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Gibiino, G.P., Cignani, R., Niessen, D., Schreurs, D., Santarelli, A., Filicori, F. (2014). Thermal characterization of nonlinear charge trapping effects in GaN-FETs. IEEE Computer Society [10.1109/INMMIC.2014.6815103].

Thermal characterization of nonlinear charge trapping effects in GaN-FETs

GIBIINO, GIAN PIERO;CIGNANI, RAFAEL;NIESSEN, DANIEL;SANTARELLI, ALBERTO;FILICORI, FABIO
2014
2014
International Workshop on Integrated Nonlinear Microwave and Millimetre-Wave Circuits, INMMiC 2014
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Gibiino, G.P., Cignani, R., Niessen, D., Schreurs, D., Santarelli, A., Filicori, F. (2014). Thermal characterization of nonlinear charge trapping effects in GaN-FETs. IEEE Computer Society [10.1109/INMMIC.2014.6815103].
Gibiino, Gian Piero; Cignani, Rafael; Niessen, Daniel; Schreurs, Dominique; Santarelli, Alberto; Filicori, Fabio
4.01 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11585/525833
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