Euclid. VI. NISP-P optical ghosts

Paterson, K.; Schirmer, M.; Okumura, K.; Venemans, B.; Jahnke, K.; Aghanim, N.; Altieri, B.; Amara, A.; Andreon, S.; Baccigalupi, C.; Baldi, M.; Balestra, A.; Bardelli, S.; Battaglia, P.; Biviano, A.; Bonchi, A.; Branchini, E.; Brescia, M.; Brinchmann, J.; Camera, S.; Ca??as-Herrera, G.; Capobianco, V.; Carretero, J.; Casas, S.; Castellano, M.; Castignani, G.; Cavuoti, S.; Chambers, K. C.; Cimatti, A.; Colodro-Conde, C.; Congedo, G.; Conselice, C. J.; Conversi, L.; Copin, Y.; Courbin, F.; Courtois, H. M.; Da Silva, A.; Da Silva, R.; Degaudenzi, H.; De Lucia, G.; Di Giorgio, A. M.; Dinis, J.; Dole, H.; Dubath, F.; Dupac, X.; Dusini, S.; Ealet, A.; Escoffier, S.; Farina, M.; Farinelli, R.; Faustini, F.; Ferriol, S.; Finelli, F.; Fotopoulou, S.; Fourmanoit, N.; Frailis, M.; Franceschi, E.; Franzetti, P.; Galeotta, S.; George, K.; Gillard, W.; Gillis, B.; Giocoli, C.; Gracia-Carpio, J.; Granett, B. R.; Grazian, A.; Grupp, F.; Guzzo, L.; Haugan, S. V. H.; Hoekstra, H.; Holmes, W.; Hormuth, F.; Hornstrup, A.; Hudelot, P.; Jhabvala, M.; Keih??nen, E.; Kermiche, S.; Kiessling, A.; Kohley, R.; Kubik, B.; K??mmel, M.; Kunz, M.; Kurki-Suonio, H.; Le Brun, A. M. C.; Le Mignant, D.; Ligori, S.; Lilje, P. B.; Lindholm, V.; Lloro, I.; Mainetti, G.; Maino, D.; Maiorano, E.; Mansutti, O.; Marcin, S.; Marggraf, O.; Markovic, K.; Martinelli, M.; Martinet, N.; Marulli, F.; Massey, R.; Mccracken, H. J.; Medinaceli, E.; Mei, S.; Meneghetti, M.; Merlin, E.; Meylan, G.; Mora, A.; Moresco, M.; Moscardini, L.; Nakajima, R.; Neissner, C.; Nichol, R. C.; Niemi, S. -M.; Nightingale, J. W.; Padilla, C.; Paltani, S.; Pasian, F.; Pedersen, K.; Percival, W. J.; Pettorino, V.; Pires, S.; Polenta, G.; Poncet, M.; Popa, L. A.; Pozzetti, L.; Raison, F.; Rebolo, R.; Renzi, A.; Rhodes, J.; Riccio, G.; Romelli, E.; Roncarelli, M.; Rossetti, E.; Saglia, R.; Sakr, Z.; S??nchez, A. G.; Sapone, D.; Sartoris, B.; Schewtschenko, J. A.; Schneider, P.; Schrabback, T.; Secroun, A.; Sefusatti, E.; Seidel, G.; Seiffert, M.; Serrano, S.; Simon, P.; Sirignano, C.; Sirri, G.; Stanco, L.; Steinwagner, J.; Tallada-Cresp??, P.; Tavagnacco, D.; Taylor, A. N.; Tereno, I.; Toft, S.; Toledo-Moreo, R.; Torradeflot, F.; Tutusaus, I.; Valenziano, L.; Valiviita, J.; Vassallo, T.; Verdoes Kleijn, G.; Veropalumbo, A.; Wang, Y.; Weller, J.; Zacchei, A.; Zamorani, G.; Zinchenko, I. A.; Zucca, E.; Allevato, V.; Ballardini, M.; Bolzonella, M.; Bozzo, E.; Burigana, C.; Cabanac, R.; Calabrese, M.; Casenove, P.; Di Ferdinando, D.; Escartin Vigo, J. A.; Gabarra, L.; Matthew, S.; Mauri, N.; Metcalf, R. B.; Nucita, A. A.; Pezzotta, A.; P??ntinen, M.; Porciani, C.; Scottez, V.; Tenti, M.; Viel, M.; Wiesmann, M.; Akrami, Y.; Andika, I. T.; Anselmi, S.; Archidiacono, M.; Atrio-Barandela, F.; Bertacca, D.; Bethermin, M.; Blanchard, A.; Blot, L.; Borgani, S.; Brown, M. L.; Bruton, S.; Calabro, A.; Cappi, A.; Caro, F.; Carvalho, C. S.; Castro, T.; Chary, R.; Cogato, F.; Conseil, S.; Cooray, A. R.; Cucciati, O.; Davini, S.; De Paolis, F.; Desprez, G.; D??az-S??nchez, A.; Di Domizio, S.; Diego, J. M.; Dimauro, P.; Enia, A.; Fang, Y.; Ferguson, A. M. N.; Ferrari, A. G.; Finoguenov, A.; Franco, A.; Ganga, K.; Garc??a-Bellido, J.; Gasparetto, T.; Gautard, V.; Gaztanaga, E.; Giacomini, F.; Gianotti, F.; Gozaliasl, G.; Gregorio, A.; Guidi, M.; Gutierrez, C. M.; Hall, A.; Hartley, W. G.; Hemmati, S.; Hern??ndez-Monteagudo, C.; Hildebrandt, H.; Hjorth, J.; Kajava, J. J. E.; Kang, Y.; Kansal, V.; Karagiannis, D.; Kiiveri, K.; Kirkpatrick, C. C.; Kruk, S.; Le Graet, J.; Legrand, L.; Lembo, M.; Lepori, F.; Leroy, G.; Lesgourgues, J.; Leuzzi, L.; Liaudat, T. I.; Liu, S. J.; Loureiro, A.; Macias-Perez, J.; Maggio, G.; Magliocchetti, M.; Mannucci, F.; Maoli, R.; Mart??n-Fleitas, J.; Martins, C. J. A. P.; Maurin, L.; Miluzio, M.; Monaco, P.; Montoro, A.; Moretti, C.; Morgante, G.; Nadathur, S.; Naidoo, K.; Natoli, P.; Navarro-Alsina, A.; Nesseris, S.; Passalacqua, F.; Patrizii, L.; Pisani, A.; Potter, D.; Quai, S.; Radovich, M.; Reimberg, P.; Risso, I.; Sacquegna, S.; Sahl??n, M.; Sarpa, E.; Schneider, A.; Schultheis, M.; Sciotti, D.; Sellentin, E.; Sereno, M.; Shulevski, A.; Smith, L. C.; Stadel, J.; Tanidis, K.; Tao, C.; Testera, G.; Teyssier, R.; Tosi, S.; Troja, A.; Tucci, M.; Valieri, C.; Venhola, A.; Vergani, D.; Verza, G.; Vielzeuf, P.; Walton, N. A.

doi:10.1051/0004-6361/202555106

The Near-Infrared Spectrometer and Photometer (NISP) on board Euclid includes several optical elements in its path that introduce artefacts into the data from non-nominal light paths. To ensure uncontaminated source photometry, these artefacts must be accurately accounted for. This paper focuses on two specific optical features in NISP's photometric data (NISP-P): ghosts caused by the telescope's dichroic beamsplitter, and the bandpass filters within the NISP fore-optics. Both ghost types exhibit a characteristic morphology and are offset from the originating stars. The offsets are well modelled using 2D polynomials; only stars brighter than approximately 10 magnitudes in each filter produce significant ghost contributions. The masking radii for these ghosts depend on both the source-star brightness and the filter wavelength, ranging from 20 to 40 pixels. We present the final relations and models used in the near-infrared (NIR) processing function (PF) to mask these ghosts for Euclid's Quick Data Release (Q1).

Paterson, K., Schirmer, M., Okumura, K., Venemans, B., Jahnke, K., Aghanim, N., et al. (2026). Euclid. VI. NISP-P optical ghosts. ASTRONOMY & ASTROPHYSICS, 707, 1-13 [10.1051/0004-6361/202555106].