Improved measurement of the CKM angle γ in B →d(*) K(*) decays with a Dalitz plot analysis of D decays to KS0π+π- and KS0K+K-

Aubert, B; Bona, M.; Karyotakis, Y.; Lees, J. P.; Poireau, V.; Prencipe, E.; Prudent, X.; Tisserand, V.; Garra Tico, J.; Grauges, E.; Lopez, L.; Palano, A.; Pappagallo, M.; Eigen, G.; Stugu, B.; Sun, L.; Abrams, G. S.; Battaglia, M.; Brown, D. N.; Button Shafer, J.; Cahn, R. N.; Jacobsen, R. G.; Kadyk, J. A.; Kerth, L. T.; Kolomensky, Y. u. G.; Kukartsev, G.; Lynch, G.; Osipenkov, I. L.; Ronan, M. T.; Tackmann, K.; Tanabe, T.; Wenzel, W. A.; Hawkes, C. M.; Soni, N.; Watson, A. T.; Koch, H.; Schroeder, T.; Walker, D.; Asgeirsson, D. J.; Cuhadar Donszelmann, T.; Fulsom, B. G.; Hearty, C.; Mattison, T. S.; Mckenna, J. A.; Barrett, M.; Khan, A.; Saleem, M.; Teodorescu, L.; Blinov, V. E.; Bukin, A. D.; Buzykaev, A. R.; Druzhinin, V. P.; Golubev, V. B.; Onuchin, A. P.; Serednyakov, S. I.; Skovpen, Y. u. I.; Solodov, E. P.; Todyshev, K. Y. u.; Bondioli, M.; Curry, S.; Eschrich, I.; Kirkby, D.; Lankford, A. J.; Lund, P.; Mandelkern, M.; Martin, E. C.; Stoker, D. P.; Abachi, S.; Buchanan, C.; Gary, J. W.; Liu, F.; Long, O.; Shen, B. C.; Vitug, G. M.; Yasin, Z.; Zhang, L.; Sharma, V.; Campagnari, C.; Hong, T. M.; Kovalskyi, D.; Mazur, M. A.; Richman, J. D.; Beck, T. W.; Eisner, A. M.; Flacco, C. J.; Heusch, C. A.; Kroseberg, J.; Lockman, W. S.; Schalk, T.; Schumm, B. A.; Seiden, A.; Wang, L.; Wilson, M. G.; Winstrom, L. O.; Cheng, C. H.; Doll, D. A.; Echenard, B.; Fang, F.; Hitlin, D. G.; Narsky, I.; Piatenko, T.; Porter, F. C.; Andreassen, R.; Mancinelli, G.; Meadows, B. T.; Mishra, K.; Sokoloff, M. D.; Blanc, F.; Bloom, P. C.; Ford, W. T.; Gaz, A.; Hirschauer, J. F.; Kreisel, A.; Nagel, M.; Nauenberg, U.; Olivas, A.; Smith, J. G.; Ulmer, K. A.; Wagner, S. R.; Ayad, R.; Gabareen, A. M.; Soffer, A.; Toki, W. H.; Wilson, R. J.; Altenburg, D. D.; Feltresi, E.; Hauke, A.; Jasper, H.; Karbach, M.; Merkel, J.; Petzold, A.; Spaan, B.; Wacker, K.; Klose, V.; Kobel, M. J.; Lacker, H. M.; Mader, W. F.; Nogowski, R.; Schubert, K. R.; Schwierz, R.; Sundermann, J. E.; Volk, A.; Bernard, D.; Bonneaud, G. R.; Latour, E.; Thiebaux, C. h.; Verderi, M.; Clark, P. J.; Gradl, W.; Playfer, S.; Watson, J. E.; Andreotti, M.; Bettoni, D.; Bozzi, C.; Calabrese, R.; Cecchi, A.; Cibinetto, G.; Franchini, P.; Luppi, E.; Negrini, M.; Petrella, A.; Piemontese, L.; Santoro, V.; Anulli, F.; Baldini Ferroli, R.; Calcaterra, A.; De Sangro, R.; Finocchiaro, G.; Pacetti, S.; Patteri, P.; Peruzzi, I. M.; Piccolo, M.; Rama, M.; Zallo, A.; Buzzo, A.; Contri, R.; Lo Vetere, M.; Macri, M. M.; Monge, M. R.; Passaggio, S.; Patrignani, Claudia; Robutti, E.; Santroni, A.; Tosi, S.; Chaisanguanthum, K. S.; Morii, M.; Dubitzky, R. S.; Marks, J.; Schenk, S.; Uwer, U.; Bard, D. J.; Dauncey, P. D.; Nash, J. A.; Panduro Vazquez, W.; Tibbetts, M.; Behera, P. K.; Chai, X.; Charles, M. J.; Mallik, U.; Cochran, J.; Crawley, H. B.; Dong, L.; Meyer, W. T.; Prell, S.; Rosenberg, E. I.; Rubin, A. E.; Gao, Y. Y.; Gritsan, A. V.; Guo, Z. J.; Lae, C. K.; Denig, A. G.; Fritsch, M.; Schott, G.; Arnaud, N.; Béquilleux, J.; D'Orazio, A.; Davier, M.; Firmino Da Costa, J.; Grosdidier, G.; Höcker, A.; Lepeltier, V.; Le Diberder, F.; Lutz, A. M.; Pruvot, S.; Roudeau, P.; Schune, M. H.; Serrano, J.; Sordini, V.; Stocchi, A.; Wang, W. F.; Wormser, G.; Lange, D. J.; Wright, D. M.; Bingham, I.; Burke, J. P.; Chavez, C. A.; Fry, J. R.; Gabathuler, E.; Gamet, R.; Hutchcroft, D. E.; Payne, D. J.; Touramanis, C.; Bevan, A. J.; George, K. A.; Di Lodovico, F.; Sacco, R.; Sigamani, M.; Cowan, G.; Flaecher, H. U.; Hopkins, D. A.; Paramesvaran, S.; Salvatore, F.; Wren, A. C.; Brown, D. N.; Davis, C. L.; Alwyn, K. E.; Barlow, N. R.; Barlow, R. J.; Chia, Y. M.; Edgar, C. L.; Lafferty, G. D.; West, T. J.; J. I., Yi; Anderson, J.; Chen, C.; Jawahery, A.; Roberts, D. A.; Simi, G.; Tuggle, J. M.; Dallapiccola, C.; Hertzbach, S. S.; Li, X.; Salvati, E.; Saremi, S.; Cowan, R.; Dujmic, D.; Fisher, P. H.; Koeneke, K.; Sciolla, G.; Spitznagel, M.; Taylor, F.; Yamamoto, R. K.; Zhao, M.; Mclachlin, S. E.; Patel, P. M.; Robertson, S. H.; Lazzaro, A.; Lombardo, V.; Palombo, F.; Bauer, J. M.; Cremaldi, L.; Eschenburg, V.; Godang, R.; Kroeger, R.; Sanders, D. A.; Summers, D. J.; Zhao, H. W.; Brunet, S.; Côté, D.; Simard, M.; Taras, P.; Viaud, F. B.; Nicholson, H.; De Nardo, G.; Lista, L.; Monorchio, D.; Sciacca, C.; Baak, M. A.; Raven, G.; Snoek, H. L.; Jessop, C. P.; Knoepfel, K. J.; Losecco, J. M.; Benelli, G.; Corwin, L. A.; Honscheid, K.; Kagan, H.; Kass, R.; Morris, J. P.; Rahimi, A. M.; Regensburger, J. J.; Sekula, S. J.; Wong, Q. K.; Blount, N. L.; Brau, J.; Frey, R.; Igonkina, O.; Kolb, J. A.; Lu, M.; Rahmat, R.; Sinev, N. B.; Strom, D.; Strube, J.; Torrence, E.; Castelli, G.; Gagliardi, N.; Margoni, M.; Morandin, M.; Posocco, M.; Rotondo, M.; Simonetto, F.; Stroili, R.; Voci, C.; Del Amo Sanchez, P.; Ben Haim, E.; Briand, H.; Calderini, G.; Chauveau, J.; David, P.; Del Buono, L.; Hamon, O.; Leruste, P. h.; Ocariz, J.; Perez, A.; Prendki, J.; Gladney, L.; Biasini, M.; Covarelli, R.; Manoni, E.; Angelini, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Carpinelli, M.; Cervelli, A.; Forti, F.; Giorgi, M. A.; Lusiani, A.; Marchiori, G.; Morganti, M.; Neri, N.; Paoloni, E.; Rizzo, G.; Walsh, J. J.; Biesiada, J.; Lopes Pegna, D.; Lu, C.; Olsen, J.; Smith, A. J. S.; Telnov, A. V.; Baracchini, E.; Cavoto, G.; Del Re, D.; Di Marco, E.; Faccini, R.; Ferrarotto, F.; Ferroni, F.; Gaspero, M.; Jackson, P. D.; Li Gioi, L.; Mazzoni, M. A.; Morganti, S.; Piredda, G.; Polci, F.; Renga, F.; Voena, C.; Ebert, M.; Hartmann, T.; Schröder, H.; Waldi, R.; Adye, T.; Franek, B.; Olaiya, E. O.; Roethel, W.; Wilson, F. F.; Emery, S.; Escalier, M.; Esteve, L.; Gaidot, A.; Ganzhur, S. F.; Hamel De Monchenault, G.; Kozanecki, W.; Vasseur, G.; Yèche, C. h.; Zito, M.; Chen, X. R.; Liu, H.; Park, W.; Purohit, M. V.; White, R. M.; Wilson, J. R.; Allen, M. T.; Aston, D.; Bartoldus, R.; Bechtle, P.; Benitez, J. F.; Cenci, R.; Coleman, J. P.; Convery, M. R.; Dingfelder, J. C.; Dorfan, J.; Dubois Felsmann, G. P.; Dunwoodie, W.; Field, R. C.; Gowdy, S. J.; Graham, M. T.; Grenier, P.; Hast, C.; Innes, W. R.; Kaminski, J.; Kelsey, M. H.; Kim, H.; Kim, P.; Kocian, M. L.; Leith, D. W. G. S.; Li, S.; Lindquist, B.; Luitz, S.; Luth, V.; Lynch, H. L.; Macfarlane, D. B.; Marsiske, H.; Messner, R.; Muller, D. R.; Neal, H.; Nelson, S.; O'Grady, C. P.; Ofte, I.; Perazzo, A.; Perl, M.; Ratcliff, B. N.; Roodman, A.; Salnikov, A. A.; Schindler, R. H.; Schwiening, J.; Snyder, A.; Su, D.; Sullivan, M. K.; Suzuki, K.; Swain, S. K.; Thompson, J. M.; Va'Vra, J.; Wagner, A. P.; Weaver, M.; West, C. A.; Wisniewski, W. J.; Wittgen, M.; Wright, D. H.; Wulsin, H. W.; Yarritu, A. K.; Yi, K.; Young, C. C.; Ziegler, V.; Burchat, P. R.; Edwards, A. J.; Majewski, S. A.; Miyashita, T. S.; Petersen, B. A.; Wilden, L.; Ahmed, S.; Alam, M. S.; Bula, R.; Ernst, J. A.; Pan, B.; Saeed, M. A.; Zain, S. B.; Spanier, S. M.; Wogsland, B. J.; Eckmann, R.; Ritchie, J. L.; Ruland, A. M.; Schilling, C. J.; Schwitters, R. F.; Drummond, B. W.; Izen, J. M.; Lou, X. C.; Ye, S.; Bianchi, F.; Gamba, D.; Pelliccioni, M.; Bomben, M.; Bosisio, L.; Cartaro, C.; Della Ricca, G.; Lanceri, L.; Vitale, L.; Azzolini, V.; Lopez March, N.; Martinez Vidal, F.; Milanes, D. A.; Oyanguren, A.; Albert, J.; Banerjee, S. w.; Bhuyan, B.; Choi, H. H. F.; Hamano, K.; Kowalewski, R.; Lewczuk, M. J.; Nugent, I. M.; Roney, J. M.; Sobie, R. J.; Gershon, T. J.; Harrison, P. F.; Ilic, J.; Latham, T. E.; Mohanty, G. B.; Band, H. R.; Chen, X.; Dasu, S.; Flood, K. T.; Pan, Y.; Pierini, M.; Prepost, R.; Vuosalo, C. O.; S. L., Wu

doi:10.1103/PhysRevD.78.034023

We report on an improved measurement of the Cabibbo-Kobayashi-Maskawa CP-violating phase γ through a Dalitz plot analysis of neutral D meson decays to KS0π+π- and KS0K+K- produced in the processes B →DK, B →D*K with D*→Dπ0, Dγ, and B →DK* with K* →KS0π. Using a sample of 383×106 BB̄ pairs collected by the BABAR detector, we measure γ=(76±22±5±5)° (mod 180°), where the first error is statistical, the second is the experimental systematic uncertainty, and the third reflects the uncertainty on the description of the Dalitz plot distributions. The corresponding 2-standard-deviation region is 29°<γ<122°. This result has a significance of direct CP violation (γ ≠0) of 3.0 standard deviations. © 2008 The American Physical Society.

Aubert, B., Bona, M., Karyotakis, Y., Lees, J., Poireau, V., Prencipe, E., et al. (2008). Improved measurement of the CKM angle γ in B →d(*) K(*) decays with a Dalitz plot analysis of D decays to KS0π+π- and KS0K+K-. PHYSICAL REVIEW D, PARTICLES, FIELDS, GRAVITATION, AND COSMOLOGY, 78(3), 1-23 [10.1103/PhysRevD.78.034023].

Improved measurement of the CKM angle γ in B →d() K() decays with a Dalitz plot analysis of D decays to KS0π+π- and KS0K+K-

Aubert, B;Bona, M.;Karyotakis, Y.;Lees, J. P.;Poireau, V.;Prencipe, E.;Prudent, X.;Tisserand, V.;Garra Tico, J.;Grauges, E.;Lopez, L.;Palano, A.;Pappagallo, M.;Eigen, G.;Stugu, B.;Sun, L.;Abrams, G. S.;Battaglia, M.;Brown, D. N.;Button Shafer, J.;Cahn, R. N.;Jacobsen, R. G.;Kadyk, J. A.;Kerth, L. T.;Kolomensky, Y.u. G.;Kukartsev, G.;Lynch, G.;Osipenkov, I. L.;Ronan, M. T.;Tackmann, K.;Tanabe, T.;Wenzel, W. A.;Hawkes, C. M.;Soni, N.;Watson, A. T.;Koch, H.;Schroeder, T.;Walker, D.;Asgeirsson, D. J.;Cuhadar Donszelmann, T.;Fulsom, B. G.;Hearty, C.;Mattison, T. S.;Mckenna, J. A.;Barrett, M.;Khan, A.;Saleem, M.;Teodorescu, L.;Blinov, V. E.;Bukin, A. D.;Buzykaev, A. R.;Druzhinin, V. P.;Golubev, V. B.;Onuchin, A. P.;Serednyakov, S. I.;Skovpen, Y.u. I.;Solodov, E. P.;Todyshev, K. Y.u.;Bondioli, M.;Curry, S.;Eschrich, I.;Kirkby, D.;Lankford, A. J.;Lund, P.;Mandelkern, M.;Martin, E. C.;Stoker, D. P.;Abachi, S.;Buchanan, C.;Gary, J. W.;Liu, F.;Long, O.;Shen, B. C.;Vitug, G. M.;Yasin, Z.;Zhang, L.;Sharma, V.;Campagnari, C.;Hong, T. M.;Kovalskyi, D.;Mazur, M. A.;Richman, J. D.;Beck, T. W.;Eisner, A. M.;Flacco, C. J.;Heusch, C. A.;Kroseberg, J.;Lockman, W. S.;Schalk, T.;Schumm, B. A.;Seiden, A.;Wang, L.;Wilson, M. G.;Winstrom, L. O.;Cheng, C. H.;Doll, D. A.;Echenard, B.;Fang, F.;Hitlin, D. G.;Narsky, I.;Piatenko, T.;Porter, F. C.;Andreassen, R.;Mancinelli, G.;Meadows, B. T.;Mishra, K.;Sokoloff, M. D.;Blanc, F.;Bloom, P. C.;Ford, W. T.;Gaz, A.;Hirschauer, J. F.;Kreisel, A.;Nagel, M.;Nauenberg, U.;Olivas, A.;Smith, J. G.;Ulmer, K. A.;Wagner, S. R.;Ayad, R.;Gabareen, A. M.;Soffer, A.;Toki, W. H.;Wilson, R. J.;Altenburg, D. D.;Feltresi, E.;Hauke, A.;Jasper, H.;Karbach, M.;Merkel, J.;Petzold, A.;Spaan, B.;Wacker, K.;Klose, V.;Kobel, M. J.;Lacker, H. M.;Mader, W. F.;Nogowski, R.;Schubert, K. R.;Schwierz, R.;Sundermann, J. E.;Volk, A.;Bernard, D.;Bonneaud, G. R.;Latour, E.;Thiebaux, C.h.;Verderi, M.;Clark, P. J.;Gradl, W.;Playfer, S.;Watson, J. E.;Andreotti, M.;Bettoni, D.;Bozzi, C.;Calabrese, R.;Cecchi, A.;Cibinetto, G.;Franchini, P.;Luppi, E.;Negrini, M.;Petrella, A.;Piemontese, L.;Santoro, V.;Anulli, F.;Baldini Ferroli, R.;Calcaterra, A.;De Sangro, R.;Finocchiaro, G.;Pacetti, S.;Patteri, P.;Peruzzi, I. M.;Piccolo, M.;Rama, M.;Zallo, A.;Buzzo, A.;Contri, R.;Lo Vetere, M.;Macri, M. M.;Monge, M. R.;Passaggio, S.;PATRIGNANI, CLAUDIA;Robutti, E.;Santroni, A.;Tosi, S.;Chaisanguanthum, K. S.;Morii, M.;Dubitzky, R. S.;Marks, J.;Schenk, S.;Uwer, U.;Bard, D. J.;Dauncey, P. D.;Nash, J. A.;Panduro Vazquez, W.;Tibbetts, M.;Behera, P. K.;Chai, X.;Charles, M. J.;Mallik, U.;Cochran, J.;Crawley, H. B.;Dong, L.;Meyer, W. T.;Prell, S.;Rosenberg, E. I.;Rubin, A. E.;Gao, Y. Y.;Gritsan, A. V.;Guo, Z. J.;Lae, C. K.;Denig, A. G.;Fritsch, M.;Schott, G.;Arnaud, N.;Béquilleux, J.;D'Orazio, A.;Davier, M.;Firmino Da Costa, J.;Grosdidier, G.;Höcker, A.;Lepeltier, V.;Le Diberder, F.;Lutz, A. M.;Pruvot, S.;Roudeau, P.;Schune, M. H.;Serrano, J.;Sordini, V.;Stocchi, A.;Wang, W. F.;Wormser, G.;Lange, D. J.;Wright, D. M.;Bingham, I.;Burke, J. P.;Chavez, C. A.;Fry, J. R.;Gabathuler, E.;Gamet, R.;Hutchcroft, D. E.;Payne, D. J.;Touramanis, C.;Bevan, A. J.;George, K. A.;Di Lodovico, F.;Sacco, R.;Sigamani, M.;Cowan, G.;Flaecher, H. U.;Hopkins, D. A.;Paramesvaran, S.;Salvatore, F.;Wren, A. C.;Brown, D. N.;Davis, C. L.;Alwyn, K. E.;Barlow, N. R.;Barlow, R. J.;Chia, Y. M.;Edgar, C. L.;Lafferty, G. D.;West, T. J.;Yi, J. I.;Anderson, J.;Chen, C.;Jawahery, A.;Roberts, D. A.;Simi, G.;Tuggle, J. M.;Dallapiccola, C.;Hertzbach, S. S.;Li, X.;Salvati, E.;Saremi, S.;Cowan, R.;Dujmic, D.;Fisher, P. H.;Koeneke, K.;Sciolla, G.;Spitznagel, M.;Taylor, F.;Yamamoto, R. K.;Zhao, M.;Mclachlin, S. E.;Patel, P. M.;Robertson, S. H.;Lazzaro, A.;Lombardo, V.;Palombo, F.;Bauer, J. M.;Cremaldi, L.;Eschenburg, V.;Godang, R.;Kroeger, R.;Sanders, D. A.;Summers, D. J.;Zhao, H. W.;Brunet, S.;Côté, D.;Simard, M.;Taras, P.;Viaud, F. B.;Nicholson, H.;De Nardo, G.;Lista, L.;Monorchio, D.;Sciacca, C.;Baak, M. A.;Raven, G.;Snoek, H. L.;Jessop, C. P.;Knoepfel, K. J.;Losecco, J. M.;Benelli, G.;Corwin, L. A.;Honscheid, K.;Kagan, H.;Kass, R.;Morris, J. P.;Rahimi, A. M.;Regensburger, J. J.;Sekula, S. J.;Wong, Q. K.;Blount, N. L.;Brau, J.;Frey, R.;Igonkina, O.;Kolb, J. A.;Lu, M.;Rahmat, R.;Sinev, N. B.;Strom, D.;Strube, J.;Torrence, E.;Castelli, G.;Gagliardi, N.;Margoni, M.;Morandin, M.;Posocco, M.;Rotondo, M.;Simonetto, F.;Stroili, R.;Voci, C.;Del Amo Sanchez, P.;Ben Haim, E.;Briand, H.;Calderini, G.;Chauveau, J.;David, P.;Del Buono, L.;Hamon, O.;Leruste, P.h.;Ocariz, J.;Perez, A.;Prendki, J.;Gladney, L.;Biasini, M.;Covarelli, R.;Manoni, E.;Angelini, C.;Batignani, G.;Bettarini, S.;Carpinelli, M.;Cervelli, A.;Forti, F.;Giorgi, M. A.;Lusiani, A.;Marchiori, G.;Morganti, M.;Neri, N.;Paoloni, E.;Rizzo, G.;Walsh, J. J.;Biesiada, J.;Lopes Pegna, D.;Lu, C.;Olsen, J.;Smith, A. J. S.;Telnov, A. V.;Baracchini, E.;Cavoto, G.;Del Re, D.;Di Marco, E.;Faccini, R.;Ferrarotto, F.;Ferroni, F.;Gaspero, M.;Jackson, P. D.;Li Gioi, L.;Mazzoni, M. A.;Morganti, S.;Piredda, G.;Polci, F.;Renga, F.;Voena, C.;Ebert, M.;Hartmann, T.;Schröder, H.;Waldi, R.;Adye, T.;Franek, B.;Olaiya, E. O.;Roethel, W.;Wilson, F. F.;Emery, S.;Escalier, M.;Esteve, L.;Gaidot, A.;Ganzhur, S. F.;Hamel De Monchenault, G.;Kozanecki, W.;Vasseur, G.;Yèche, C.h.;Zito, M.;Chen, X. R.;Liu, H.;Park, W.;Purohit, M. V.;White, R. M.;Wilson, J. R.;Allen, M. T.;Aston, D.;Bartoldus, R.;Bechtle, P.;Benitez, J. F.;Cenci, R.;Coleman, J. P.;Convery, M. R.;Dingfelder, J. C.;Dorfan, J.;Dubois Felsmann, G. P.;Dunwoodie, W.;Field, R. C.;Gowdy, S. J.;Graham, M. T.;Grenier, P.;Hast, C.;Innes, W. R.;Kaminski, J.;Kelsey, M. H.;Kim, H.;Kim, P.;Kocian, M. L.;Leith, D. W. G. S.;Li, S.;Lindquist, B.;Luitz, S.;Luth, V.;Lynch, H. L.;Macfarlane, D. B.;Marsiske, H.;Messner, R.;Muller, D. R.;Neal, H.;Nelson, S.;O'Grady, C. P.;Ofte, I.;Perazzo, A.;Perl, M.;Ratcliff, B. N.;Roodman, A.;Salnikov, A. A.;Schindler, R. H.;Schwiening, J.;Snyder, A.;Su, D.;Sullivan, M. K.;Suzuki, K.;Swain, S. K.;Thompson, J. M.;Va'Vra, J.;Wagner, A. P.;Weaver, M.;West, C. A.;Wisniewski, W. J.;Wittgen, M.;Wright, D. H.;Wulsin, H. W.;Yarritu, A. K.;Yi, K.;Young, C. C.;Ziegler, V.;Burchat, P. R.;Edwards, A. J.;Majewski, S. A.;Miyashita, T. S.;Petersen, B. A.;Wilden, L.;Ahmed, S.;Alam, M. S.;Bula, R.;Ernst, J. A.;Pan, B.;Saeed, M. A.;Zain, S. B.;Spanier, S. M.;Wogsland, B. J.;Eckmann, R.;Ritchie, J. L.;Ruland, A. M.;Schilling, C. J.;Schwitters, R. F.;Drummond, B. W.;Izen, J. M.;Lou, X. C.;Ye, S.;Bianchi, F.;Gamba, D.;Pelliccioni, M.;Bomben, M.;Bosisio, L.;Cartaro, C.;Della Ricca, G.;Lanceri, L.;Vitale, L.;Azzolini, V.;Lopez March, N.;Martinez Vidal, F.;Milanes, D. A.;Oyanguren, A.;Albert, J.;Banerjee, S.w.;Bhuyan, B.;Choi, H. H. F.;Hamano, K.;Kowalewski, R.;Lewczuk, M. J.;Nugent, I. M.;Roney, J. M.;Sobie, R. J.;Gershon, T. J.;Harrison, P. F.;Ilic, J.;Latham, T. E.;Mohanty, G. B.;Band, H. R.;Chen, X.;Dasu, S.;Flood, K. T.;Pan, Y.;Pierini, M.;Prepost, R.;Vuosalo, C. O.;Wu, S. L.

2008

Abstract

We report on an improved measurement of the Cabibbo-Kobayashi-Maskawa CP-violating phase γ through a Dalitz plot analysis of neutral D meson decays to KS0π+π- and KS0K+K- produced in the processes B →DK, B →D*K with D*→Dπ0, Dγ, and B →DK* with K* →KS0π. Using a sample of 383×106 BB̄ pairs collected by the BABAR detector, we measure γ=(76±22±5±5)° (mod 180°), where the first error is statistical, the second is the experimental systematic uncertainty, and the third reflects the uncertainty on the description of the Dalitz plot distributions. The corresponding 2-standard-deviation region is 29°<γ<122°. This result has a significance of direct CP violation (γ ≠0) of 3.0 standard deviations. © 2008 The American Physical Society.

Scheda breve

Scheda completa

Scheda completa (DC)

	Anno
	
				2008
			
	Rivista
	
				PHYSICAL REVIEW D, PARTICLES, FIELDS, GRAVITATION, AND COSMOLOGY
			
	Codice DOI
	
				https://dx.doi.org/10.1103/PhysRevD.78.034023
			
	Citazione
	
				Aubert, B., Bona, M., Karyotakis, Y., Lees, J., Poireau, V., Prencipe, E., et al. (2008). Improved measurement of the CKM angle γ in B →d(*) K(*) decays with a Dalitz plot analysis of D decays to KS0π+π- and KS0K+K-. PHYSICAL REVIEW D, PARTICLES, FIELDS, GRAVITATION, AND COSMOLOGY, 78(3), 1-23 [10.1103/PhysRevD.78.034023].
			
	Tutti gli autori
	
						Aubert, B; Bona, M.; Karyotakis, Y.; Lees, J.P.; Poireau, V.; Prencipe, E.; Prudent, X.; Tisserand, V.; Garra Tico, J.; Grauges, E.; Lopez, L.; Palano...espandi
						
	Appare nelle tipologie:
	
				1.01 Articolo in rivista

File in questo prodotto:

Eventuali allegati, non sono esposti

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11585/548192

Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo

Citazioni

ND

153

91

CRIS Current Research Information System