; Lewandowski, B.; Pelizaeus, M.; Peters, K.; Schroeder, T.; Steinke, M.; Boyd, J. T.; Burke, J. P.; Cottingham, W. N.; Walker, D.; Asgeirsson, D. J.; Cuhadar Donszelmann, T.; Fulsom, B. G.; Hearty, C.; Knecht, N. S.; Mattison, T. S.; Mckenna, J. A.; Khan, A.; Kyberd, P.; Saleem, M.; Sherwood, D. J.; Teodorescu, L.; Blinov, V. E.; Bukin, A. D.; Druzhinin, V. P.; Golubev, V. B.; Onuchin, A. P.; Serednyakov, S. I.; Skovpen, Y. u. I.; Solodov, E. P.; Todyshev, K. Yu; Best, D. S.; Bondioli, M.; Bruinsma, M.; Chao, M.; Curry, S.; Eschrich, I.; Kirkby, D.; Lankford, A. J.; Lund, P.; Mandelkern, M.; Roethel, W.; Stoker, D. P.; Abachi, S.; Buchanan, C.; Foulkes, S. D.; Gary, J. W.; Long, O.; Shen, B. C.; Wang, K.; Zhang, L.; Hadavand, H. K.; Hill, E. J.; Paar, H. P.; Rahatlou, S.; Sharma, V.; Berryhill, J. W.; Campagnari, C.; Cunha, A.; Dahmes, B.; Hong, T. M.; Kovalskyi, D.; Richman, J. D.; Beck, T. W.; Eisner, A. M.; Flacco, C. J.; Heusch, C. A.; Kroseberg, J.; Lockman, W. S.; Nesom, G.; Schalk, T.; Schumm, B. A.; Seiden, A.; Spradlin, P.; Williams, D. C.; Wilson, M. G.; Albert, J.; Chen, E.; Cheng, C. H.; Dvoretskii, A.; Fang, F.; Hitlin, D. G.; Narsky, I.; Piatenko, T.; Porter, F. C.; Mancinelli, G.; Meadows, B. T.; Mishra, K.; Sokoloff, M. D.; Blanc, F.; Bloom, P. C.; Chen, S.; Ford, W. T.; Hirschauer, J. F.; Kreisel, A.; Nagel, M.; Nauenberg, U.; Olivas, A.; Ruddick, W. O.; Smith, J. G.; Ulmer, K. A.; Wagner, S. R.; Zhang, J.; Chen, A.; Eckhart, E. A.; Soffer, A.; Toki, W. H.; Wilson, R. J.; Winklmeier, F.; Zeng, Q.; Altenburg, D. D.; Feltresi, E.; Hauke, A.; Jasper, H.; Merkel, J.; Petzold, A.; Spaan, B.; Brandt, T.; Klose, V.; Lacker, H. M.; Mader, W. F.; Nogowski, R.; Schubert, J.; Schubert, K. R.; Schwierz, R.; Sundermann, J. E.; Volk, A.; Bernard, D.; Bonneaud, G. R.; Latour, E.; Thiebaux, C. h.; Verderi, M.; Clark, P. J.; Gradl, W.; Muheim, F.; Playfer, S.; Robertson, A. I.; Xie, Y.; Andreotti, M.; Bettoni, D.; Bozzi, C.; Calabrese, R.; Cibinetto, G.; Luppi, E.; Negrini, M.; Petrella, A.; Piemontese, L.; Prencipe, E.; Anulli, F.; Baldini Ferroli, R.; Calcaterra, A.; De Sangro, R.; Finocchiaro, G.; Pacetti, S.; Patteri, P.; Peruzzi, I. M.; Piccolo, M.; Rama, M.; Zallo, A.; Buzzo, A.; Contri, R.; Lo Vetere, M.; Macri, M. M.; Monge, M. R.; Passaggio, S.; Patrignani, Claudia; Robutti, E.; Santroni, A.; Tosi, S.; Brandenburg, G.; Chaisanguanthum, K. S.; Morii, M.; Wu, J.; Dubitzky, R. S.; Marks, J.; Schenk, S.; Uwer, U.; Bard, D. J.; Bhimji, W.; Bowerman, D. A.; Dauncey, P. D.; Egede, U.; Flack, R. L.; Nash, J. A.; Nikolich, M. B.; Vazquez, W. Panduro; Behera, P. K.; Chai, X.; Charles, M. J.; Mallik, U.; Meyer, N. T.; Ziegler, V.; Cochran, J.; Crawley, H. B.; Dong, L.; Eyges, V.; Meyer, W. T.; Prell, S.; Rosenberg, E. I.; Rubin, A. E.; Gritsan, A. V.; Denig, A. G.; Fritsch, M.; Schott, G.; Arnaud, N.; Davier, M.; Grosdidier, G.; Höcker, A.; Le Diberder, F.; Lepeltier, V.; Lutz, A. M.; Oyanguren, A.; Pruvot, S.; Rodier, S.; Roudeau, P.; Schune, M. H.; Stocchi, A.; Wang, W. F.; Wormser, G.; Lange, D. J.; Wright, D. M.; Chavez, C. A.; Forster, I. J.; Fry, J. R.; Gabathuler, E.; Gamet, R.; George, K. A.; Hutchcroft, D. E.; Payne, D. J.; Schofield, K. C.; Touramanis, C.; Bevan, A. J.; Di Lodovico, F.; Menges, W.; Sacco, R.; Cowan, G.; Flaecher, H. U.; Hopkins, D. A.; Jackson, P. S.; Mcmahon, T. R.; Salvatore, F.; Wren, A. C.; Brown, D. N.; Davis, C. L.; Allison, J.; Barlow, N. R.; Barlow, R. J.; Chia, Y. M.; Edgar, C. L.; Lafferty, G. D.; Naisbit, M. T.; Williams, J. C.; J. I., Yi; Chen, C.; Hulsbergen, W. D.; Jawahery, A.; Lae, C. K.; Roberts, D. A.; Simi, G.; Blaylock, G.; Dallapiccola, C.; Hertzbach, S. S.; Li, X.; Moore, T. B.; Saremi, S.; Staengle, H.; Cowan, R.; Sciolla, G.; Sekula, S. J.; Spitznagel, M.; Taylor, F.; Yamamoto, R. K.; Kim, H.; Mclachlin, S. E.; Patel, P. M.; Robertson, S. H.; Lazzaro, A.; Lombardo, V.; Palombo, F.; Bauer, J. M.; Cremaldi, L.; Eschenburg, V.; Godang, R.; Kroeger, R.; Sanders, D. A.; Summers, D. J.; Zhao, H. W.; Brunet, S.; Côté, D.; Simard, M.; Taras, P.; Viaud, F. B.; Nicholson, H.; Cavallo, N.; De Nardo, G.; Fabozzi, F.; Gatto, C.; Lista, L.; Monorchio, D.; Paolucci, P.; Piccolo, D.; Sciacca, C.; Baak, M. A.; Raven, G.; Snoek, H. L.; Jessop, C. P.; Losecco, J. M.; Benelli, G.; Corwin, L. A.; Gan, K. K.; Honscheid, K.; Hufnagel, D.; Jackson, P. D.; Kagan, H.; Kass, R.; Rahimi, A. M.; Regensburger, J. J.; Ter Antonyan, R.; Wong, Q. K.; Blount, N. L.; Brau, J.; Frey, R.; Igonkina, O.; Kolb, J. A.; Lu, M.; Rahmat, R.; Sinev, N. B.; Strom, D.; Strube, J.; Torrence, E.; Gaz, A.; Margoni, M.; Morandin, M.; Pompili, A.; Posocco, M.; Rotondo, M.; Simonetto, F.; Stroili, R.; Voci, C.; Benayoun, M.; Briand, H.; Chauveau, J.; David, P.; Del Buono, L.; De La Vaissière, C. h.; Hamon, O.; Hartfiel, B. L.; Leruste, P. h.; Malclès, J.; Ocariz, J.; Roos, L.; Therin, G.; Gladney, L.; Biasini, M.; Covarelli, R.; Angelini, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Bucci, F.; Calderini, G.; Carpinelli, M.; Cenci, R.; Forti, F.; Giorgi, M. A.; Lusiani, A.; Marchiori, G.; Mazur, M. A.; Morganti, M.; Neri, N.; Paoloni, E.; Rizzo, G.; Walsh, J. J.; Haire, M.; Judd, D.; Wagoner, D. E.; Biesiada, J.; Danielson, N.; Elmer, P.; Lau, Y. P.; Lu, C.; Olsen, J.; Smith, A. J. S.; Telnov, A. V.; Bellini, F.; Cavoto, G.; D'Orazio, A.; Del Re, D.; Di Marco, E.; Faccini, R.; Ferrarotto, F.; Ferroni, F.; Gaspero, M.; Li Gioi, L.; Mazzoni, M. A.; Morganti, S.; Piredda, G.; Polci, F.; Tehrani, F. Safai; Voena, C.; Ebert, M.; Schröder, H.; Waldi, R.; Adye, T.; Franek, B.; Olaiya, E. O.; Ricciardi, S.; Wilson, F. F.; Aleksan, R.; Emery, S.; Gaidot, A.; Ganzhur, S. F.; De Monchenault, G. Hamel; Kozanecki, W.; Legendre, M.; Vasseur, G.; Yèche, C. h.; Zito, M.; Chen, X. R.; Liu, H.; Park, W.; Purohit, M. V.; Wilson, J. R.; Allen, M. T.; Aston, D.; Bartoldus, R.; Bechtle, P.; Berger, N.; Claus, R.; Coleman, J. P.; Convery, M. R.; Dingfelder, J. C.; Dorfan, J.; Dubois Felsmann, G. P.; Dujmic, D.; Dunwoodie, W.; Field, R. C.; Glanzman, T.; Gowdy, S. J.; Graham, M. T.; Grenier, P.; Halyo, V.; Hast, C.; Hryn'Ova, T.; Innes, W. R.; Kelsey, M. H.; Kim, P.; Leith, D. W. G. S.; Li, S.; Luitz, S.; Luth, V.; Lynch, H. L.; Macfarlane, D. B.; Marsiske, H.; Messner, R.; Muller, D. R.; O'Grady, C. P.; Ozcan, V. E.; Perazzo, A.; Perl, M.; Pulliam, T.; Ratcliff, B. N.; Roodman, A.; Salnikov, A. A.; Schindler, R. H.; Schwiening, J.; Snyder, A.; Stelzer, J.; Su, D.; Sullivan, M. K.; Suzuki, K.; Swain, S. K.; Thompson, J. M.; Va'Vra, J.; Van Bakel, N.; Weaver, M.; Weinstein, A. J. R.; Wisniewski, W. J.; Wittgen, M.; Wright, D. H.; Yarritu, A. K.; Yi, K.; Young, C. C.; Burchat, P. R.; Edwards, A. J.; Majewski, S. A.; Petersen, B. A.; Wilden, L.; Ahmed, S.; Alam, M. S.; Bula, R.; Ernst, J. A.; Jain, V.; Pan, B.; Saeed, M. A.; Wappler, F. R.; Zain, S. B.; Bugg, W.; Krishnamurthy, M.; Spanier, S. M.; Eckmann, R.; Ritchie, J. L.; Satpathy, A.; Schilling, C. J.; Schwitters, R. F.; Izen, J. M.; Lou, X. C.; Ye, S.; Bianchi, F.; Gallo, F.; Gamba, D.; Bomben, M.; Bosisio, L.; Cartaro, C.; Cossutti, F.; Ricca, G. Della; Dittongo, S.; Lanceri, L.; Vitale, L.; Azzolini, V.; Lopez March, N.; Martinez Vidal, F.; Banerjee, S. w.; Bhuyan, B.; Brown, C. M.; Fortin, D.; Hamano, K.; Kowalewski, R.; Nugent, I. M.; Roney, J. M.; Sobie, R. J.; Back, J. J.; Harrison, P. F.; Latham, T. E.; Mohanty, G. B.; Pappagallo, M.; Band, H. R.; Chen, X.; Cheng, B.; Dasu, S.; Datta, M.; Flood, K. T.; Hollar, J. J.; Kutter, P. E.; Mellado, B.; Mihalyi, A.; Pan, Y.; Pierini, M.; Prepost, R.; S. L., Wu; Yu, Z.; Neal, H.

doi:10.1103/PhysRevD.75.091103

We present improved measurements of the branching fraction and CP asymmetry for the process B±→ρ±π0. The data sample corresponding to 211fb-1 comprises 232×106 Υ(4S)→BB̄ decays collected with the BABAR detector at the PEP-II asymmetric B Factory at SLAC. The yield and CP asymmetry are measured using an extended maximum likelihood fitting method. The branching fraction and CP asymmetry are found to be B(B±→ρ±π0)=[10.2±1.4(stat)±0.9(syst)] ×10-6 and ACP(B±→ρ±π0)=-0.01±0.13(stat) ±0.02(syst). © 2007 The American Physical Society.

Aubert, B., Bona, M., Boutigny, D., Couderc, F., Karyotakis, Y., Lees, J., et al. (2007). Measurement of the B±→ρ±π0 branching fraction and direct CP asymmetry. PHYSICAL REVIEW D, PARTICLES, FIELDS, GRAVITATION, AND COSMOLOGY, 75(9), 1-8 [10.1103/PhysRevD.75.091103].

Measurement of the B±→ρ±π0 branching fraction and direct CP asymmetry

Aubert, B;Bona, M.;Boutigny, D.;Couderc, F.;Karyotakis, Y.;Lees, J. P.;Poireau, V.;Tisserand, V.;Zghiche, A.;Grauges, E.;Palano, A.;Chen, J. C.;Qi, N. D.;Rong, G.;Wang, P.;Zhu, Y. S.;Eigen, G.;Ofte, I.;Stugu, B.;Abrams, G. S.;Battaglia, M.;Brown, D. N.;Button Shafer, J.;Cahn, R. N.;Charles, E.;Gill, M. S.;Groysman, Y.;Jacobsen, R. G.;Kadyk, J. A.;Kerth, L. T.;Kolomensky, Y.u. G.;Kukartsev, G.;Lynch, G.;Mir, L. M.;Orimoto, T. J.;Pripstein, M.;Roe, N. A.;Ronan, M. T.;Wenzel, W. A.;Del Amo Sanchez, P.;Barrett, M.;Ford, K. E.;Harrison, T. J.;Hart, A. J.;Hawkes, C. M.;Watson, A. T.;Held, T.;Koch, H.;Lewandowski, B.;Pelizaeus, M.;Peters, K.;Schroeder, T.;Steinke, M.;Boyd, J. T.;Burke, J. P.;Cottingham, W. N.;Walker, D.;Asgeirsson, D. J.;Cuhadar Donszelmann, T.;Fulsom, B. G.;Hearty, C.;Knecht, N. S.;Mattison, T. S.;Mckenna, J. A.;Khan, A.;Kyberd, P.;Saleem, M.;Sherwood, D. J.;Teodorescu, L.;Blinov, V. E.;Bukin, A. D.;Druzhinin, V. P.;Golubev, V. B.;Onuchin, A. P.;Serednyakov, S. I.;Skovpen, Y.u. I.;Solodov, E. P.;Todyshev, K. Yu;Best, D. S.;Bondioli, M.;Bruinsma, M.;Chao, M.;Curry, S.;Eschrich, I.;Kirkby, D.;Lankford, A. J.;Lund, P.;Mandelkern, M.;Roethel, W.;Stoker, D. P.;Abachi, S.;Buchanan, C.;Foulkes, S. D.;Gary, J. W.;Long, O.;Shen, B. C.;Wang, K.;Zhang, L.;Hadavand, H. K.;Hill, E. J.;Paar, H. P.;Rahatlou, S.;Sharma, V.;Berryhill, J. W.;Campagnari, C.;Cunha, A.;Dahmes, B.;Hong, T. M.;Kovalskyi, D.;Richman, J. D.;Beck, T. W.;Eisner, A. M.;Flacco, C. J.;Heusch, C. A.;Kroseberg, J.;Lockman, W. S.;Nesom, G.;Schalk, T.;Schumm, B. A.;Seiden, A.;Spradlin, P.;Williams, D. C.;Wilson, M. G.;Albert, J.;Chen, E.;Cheng, C. H.;Dvoretskii, A.;Fang, F.;Hitlin, D. G.;Narsky, I.;Piatenko, T.;Porter, F. C.;Mancinelli, G.;Meadows, B. T.;Mishra, K.;Sokoloff, M. D.;Blanc, F.;Bloom, P. C.;Chen, S.;Ford, W. T.;Hirschauer, J. F.;Kreisel, A.;Nagel, M.;Nauenberg, U.;Olivas, A.;Ruddick, W. O.;Smith, J. G.;Ulmer, K. A.;Wagner, S. R.;Zhang, J.;Chen, A.;Eckhart, E. A.;Soffer, A.;Toki, W. H.;Wilson, R. J.;Winklmeier, F.;Zeng, Q.;Altenburg, D. D.;Feltresi, E.;Hauke, A.;Jasper, H.;Merkel, J.;Petzold, A.;Spaan, B.;Brandt, T.;Klose, V.;Lacker, H. M.;Mader, W. F.;Nogowski, R.;Schubert, J.;Schubert, K. R.;Schwierz, R.;Sundermann, J. E.;Volk, A.;Bernard, D.;Bonneaud, G. R.;Latour, E.;Thiebaux, C.h.;Verderi, M.;Clark, P. J.;Gradl, W.;Muheim, F.;Playfer, S.;Robertson, A. I.;Xie, Y.;Andreotti, M.;Bettoni, D.;Bozzi, C.;Calabrese, R.;Cibinetto, G.;Luppi, E.;Negrini, M.;Petrella, A.;Piemontese, L.;Prencipe, E.;Anulli, F.;Baldini Ferroli, R.;Calcaterra, A.;De Sangro, R.;Finocchiaro, G.;Pacetti, S.;Patteri, P.;Peruzzi, I. M.;Piccolo, M.;Rama, M.;Zallo, A.;Buzzo, A.;Contri, R.;Lo Vetere, M.;Macri, M. M.;Monge, M. R.;Passaggio, S.;PATRIGNANI, CLAUDIA;Robutti, E.;Santroni, A.;Tosi, S.;Brandenburg, G.;Chaisanguanthum, K. S.;Morii, M.;Wu, J.;Dubitzky, R. S.;Marks, J.;Schenk, S.;Uwer, U.;Bard, D. J.;Bhimji, W.;Bowerman, D. A.;Dauncey, P. D.;Egede, U.;Flack, R. L.;Nash, J. A.;Nikolich, M. B.;Vazquez, W. Panduro;Behera, P. K.;Chai, X.;Charles, M. J.;Mallik, U.;Meyer, N. T.;Ziegler, V.;Cochran, J.;Crawley, H. B.;Dong, L.;Eyges, V.;Meyer, W. T.;Prell, S.;Rosenberg, E. I.;Rubin, A. E.;Gritsan, A. V.;Denig, A. G.;Fritsch, M.;Schott, G.;Arnaud, N.;Davier, M.;Grosdidier, G.;Höcker, A.;Le Diberder, F.;Lepeltier, V.;Lutz, A. M.;Oyanguren, A.;Pruvot, S.;Rodier, S.;Roudeau, P.;Schune, M. H.;Stocchi, A.;Wang, W. F.;Wormser, G.;Lange, D. J.;Wright, D. M.;Chavez, C. A.;Forster, I. J.;Fry, J. R.;Gabathuler, E.;Gamet, R.;George, K. A.;Hutchcroft, D. E.;Payne, D. J.;Schofield, K. C.;Touramanis, C.;Bevan, A. J.;Di Lodovico, F.;Menges, W.;Sacco, R.;Cowan, G.;Flaecher, H. U.;Hopkins, D. A.;Jackson, P. S.;Mcmahon, T. R.;Salvatore, F.;Wren, A. C.;Brown, D. N.;Davis, C. L.;Allison, J.;Barlow, N. R.;Barlow, R. J.;Chia, Y. M.;Edgar, C. L.;Lafferty, G. D.;Naisbit, M. T.;Williams, J. C.;Yi, J. I.;Chen, C.;Hulsbergen, W. D.;Jawahery, A.;Lae, C. K.;Roberts, D. A.;Simi, G.;Blaylock, G.;Dallapiccola, C.;Hertzbach, S. S.;Li, X.;Moore, T. B.;Saremi, S.;Staengle, H.;Cowan, R.;Sciolla, G.;Sekula, S. J.;Spitznagel, M.;Taylor, F.;Yamamoto, R. K.;Kim, H.;Mclachlin, S. E.;Patel, P. M.;Robertson, S. H.;Lazzaro, A.;Lombardo, V.;Palombo, F.;Bauer, J. M.;Cremaldi, L.;Eschenburg, V.;Godang, R.;Kroeger, R.;Sanders, D. A.;Summers, D. J.;Zhao, H. W.;Brunet, S.;Côté, D.;Simard, M.;Taras, P.;Viaud, F. B.;Nicholson, H.;Cavallo, N.;De Nardo, G.;Fabozzi, F.;Gatto, C.;Lista, L.;Monorchio, D.;Paolucci, P.;Piccolo, D.;Sciacca, C.;Baak, M. A.;Raven, G.;Snoek, H. L.;Jessop, C. P.;Losecco, J. M.;Benelli, G.;Corwin, L. A.;Gan, K. K.;Honscheid, K.;Hufnagel, D.;Jackson, P. D.;Kagan, H.;Kass, R.;Rahimi, A. M.;Regensburger, J. J.;Ter Antonyan, R.;Wong, Q. K.;Blount, N. L.;Brau, J.;Frey, R.;Igonkina, O.;Kolb, J. A.;Lu, M.;Rahmat, R.;Sinev, N. B.;Strom, D.;Strube, J.;Torrence, E.;Gaz, A.;Margoni, M.;Morandin, M.;Pompili, A.;Posocco, M.;Rotondo, M.;Simonetto, F.;Stroili, R.;Voci, C.;Benayoun, M.;Briand, H.;Chauveau, J.;David, P.;Del Buono, L.;De La Vaissière, C.h.;Hamon, O.;Hartfiel, B. L.;Leruste, P.h.;Malclès, J.;Ocariz, J.;Roos, L.;Therin, G.;Gladney, L.;Biasini, M.;Covarelli, R.;Angelini, C.;Batignani, G.;Bettarini, S.;Bucci, F.;Calderini, G.;Carpinelli, M.;Cenci, R.;Forti, F.;Giorgi, M. A.;Lusiani, A.;Marchiori, G.;Mazur, M. A.;Morganti, M.;Neri, N.;Paoloni, E.;Rizzo, G.;Walsh, J. J.;Haire, M.;Judd, D.;Wagoner, D. E.;Biesiada, J.;Danielson, N.;Elmer, P.;Lau, Y. P.;Lu, C.;Olsen, J.;Smith, A. J. S.;Telnov, A. V.;Bellini, F.;Cavoto, G.;D'Orazio, A.;Del Re, D.;Di Marco, E.;Faccini, R.;Ferrarotto, F.;Ferroni, F.;Gaspero, M.;Li Gioi, L.;Mazzoni, M. A.;Morganti, S.;Piredda, G.;Polci, F.;Tehrani, F. Safai;Voena, C.;Ebert, M.;Schröder, H.;Waldi, R.;Adye, T.;Franek, B.;Olaiya, E. O.;Ricciardi, S.;Wilson, F. F.;Aleksan, R.;Emery, S.;Gaidot, A.;Ganzhur, S. F.;De Monchenault, G. Hamel;Kozanecki, W.;Legendre, M.;Vasseur, G.;Yèche, C.h.;Zito, M.;Chen, X. R.;Liu, H.;Park, W.;Purohit, M. V.;Wilson, J. R.;Allen, M. T.;Aston, D.;Bartoldus, R.;Bechtle, P.;Berger, N.;Claus, R.;Coleman, J. P.;Convery, M. R.;Dingfelder, J. C.;Dorfan, J.;Dubois Felsmann, G. P.;Dujmic, D.;Dunwoodie, W.;Field, R. C.;Glanzman, T.;Gowdy, S. J.;Graham, M. T.;Grenier, P.;Halyo, V.;Hast, C.;Hryn'Ova, T.;Innes, W. R.;Kelsey, M. H.;Kim, P.;Leith, D. W. G. S.;Li, S.;Luitz, S.;Luth, V.;Lynch, H. L.;Macfarlane, D. B.;Marsiske, H.;Messner, R.;Muller, D. R.;O'Grady, C. P.;Ozcan, V. E.;Perazzo, A.;Perl, M.;Pulliam, T.;Ratcliff, B. N.;Roodman, A.;Salnikov, A. A.;Schindler, R. H.;Schwiening, J.;Snyder, A.;Stelzer, J.;Su, D.;Sullivan, M. K.;Suzuki, K.;Swain, S. K.;Thompson, J. M.;Va'Vra, J.;Van Bakel, N.;Weaver, M.;Weinstein, A. J. R.;Wisniewski, W. J.;Wittgen, M.;Wright, D. H.;Yarritu, A. K.;Yi, K.;Young, C. C.;Burchat, P. R.;Edwards, A. J.;Majewski, S. A.;Petersen, B. A.;Wilden, L.;Ahmed, S.;Alam, M. S.;Bula, R.;Ernst, J. A.;Jain, V.;Pan, B.;Saeed, M. A.;Wappler, F. R.;Zain, S. B.;Bugg, W.;Krishnamurthy, M.;Spanier, S. M.;Eckmann, R.;Ritchie, J. L.;Satpathy, A.;Schilling, C. J.;Schwitters, R. F.;Izen, J. M.;Lou, X. C.;Ye, S.;Bianchi, F.;Gallo, F.;Gamba, D.;Bomben, M.;Bosisio, L.;Cartaro, C.;Cossutti, F.;Ricca, G. Della;Dittongo, S.;Lanceri, L.;Vitale, L.;Azzolini, V.;Lopez March, N.;Martinez Vidal, F.;Banerjee, S.w.;Bhuyan, B.;Brown, C. M.;Fortin, D.;Hamano, K.;Kowalewski, R.;Nugent, I. M.;Roney, J. M.;Sobie, R. J.;Back, J. J.;Harrison, P. F.;Latham, T. E.;Mohanty, G. B.;Pappagallo, M.;Band, H. R.;Chen, X.;Cheng, B.;Dasu, S.;Datta, M.;Flood, K. T.;Hollar, J. J.;Kutter, P. E.;Mellado, B.;Mihalyi, A.;Pan, Y.;Pierini, M.;Prepost, R.;Wu, S. L.;Yu, Z.;Neal, H.

2007

Abstract

We present improved measurements of the branching fraction and CP asymmetry for the process B±→ρ±π0. The data sample corresponding to 211fb-1 comprises 232×106 Υ(4S)→BB̄ decays collected with the BABAR detector at the PEP-II asymmetric B Factory at SLAC. The yield and CP asymmetry are measured using an extended maximum likelihood fitting method. The branching fraction and CP asymmetry are found to be B(B±→ρ±π0)=[10.2±1.4(stat)±0.9(syst)] ×10-6 and ACP(B±→ρ±π0)=-0.01±0.13(stat) ±0.02(syst). © 2007 The American Physical Society.

Scheda breve

Scheda completa

Scheda completa (DC)

	Anno
	
				2007
			
	Rivista
	
				PHYSICAL REVIEW D, PARTICLES, FIELDS, GRAVITATION, AND COSMOLOGY
			
	Codice DOI
	
				https://dx.doi.org/10.1103/PhysRevD.75.091103
			
	Citazione
	
				Aubert, B., Bona, M., Boutigny, D., Couderc, F., Karyotakis, Y., Lees, J., et al. (2007). Measurement of the B±→ρ±π0 branching fraction and direct CP asymmetry. PHYSICAL REVIEW D, PARTICLES, FIELDS, GRAVITATION, AND COSMOLOGY, 75(9), 1-8 [10.1103/PhysRevD.75.091103].
			
	Tutti gli autori
	
						Aubert, B; Bona, M.; Boutigny, D.; Couderc, F.; Karyotakis, Y.; Lees, J.P.; Poireau, V.; Tisserand, V.; Zghiche, A.; Grauges, E.; Palano, A.; Chen, J....espandi
						
	Appare nelle tipologie:
	
				1.01 Articolo in rivista

File in questo prodotto:

Eventuali allegati, non sono esposti

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11585/551248

Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo

Citazioni

ND

15

15

CRIS Current Research Information System