R. Aitken, H. Ito, C.Metra, N. Park (2005). Proceeding of 20th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems.. LOS ALAMITOS : IEEE.
Proceeding of 20th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems.
METRA, CECILIA;
2005
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